G01B 9/04 — измерительные микроскопы

Микроскоп

Загрузка...

Номер патента: U 8137

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Ступкина Оксана Васильевна, Михайлов Юрий Тимофеевич, Ракуш Владимир Валентинович

МПК: G02B 21/00, G01B 9/04

Метки: микроскоп

Текст:

...фильтра, расположенного на оптической оси микроскопа между первым фильтром и матричным фотоприемником, выполнение при этом второго фильтра в виде второй плоскопараллельной пластины, имеющей пропускание вдоль нормали к ее плоскопараллельным рабочим поверхностям более или равное 0,4 в диапазоне длин волн 550-700 нм и менее 0,01 в диапазоне длин волн менее 500 нм, и выбор излучающего диода со спектральным составом излучения с коротковолновой...

Устройство для контроля параметров турели

Загрузка...

Номер патента: U 2087

Опубликовано: 30.09.2005

Авторы: Ермолович Жанна Федоровна, Тареев Анатолий Михайлович

МПК: G01B 9/04

Метки: контроля, турели, параметров, устройство

Текст:

...марок сеток турели при переключении оборачивающих систем и их смещений вдоль оптических осей оборачивающих систем. Это обстоятельство также позволяет упростить конструкцию устройства и уменьшить его габаритные размеры и вес. На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства, на фиг. 2 - вид поля зрения устройства в момент контроля. 2 20872005.09.30 Устройство для контроля параметров турели включает (фиг. 1) жестко закрепленные на основании...