Патенты с меткой «интерферометрического»

Номер патента: U 10048

Опубликовано: 30.04.2014

Автор: Ляликов Александр Михайлович

МПК: G01B 9/02

Метки: контроля, интерферометрического, устройство, клиновидной, пластины, измерительного

Текст:

...создание устройства, обеспечивающего достижение технического результата, заключающегося в повышении быстродействия устройства при осуществлении измерительного контроля. Сущность полезной модели заключается в том, что известное устройство для интерферометрического измерительного контроля клиновидной пластины, включающее когерентный источник света с оптической системой формирования коллимированного зондирующего светового пучка, интерферометр с...

Номер патента: 15915

Опубликовано: 30.06.2012

Автор: Ляликов Александр Михайлович

МПК: G01N 21/958, G01N 21/45

Метки: элемента, типа, пропускающего, способ, структурой, интерферометрического, контроля, оптического, периодической

Текст:

...зондирующий световой пучок,например, с помощью лазера и телескопической системы и размещают разнесенные в пространстве контролируемый 1 и эталонный 2 (фиг. 1) элементы по ходу распространения зондирующего светового пучка. Контролируемый 1 и эталонный 2 элементы помечены буквами К и Э соответственно. Систему координатвыберем с центром в середине зондирующего пучка, как показано на фиг. 1. При этом контролируемый 1 и эталонный 2 элементы...

Номер патента: U 7258

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Ропот Петр Иосифович, Горбач Елена Анатольевна, Шепелевич Василий Васильевич, Ропот Алексей Петрович, Васильев Руслан Юрьевич

МПК: G01B 11/06

Метки: элементов, покрытий, контроля, толщины, интерферометрического, тонких, устройство, оптических

Текст:

...крайне сложно. Влияние вибраций можно существенно снизить, выполнив ряд условий. Для этого в первую очередь следует подобрать период интерференционной картины , намного больший средней амплитуды вибраций производственных машин (А), т.е. . Далее, для устранения влияния низкочастотной составляющей при регистрации интерференционной картиныкамерой следует выбрать малое время экспозиции , так чтобы 1/, где- частота основной высокочастотной...

Номер патента: U 6460

Опубликовано: 30.08.2010

Автор: Ляликов Александр Михайлович

МПК: G01J 9/00

Метки: интерферометрического, оптических, устройство, контроля, элементов, дифракционных

Текст:

...с оптической системой формирования коллимированного зондирующего пучка в виде поворотного зеркала 2, телескопа, образованного рассеивающей 3 и собирающей 4 линзами, интерферометр бокового сдвига 5, гнезда 6, 7 размещения контролируемого и эталонного дифракционных оптических элементов пропускающего типа,гнезда 8, 9 размещения контролируемого и эталонного дифракционных оптических элементов отражательного типа. В каждой из пар гнезда разнесены в...

Номер патента: U 5355

Опубликовано: 30.06.2009

Автор: Ляликов Александр Михайлович

МПК: G01J 9/00

Метки: интерферометрического, устройство, контроля, оптических, элементов

Текст:

...источник света 1 с оптической системой формирования коллимированного зондирующего пучка в виде поворотного зеркала 2, телескопа, образованного рассеивающей 3 и собирающей 4 линзами, интерферометр бокового сдвига 5, гнезда 6, 7 размещения 2 53552009.06.30 контролируемого и эталонного оптических элементов пропускающего типа, гнезда 8, 9 размещения контролируемого и эталонного оптических элементов отражательного типа. В каждой из пар гнезда...

Номер патента: U 4530

Опубликовано: 30.08.2008

Автор: Ляликов Александр Михайлович

МПК: G01B 9/00

Метки: интерферометрического, элементов, контроля, типа, пропускающего, структур, периодических, устройство

Текст:

...и эталонного элементов, определяемое вдоль направления сдвига интерферирующих пучков, равно величине бокового сдвига между интерферирующими пучками. Технический результат, достигаемый в полезной модели, - повышение светосилы устройства за счет исключения при получении интерференционной картины пучков, испытавших двойную дифракцию. Данный технический результат способствует улучшению технических характеристик устройства...