G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 2

Интерферометрическое измерительное устройство

Загрузка...

Номер патента: U 8490

Опубликовано: 30.08.2012

Авторы: Ракуш Владимир Валентинович, Ермолович Жанна Федоровна, Михайлов Юрий Тимофеевич, Прудникова Татьяна Петровна

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: интерферометрическое, устройство, измерительное

Текст:

...6, отражатель 7 с отверстием 8, рассеивающий элемент 9 с отверстием 10. Двухлучевой интерферометр 1 выполнен по схеме Майкельсона и включает светоделитель 11 в виде плоского полупрозрачного зеркала и два плоских отражающих зеркала 12 и 13, расположенных под прямым углом друг к другу и примерно симметрично относительно светоделителя 11. Зеркало 12 закреплено неподвижно, а зеркало 13 установлено на микрометрическом винте 14 с возможностью...

Устройство для определения изгиба артиллерийского ствола

Загрузка...

Номер патента: 16137

Опубликовано: 30.08.2012

Авторы: Цуркан Виктория Леонидовна, Конев Иван Леонидович, Столярчук Анатолий Александрович, Хюппенен Виктор Петрович, Сычев Игорь Витальевич, Анохина Людмила Васильевна, Штыцко Олег Анатольевич

МПК: G01B 11/00, F41A 31/02

Метки: определения, артиллерийского, ствола, изгиба, устройство

Текст:

...объектив отражателя 1, предназначенные для размещения на конце ствола 2, и оптически сопряженный с ними измерительный блок 3, предназначенный для размещения в начале ствола 2. Измерительный блок 3 содержит объектив 7 и фотоприемник 8, образующие приемный канал, а также оптическую марку 5, установленную между излучателем 4 и светоделителем 6. Излучатель 4 и оптическая марка 5 образуют формирователь светового пучка. Светоделитель 6 сопрягает...

Устройство для определения линейных размеров

Загрузка...

Номер патента: U 8367

Опубликовано: 30.06.2012

Авторы: Соколовский Дмитрий Александрович, Савёлов Игорь Николаевич

МПК: G01B 3/18

Метки: устройство, размеров, определения, линейных

Текст:

...измерительным щупом, при этом внутренняя перегородка имеет окна для электрического соединения разъемов и плат. Недостатками прототипа являются сложность конструкции, недостаточная точность измерения линейных размеров, малый диапазон измерения, плохая мобильность. Задача, решаемая полезной моделью, заключается в упрощении конструкции устройства и проведения измерительных режимов, повышении точности измерения линейных размеров, увеличении...

Датчик для измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 8343

Опубликовано: 30.06.2012

Авторы: Рудницкий Валерий Аркадьевич, Гнутенко Егор Владимирович, Протасеня Татьяна Анатольевна, Крень Александр Петрович

МПК: G01B 7/06

Метки: толщины, основании, ферромагнитном, измерения, покрытий, датчик, немагнитных

Текст:

...толщине покрытия. Недостатками устройства являются низкие чувствительность и точность. Технической задачей полезной модели является повышение чувствительности и точности. Сущность полезной модели заключается в том, что она содержит стержневой постоянный магнит со сферическими наконечниками, корпус, содержащий встречно включенные катушки индуктивности, охватывающие постоянный магнит и имеющие возможность совершать колебания вдоль его...

Микроскоп

Загрузка...

Номер патента: U 8137

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Ракуш Владимир Валентинович, Михайлов Юрий Тимофеевич, Ступкина Оксана Васильевна

МПК: G02B 21/00, G01B 9/04

Метки: микроскоп

Текст:

...фильтра, расположенного на оптической оси микроскопа между первым фильтром и матричным фотоприемником, выполнение при этом второго фильтра в виде второй плоскопараллельной пластины, имеющей пропускание вдоль нормали к ее плоскопараллельным рабочим поверхностям более или равное 0,4 в диапазоне длин волн 550-700 нм и менее 0,01 в диапазоне длин волн менее 500 нм, и выбор излучающего диода со спектральным составом излучения с коротковолновой...

Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на магнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 8141

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Ярмолович Вячеслав Алексеевич, Анищик Виктор Михайлович

МПК: G01N 27/72, G01R 33/12, G01B 7/06...

Метки: толщины, устройство, магнитном, покрытий, основании, измерения, немагнитных

Текст:

...состоящий из немагнитного корпуса, в котором размещены постоянный магнит, а также термистор, сенсор Холла и катушка с витками,электрически подсоединенные к измерительному прибору. Оно отличается тем, что постоянный магнит выполнен из материала с высокой удельной магнитной энергией в форме кольца, в котором по оси симметрии размещен цилиндрический сердечник из армко-железа с заостренным наконечником, выполненным в форме усеченного конуса с...

Устройство для определения отклонения поверхности от образующей

Загрузка...

Номер патента: U 8170

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Рыжевич Анатолий Анатольевич, Солоневич Сергей Васильевич, Лепарский Владимир Евгеньевич, Мащенко Александр Георгиевич, Ропот Петр Иосифович

МПК: G01B 9/02

Метки: образующей, определения, устройство, отклонения, поверхности

Текст:

...объекта направляющей с установленной на нее с возможностью контролируемого поступательного перемещения вдоль направляющей юстируемой платформой, на которой укреплены юстируемый держатель -камеры и юстируемый держатель источника лазерного излучения, генерирующего тонкий световой пучок с гаусссовым распределением интенсивности в поперечном сечении, падающий на исследуемый объект под острым углом к его образующей таким образом, что...

Интерферометрический способ определения угла клиновидности прозрачной пластины

Загрузка...

Номер патента: 15822

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Ляликов Александр Михайлович, Буть Андрей Иванович

МПК: G01B 11/26, G01J 9/02

Метки: прозрачной, угла, определения, клиновидности, способ, пластины, интерферометрический

Текст:

...для реализации заявляемого способа, а на последующих фигурах схематически изображены контуры световых волн (окружность) и исследуемой пластины (ромб) после освещения исследуемой пластины световой волной (фиг. 2) и при формировании первого и второго изображений исследуемой пластины за счет бокового сдвига интерферирующих разделенных волн. Устройство для реализации заявляемого способа содержит когерентный источник света 1, например...

Способ получения интерференционных картин для определения термооптических характеристик прозрачного объекта

Загрузка...

Номер патента: 15759

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Буть Андрей Иванович, Ляликов Александр Михайлович

МПК: G01B 9/021, G01B 9/027, G01N 21/71...

Метки: картин, характеристик, получения, определения, способ, термооптических, интерференционных, объекта, прозрачного

Текст:

...фильтрации дифрагированных на опорной голограмме 12 пучков света, при получении на экране 13 интерференционной картины. Оптическая система пространственной фильтрации выполнена в виде объектива 14 и непрозрачной диафрагмы 15. Интерферометр образован оптическими элементами 4, 5 и 6. Приспособление термического воздействия служит для создания определенной температуры в объекте 9. Регулирование температуры реализуется электрическим...

Устройство для измерения деформации шкворня тягово-сцепного устройства седельного автопоезда

Загрузка...

Номер патента: 15383

Опубликовано: 28.02.2012

Авторы: Корсаков Владимир Владимирович, Ким Валерий Андреевич, Скойбеда Анатолий Тихонович, Сазонов Игорь Сергеевич, Бочкарев Геннадий Владимирович, Леневский Геннадий Сергеевич, Василевский Валерий Иванович, Пекарь Николай Федорович, Мальцев Николай Григорьевич

МПК: G01B 7/14, G01L 1/12, G01B 7/24...

Метки: устройство, шкворня, автопоезда, устройства, тягово-сцепного, седельного, деформации, измерения

Текст:

...для измерения деформаций шкворня тягово-сцепного устройства седельного автопоезда, согласно изобретению,включает четыре электромагнитных модуля-излучателя, установленные равномерно по окружности на полом шкворне, четыре электромагнитных модуля - приемника сигналов 2 15383 1 2012.02.28 от электромагнитных модулей-излучателей, расположенных равномерно по окружности на опорной плите тягово-сцепного устройства и включенных по...

Толщиномер никелевых покрытий

Загрузка...

Номер патента: U 8035

Опубликовано: 28.02.2012

Авторы: Анищик Виктор Михайлович, Ярмолович Вячеслав Алексеевич

МПК: G01N 27/90, G01B 7/06

Метки: толщиномер, никелевых, покрытий

Текст:

...компенсации. Он отличается тем, что в измерительный преобразователь введены еще , где 4,идентичных датчиков Холла, размещенных в непосредственной близости от никелевого покрытия, и коммутатор аналоговых сигналов датчиков Холла, а постоянный магнит выполнен в виде кольца цилиндрической формы, в котором по оси симметрии с радиальным зазором размещен магнитомягкий стержень, выполненный в форме усеченного конуса,имеющий одинаковую с магнитом...

Толщиномер немагнитных покрытий на ферромагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 7987

Опубликовано: 28.02.2012

Авторы: Рудницкий Валерий Аркадьевич, Гнутенко Егор Владимирович, Протасеня Татьяна Анатольевна, Крень Александр Петрович

МПК: G01B 7/06

Метки: основании, немагнитных, покрытий, ферромагнитном, толщиномер

Текст:

...закрепленным в нем цилиндрическим постоянным магнитом со сферическим наконечником, генератор крутильных колебаний,размещенный в корпусе, блок регистрации, содержащий встречно включенные катушки индуктивности, охватывающие постоянный магнит и имеющие возможность совершать угловые колебания относительно его геометрического центра, жесткий стержень, соединяющий блок регистрации с генератором крутильных колебаний, блок обработки сигнала,основными...

Рентгеновский способ определения шероховатости поверхности из монокристаллов алмаза

Загрузка...

Номер патента: 15447

Опубликовано: 28.02.2012

Авторы: Шаронов Геннадий Викторович, Петров Сергей Александрович

МПК: G01B 15/08

Метки: способ, алмаза, монокристаллов, определения, поверхности, шероховатости, рентгеновский

Текст:

...на рентгеновской установке УРС 60 с использованием гониометра ГУР-5 и -излучения. Монохроматором служит пластина совершенного кристалла кремния с косым срезом относительно ее отражающей плоскости (111), что позволяет получить практически параллельный пучок. Последнее снижает вклад расходимости пучка в полуширину кривой отражения, и сводит к минимуму инструментальную ошибку при измерениях, и тем самым увеличивает точность определения полуширины...

Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 7830

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Гнутенко Егор Владимирович, Рудницкий Валерий Аркадьевич, Крень Александр Петрович, Протасеня Татьяна Анатольевна

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытий, устройство, основании, толщины, немагнитных, измерения, ферромагнитном

Текст:

...контактной жесткости стыкового соединения балки,образованной стержнем и магнитом, с ферромагнитным изделием, от продольной силы магнитного притяжения, которая обратно пропорциональна толщине немагнитного покрытия. Недостатками устройства являются низкие точность и воспроизводимость измерений,связанные с наличием субъективной оценки величины требуемого поджатия при перемещении штатива, необходимость использования номограмм, а также...

Визуаскоп

Загрузка...

Номер патента: U 7789

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Патук Елена Михайловна, Бондарев Олег Юрьевич, Потапкин Вадим Вадимович, Марков Алексей Петрович, Марукович Евгений Игнатьевич

МПК: G01B 9/00

Метки: визуаскоп

Текст:

...устройства и оператор действуют в одном режиме, независимо от видимости и наличия сомнительных зон. Все это сказывается на восприимчивости и оперативности дефектоскопии, также позодвигательная усталость и субъективность восприятия снижают достоверность и производительность оперативного контроля поверхностей отливок и проката. Наиболее близким по технической сущности к заявляемому визуаскопу является управляемое устройство...

Волоконно-оптический векторный датчик изгиба

Загрузка...

Номер патента: U 7714

Опубликовано: 30.10.2011

Авторы: Залесский Валерий Борисович, Рябцев Виталий Николаевич, Гончаренко Игорь Андреевич, Конойко Алексей Иванович

МПК: G01B 11/00, G01N 21/00, G02B 6/00...

Метки: датчик, волоконно-оптический, векторный, изгиба

Текст:

...2, которые являются входами соответственно первого 3, второго 4 и третьего 5 -образных разветвителей, первые выходы которых оптически связаны соответственно с первой 6, второй 7 и третьей 8 волоконно-оптическими брэгговскими решетками, электрически связанными с блоком управляющего напряжения 9, а вторые выходы являются соответственно первым, вторым и третьим выходами управляемого спектрального фильтра 2, которые оптически связаны...

Автоколлимационная зрительная труба

Загрузка...

Номер патента: U 7655

Опубликовано: 30.10.2011

Авторы: Зайцев Максим Владимирович, Тареев Анатолий Михайлович, Плаксицкий Евгений Валерьевич

МПК: G01B 11/26

Метки: труба, зрительная, автоколлимационная

Текст:

...плоскости объектива, а также зеркало, расположенное на оси проекционной системы, отражающая поверхность которого обращена к призме-куб, в отличии от прототипа, введен оптический компенсатор, расположенный между проекционной системой и светоделительной призмой-куб с возможностью перемещения в двух взаимно ортогональных направлениях, перпендикулярных оси проекционной системы. Оптический компенсатор может быть выполнен в виде одиночной...

Устройство для бесконтактного определения линейных проекционных размеров объекта

Загрузка...

Номер патента: U 7600

Опубликовано: 30.10.2011

Авторы: Кулаженко Елена Леонидовна, Довыденкова Вера Петровна

МПК: A41H 1/02, G01B 9/00

Метки: бесконтактного, устройство, проекционных, объекта, линейных, размеров, определения

Текст:

...любого объекта, в том числе и фигуры человека. Поставленная задача решается за счет того, что при использовании существенных признаков, характеризующих известное устройство для бесконтактного определения линейных проекционных размеров объекта, которое включает установочную платформу с фиксированным центром и измерительный блок, в соответствии с полезной моделью установочная платформа выполнена в виде неподвижного круга и вращающейся...

Устройство и способ измерения прогиба удлиненного тела

Загрузка...

Номер патента: 14649

Опубликовано: 30.08.2011

Авторы: СТЕНЛУНД, Петер, ВИКЛУНД, Ларс

МПК: G01B 5/20, G01M 5/00

Метки: прогиба, тела, устройство, измерения, удлиненного, способ

Текст:

...балку, снабженную продольным пазом, в котором перемещается измерительный элемент. В этой связи дополнительное преимущество достигается в том случае, если блок привода для перемещения измерительного элемента содержит двигатель и зубчато-ременную передачу. В соответствии с другим вариантом реализации преимущество достигается в том случае, если блок привода для перемещения измерительного элемента содержит электродвигатель, имеющий датчики...

Лазерный измеритель перемещений

Загрузка...

Номер патента: U 7556

Опубликовано: 30.08.2011

Авторы: Щемелёв Максим Анатольевич, Тепляшин Леонид Леонидович, Машко Василий Вячеславович, Костик Олег Естафьевич

МПК: G01B 11/00, G01B 9/00

Метки: измеритель, лазерный, перемещений

Текст:

...на корпусе лазера. С противоположной стороны корпуса лазера закреплен изменяющий длину резонатора пьезоэлемент, на котором закреплен эталон Фабри-Перо,выполняющий также роль внутрирезонаторного фазового элемента при его механической деформации в направлении, перпендикулярном оси резонатора, а его внешняя отражающая поверхность использована в качестве выходного подвижного частично прозрачного зеркала резонатора. На эталоне Фабри-Перо...

Прибор для измерения шероховатости

Загрузка...

Номер патента: U 7321

Опубликовано: 30.06.2011

Авторы: Жолобов Александр Алексеевич, Волченков Александр Владимирович, Логвин Владимир Александрович, Логвина Екатерина Владимировна

МПК: G01B 7/00

Метки: прибор, шероховатости, измерения

Текст:

...во время сканирования поверхности имеет возможность контролировать датчик текущего положения. Датчик имеет возможность поворота на 180 в горизонтальной плоскости относительно базирующей призмы. Для полного анализа состояния любой поверхности необходимо иметь представление о ее шероховатости, волнистости в любой ее части. Особенно это актуально при анализе деталей, имеющих большие габариты, или при исследованиях участков поверхности деталей...

Способ определения толщины слоя полимера на подложке

Загрузка...

Номер патента: 14575

Опубликовано: 30.06.2011

Авторы: Третинников Олег Николаевич, Никоненко Наталия Анатольевна

МПК: G01B 11/06

Метки: полимера, слоя, толщины, подложке, способ, определения

Текст:

...собой ПЭТ-подложку с нанесенным на нее тонким слоем ПС. Для 2 14575 1 2011.06.30 наглядности спектры смещены друг относительно друга по оси ординат. Звездочкойотмечены полосы поглощения ПЭТ-подложки. Предлагаемый способ состоит в следующем. Интенсивность полосы поглощения образца в его ИК-спектре НПВО описывается соотношением 521 где 0 - амплитуда падающего света- угол отражения 212/1 - отношение показателей преломления образца и...

Способ контроля качества поверхности изделия, в частности, полупроводниковой пластины и/или структуры

Загрузка...

Номер патента: 14195

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Емельянов Виктор Андреевич, Емельянов Антон Викторович

МПК: G01B 11/30, G01N 21/88, H01L 21/66...

Метки: пластины, структуры, частности, качества, способ, контроля, изделия, поверхности, полупроводниковой

Текст:

...дефектного участка поверхности превращается в точку) в области между экраном и держателем образцов, что значительно затрудняет идентификацию этих дефектов. Заявляемое изобретение поясняется чертежами, где на фиг. 1 приведена схема осуществления контроля, а на фиг. 2-6 приведены светотеневые изображения поверхностей полупроводниковых пластин и структур, полученные с помощью прототипа (а) и заявляемого способа (б). Свет от точечного источника...

Устройство для контроля качества поверхности изделия, в частности, полупроводниковой пластины и/или структуры

Загрузка...

Номер патента: 14194

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Емельянов Виктор Андреевич, Емельянов Антон Викторович

МПК: G01N 21/88, G01B 9/00, G01B 11/30...

Метки: контроля, изделия, устройство, пластины, полупроводниковой, структуры, частности, качества, поверхности

Текст:

...где на фиг. 1 приведена схема заявляемого устройства, а на фиг. 2-6 приведены светотеневые изображения поверхностей полупроводниковых пластин и структур, полученные с помощью прототипа (а) и заявляемого устройства (б). Заявляемое устройство содержит точечный источник оптического излучения 1, держатель образцов 2, выполненный в виде кольцевой опоры, внутри которой создается разрежение за счет подключения к вакуумной магистрали или насосу...

Способ видеоскопирования поверхности и видеоскоп адаптивный

Загрузка...

Номер патента: 14336

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Сергеев Сергей Сергеевич, Иванов Александр Владимирович, Потапкин Вадим Вадимович, Марков Алексей Петрович, Коннов Владимир Владимирович, Марукович Евгений Игнатьевич

МПК: G01N 21/88, G01B 11/00, G01B 9/00...

Метки: видеоскоп, способ, адаптивный, поверхности, видеоскопирования

Текст:

...блоком обработки информации и видеоприемник 3, С. 31, рис. 3 б, в. Недостатком данного устройства (видеокроулера) является большое энергопотребление при ограниченных восприимчивости и чувствительности, что снижает достоверность и производительность видеоскопирования путем панорамного обзора с пространственно разделенными излучателями и видеоприемником 3, С. 31, рис. 3 б, в. Единой технической задачей, на решение которой направлено настоящее...

Способ комплексного измерения характеристик точности зубчатой передачи в сборе

Загрузка...

Номер патента: 14207

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Пашкевич Виктор Михайлович, Ерофеев Анатолий Павлович, Пашкевич Михаил Федорович, Тюков Анатолий Владимирович, Забелин Дмитрий Александрович

МПК: G01B 5/20, G01M 13/02

Метки: зубчатой, точности, измерения, передачи, характеристик, комплексного, способ, сборе

Текст:

...колебания вала в пределах его свободного хода, и фиксируют сигнал преобразователя также и во время указанного воздействия на ведомый вал, рассчитывают значения функции кинематической погрешности и по этим значениям определяют среднее значение бокового зазора как среднюю величину ординат скачков этой функции, соответствующих угловым колебаниям вала, затем из зафиксированной числовой последовательности удаляют массив данных, соответствующий...

Способ аттестации координатной системы установки литографии

Загрузка...

Номер патента: 14141

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Есьман Василий Михайлович, Борисевич Виктория Стефановна, Пушкина Татьяна Владимировна, Корнелюк Александр Иванович

МПК: G03F 9/00, G01B 11/03

Метки: координатной, системы, способ, установки, аттестации, литографии

Текст:

...первой пластины на координатный стол, формирование на ней знаков аттестации без коррекции координатного стола, измерение координат сформированных знаков при поворотах пластины на множество углов,расчет функции коррекции с учетом измеренных координат и ввод рассчитанной функции коррекции в систему управления координатной системой установки. После этого на координатный стол устанавливают вторую пластину, формируют на ней знаки аттестации,...

Лазерная диагностическая система

Загрузка...

Номер патента: U 7264

Опубликовано: 30.04.2011

Автор: Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01B 9/00, A61B 5/05

Метки: система, лазерная, диагностическая

Текст:

...На фигуре представлена функциональная схема лазерной диагностической системы. Устройство содержит блок управления длиной волны излучения лазера 1, двухволновой источник лазерного излучения 2, волоконно-оптический световод 3, нелинейный кристалл 4,контролируемый объект 5, матрицу фотоприемников 6. В качестве двухволнового источника лазерного излучения 2 использован лазерный диод с асимметричной квантоворазмерной гетероструктурой 3. Активная...

Толщиномер

Загрузка...

Номер патента: U 7211

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Рудницкий Валерий Аркадьевич, Протасеня Татьяна Анатольевна, Крень Александр Петрович, Гнутенко Егор Владимирович

МПК: G01B 7/02

Метки: толщиномер

Текст:

...толщины покрытия показания, соответствующие длине растяжения пружины, переводятся в микрометры с помощью номограмм, прилагаемых к толщиномеру. Недостатками прибора являются низкие точность и воспроизводительность контроля, связанные с наличием субъективной оценки момента отрыва магнита, необходимость использования номограмм, а также полностью механический принцип действия, приводящий к износу элементов конструкции и, как следствие, к...

Устройство для интерферометрического контроля толщины тонких покрытий оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: U 7258

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Васильев Руслан Юрьевич, Шепелевич Василий Васильевич, Горбач Елена Анатольевна, Ропот Алексей Петрович, Ропот Петр Иосифович

МПК: G01B 11/06

Метки: контроля, покрытий, тонких, устройство, толщины, оптических, элементов, интерферометрического

Текст:

...крайне сложно. Влияние вибраций можно существенно снизить, выполнив ряд условий. Для этого в первую очередь следует подобрать период интерференционной картины , намного больший средней амплитуды вибраций производственных машин (А), т.е. . Далее, для устранения влияния низкочастотной составляющей при регистрации интерференционной картиныкамерой следует выбрать малое время экспозиции , так чтобы 1/, где- частота основной высокочастотной...

Устройство для контроля лазерного дальномера

Загрузка...

Номер патента: U 7193

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Мазаник Галина Николаевна, Тареев Анатолий Михайлович, Зайцева Елена Ивановна, Бауло Леонид Петрович, Прудникова Татьяна Петровна, Бондаренко Михаил Михайлович

МПК: G02B 27/62, G01B 11/26

Метки: лазерного, контроля, дальномера, устройство

Текст:

...всего объектива, а одного из его компонентов, повысить эксплуатационные характеристики за счет возможности оперативной выверки устройства с помощью оптического компенсатора и применения элементов подсветки с низким энергопотреблением, повысить ресурс за счет использования в качестве элементов подсветки светодиодов, срок службы которых значительно превышает срок службы лампы накаливания, используемой в прототипе,улучшить эргономические...

Стенд для измерения длины окружности днищ крупногабаритных цилиндрических изделий

Загрузка...

Номер патента: U 7145

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Моторин Артур Николаевич, Малюсейко Виктор Миронович, Вьюнник Николай Васильевич

МПК: G01B 7/02, B61D 5/00, B65D 88/00...

Метки: измерения, длины, изделий, крупногабаритных, стенд, днищ, цилиндрических, окружности

Текст:

...операций. Выполнение измерительного устройства с возможностью возвратно-поступательного перемещения относительно платформы также позволяет уменьшить трудоемкость и продолжительность этих операций. Выполнение измерительного устройства с обкатным роликом и соединенным с мерным роликом преобразователем его вращательного движения в цифровые импульсы, выполненным в виде энкодера, в значительной степени снижает зависимость от качества...

Виброустойчивый интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 14118

Опубликовано: 28.02.2011

Авторы: Седнёв Роман Геннадьевич, Конойко Алексей Иванович, Поликанин Александр Михайлович, Малевич Николай Александрович

МПК: G02B 27/42, G01B 9/02, G01B 11/00...

Метки: интерферометр, виброустойчивый

Текст:

...0 - начальное смещение друг относительно друга первого 6 и второго 7 отражателей. В обратном ходе они объединяются на выходе светоделителя 3 и интерферируют между собой, что приводит вследствие наличия оптической разности хода 20 к изменению поляризации излучения, которое, пройдя фазовый модулятор 2, поступает на анализатор поляризации излучения 1. Анализатор поляризации излучения 1 направляет излучение, поляризованное в вертикальной...

Бесконтактный датчик углового положения

Загрузка...

Номер патента: U 7033

Опубликовано: 28.02.2011

Авторы: Качан Василий Викторович, Бельчик Леонид Демьянович, Грозный Владимир Алексеевич, Строк Евгений Яковлевич, Клюев Александр Илларионович

МПК: G01B 7/14

Метки: бесконтактный, датчик, углового, положения

Текст:

...магнита относительно оси, проходящей между концентраторами, происходит перераспределение магнитного потока внутри магнитной системы,величина которого измеряется элементами Холла. Недостатками известного датчика являются низкая помехозащищенность из-за разомкнутой магнитной системы, нетехнологичность изготовления и сборки при относительно больших габаритных размерах. Задачей настоящей полезной модели является повышение помехоустойчивости к...

Устройство для измерения толщины уха и лапы лабораторного животного

Загрузка...

Номер патента: U 7084

Опубликовано: 28.02.2011

Авторы: Ушков Сергей Александрович, Шевляков Виталий Васильевич, Эрм Галина Ивановна

МПК: G01B 3/00, A61D 99/00

Метки: животного, измерения, толщины, уха, лапы, устройство, лабораторного

Текст:

...соответствующей стандартной для эпикутанных алллергологических проб, и стабильного низкого измерительного усилия пружинного механизма обратного хода измерительного стержня (1,5 ) упрощение и объективизация регистрации результатов измерения за счет считывания информации по стрелке индикатора на циферблатных шкалах устройства и возможности быстрой проверки и корректировки постоянства показаний установкой нулевого значения на шкалах ускорение...

Устройство для контроля качества уплотнения неукрепленных зернистых минеральных материалов

Загрузка...

Номер патента: U 7051

Опубликовано: 28.02.2011

Авторы: Шумчик Виктор Касперович, Барановский Александр Николаевич, Смыковский Андрей Иванович

МПК: G01B 3/00, E01C 7/00

Метки: устройство, неукрепленных, контроля, минеральных, качества, зернистых, уплотнения, материалов

Текст:

...и шкалы и применяемый для определения уклона кровель 2. Недостатком данного прибора является малая надежность при достижении цели, так как гарантии того, что прибор данной конструкции позволит получить требуемые значения в полевых дорожных условиях, нет. Задачей настоящей полезной модели является повышение достоверности и снижение трудоемкости получения требуемых данных. Решение поставленной задачи достигается тем, что устройство для...

Устройство для получения количественных характеристик дефектов поверхности изделий

Загрузка...

Номер патента: 13857

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Сякерский Валентин Степанович, Сенько Сергей Федорович, Белоус Анатолий Иванович

МПК: H01L 21/66, G01N 21/88, G01B 11/30...

Метки: количественных, изделий, получения, дефектов, характеристик, устройство, поверхности

Текст:

...содержащее точечный источник оптического излучения, держатель изделий и экран, содержит расположенную между источником излучения и держателем изделий координатную сетку, а также тем, что в качестве координатной сетки используют фотошаблон топологических структур полупроводниковых приборов. Сущность заявляемого технического решения заключается в формировании на контролируемой поверхности светотеневой координатной сетки, искажение...

Способ контроля качества поверхности изделий

Загрузка...

Номер патента: 13856

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Сякерский Валентин Степанович, Белоус Анатолий Иванович, Сенько Сергей Федорович

МПК: G01N 21/88, G01B 11/30, H01L 21/66...

Метки: способ, изделий, контроля, поверхности, качества

Текст:

...в качестве координатной сетки. Формирование координатной сетки более дешевыми способами, например трафаретной печатью, как правило, повреждает поверхность полупроводниковых пластин. Поэтому их использование также ограничено. Таким образом, недостатки прототипа связаны с высокой трудоемкостью контроля,обусловленной как большим количеством технологических операций по приготовлению образцов для контроля, так и сложностью этих операций....

Конусомер

Загрузка...

Номер патента: U 6802

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Русецкая Инесса Викторовна, Лукашенко Виктор Афанасьевич

МПК: G01B 3/18

Метки: конусомер

Текст:

...плоскости шарика, по которой аттестован шарик, что приводит к дополнительной погрешности измерения невозможно выполнять измерения, если плоскость, от которой измеряют положение шариков, не обработана или расположена под углом к оси отверстия. Задачей полезной модели является повышение точности измерения конусов и упрощение конструкции инструмента. Поставленная задача достигается тем, что в конусомере, состоящем из двух тел вращения разных...

Способ определения линейного перемещения объекта и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 13603

Опубликовано: 30.10.2010

Авторы: Данилевский Сергей Леонидович, Данилевский Леонид Николаевич, Зайцев Александр Иванович, Таурогинский Бронислав Иванович

МПК: G01B 9/00

Метки: способ, объекта, перемещения, определения, осуществления, устройство, линейного

Текст:

...- -го и -го, далее абсолютную величину перемещенияопределяют по формуле(2)1/(1/1( ,а направление перемещения - по знаку результата. В случае, если диапазон перемещений превышает размер отражающего элемента вдоль координаты , устанавливают матрицу из двух параллельных рядов отражающих элементов с экспоненциальной формой отражающей поверхности, т.е. ширина их отражающей поверхности изменяется в зависимости от координатыв направлении...