G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Номер патента: U 1368

Опубликовано: 30.06.2004

Авторы: Плавинский Валерий Антонович, Зайцев Валентин Андреевич, Дедков Андрей Иванович, Зуев Владимир Павлович

МПК: G01B 5/20

Метки: формы, сложнопрофильных, контроля, устройство, геометрической, наружных, цилиндрических, поверхностей

Текст:

...совпадающей с осью механизма 4 крепления и вращения контролируемой детали, и блок обработки сигналов 7, подключенный к преобразователям линейных перемещений 6 и компьютерной системе 8 суммирования показаний преобразователей 6 и вычисления отклонений формы контролируемой поверхности от расчетной образцовой. Устройство контроля геометрической формы наружных цилиндрических и сложнопрофильных поверхностей работает следующим образом. После...

Номер патента: U 1370

Опубликовано: 30.06.2004

Авторы: Карташевич Анатолий Николаевич, Куликов Сергей Михайлович

МПК: G01B 7/16, F02D 41/00

Метки: вала, деформации, измерения, устройство, кручения

Текст:

...кручения вала. Схема передатчика (фиг. 1) состоит из тензодатчиков 1-4, подключенных к операционному усилителю 5, далее аналого-цифрового преобразователя 6, цифрового микрорадиопередатчика 7 и миниатюрного источника питания 8. Схема приемника (фиг. 2) состоит из цифрового радиоприемника 9, который соединен одной цепью с цифроаналоговым преобразователем 10 и аналоговым измерительным прибором 11, а другой цепью соединен при помощи...

Номер патента: 5858

Опубликовано: 30.03.2004

Авторы: Козырев Борис Владимирович, Добров Михаил Владимирович, Тягунов Анатолий Викторович, Сапельников Юрий Анатольевич, Зеленов Евгений Юрьевич

МПК: G01B 7/28, G01B 7/13, G01N 19/08...

Метки: дефектоскоп, внутритрубный

Текст:

...Между тем именно в этот момент времени должны выполняться корректные измерения размеров дефекта. Указанные признаки обеспечивают буферизацию изменения температуры в области расположения датчиков угла поворота и датчика температуры. Так, максимальный пере 8 5858 1 пад давления имеет место на первой от носовой части манжете. А разница давления между первой и второй манжетами и давления после второй манжеты благодаря сообщению между...

Номер патента: 5892

Опубликовано: 30.03.2004

Автор: Тареев Анатолий Михайлович

МПК: G02B 23/04, G01B 9/00

Метки: контроля, марки, коллиматора, объектива, точности, устройство, плоскостью, фокальной, совмещения

Текст:

...Использование в оптическом блоке компенсатора ошибок направления световых пучков позволяет исключить влияние на результаты измерений погрешностей изготовления оптических элементов. Использование в анализаторе параллельности световых лучей нерастраивающихся элементов (плоскопараллельных пластин, клиньев) и обеспечение жесткой связи между светоделительной пластиной и плоским зеркалом обеспечивают нерасстраиваемость измерительной схемы...

Номер патента: 5939

Опубликовано: 30.03.2004

Авторы: Ародь Эдуард Станиславович, Мощеников Владимир Юрьевич, Джурко Павел Васильевич, Власенко Игорь Николаевич

МПК: G01M 11/00, G01B 11/26

Метки: центрировки, способ, линз

Текст:

...плоскости С 1, С 2, С 3, С 4, С 5 - суммы сдвиговых смещений соответственно поворотной и сдвиговой частей патрона, приспособления для установки линзы, приспособления для балансировки патрона, линзы по направлению осив измерительной плоскости М 1, М 2, М 3, М 4, М 5 - осевые координаты центров тяжести соответственно поворотной и сдвиговой частей патрона, приспособления для установки линзы, приспособления для балансировки патрона, линзы...

Номер патента: U 1306

Опубликовано: 30.03.2004

Авторы: Демидович Ольга Анатольевна, Прохоренко Андрей Александрович, Венгер Константин Дмитриевич, Смирнов Валерий Георгиевич, Соломахо Владимир Леонтьевич, Соколовский Сергей Степанович

МПК: G01B 5/22

Метки: устройство, измерения, кривизны, поверхности, радиуса, сферической, отклонений

Текст:

...устройство с измерительным наконечником. Недостатком данного устройства является сложность конструкции, сложность его настройки и невысокая точность и производительность измерений, что обусловлено достаточно сложной и трудоемкой процедурой настройки, а также смещением условного центра измерительного устройства (центра сферического вкладыша шарнира) по отношению к центру контролируемой сферической поверхности при отклонении действительного...

Номер патента: U 1305

Опубликовано: 30.03.2004

Авторы: Минченя Виталий Владимирович, Минченя Николай Тимофеевич, Карпович Сергей Леонидович

МПК: G01B 7/00

Метки: индуктивный, датчик

Текст:

...чувствительность. Известен мостовой индуктивный датчик перемещений, содержащий ферромагнитные сердечники броневого типа с обмотками. В воздушном зазоре между каждой парой сердечников расположен подвижный якорь, выполненный в виде ферромагнитного диска. С обеих сторон диска в кольцеобразных пазах размещены якорные обмотки, замкнутые на внешнюю регулировочную нагрузку. Имеется шток, жестко соединенный с якорями и объектом измерения,...

Номер патента: U 1243

Опубликовано: 30.03.2004

Авторы: Казак Николай Станиславович, Тугбаев Виталий Аркадьевич, Мащенко Александр Георгиевич, Белый Владимир Николаевич

МПК: G02F 1/39, G01B 9/00

Метки: томографии, устройство, оптической, когерентной

Текст:

...Светоделитель 12 выполнен в виде оптического покрытия на одной из двух оптических поверхностей плоскопараллельной прозрачной пластины 14. На второй оптической оси ОО между пластиной 14 и отражателем 10 последовательно установлены пластина 15, аксикон 16 и аксикон 17. При этом аксиконы 16 и 17 установлены с возможностью коллимирования пучка 1, отраженного к отражателю 10 от светоделителя 12. Отражатель 10 выполнен в виде оптического покрытия...

Номер патента: 5616

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Матюшков Владимир Егорович, Чухлиб Владимир Иванович, Колесников Вячеслав Михайлович, Стецик Виктор Михайлович, Самохвалов Валерий Константинович

МПК: G01B 11/30, G01B 11/24

Метки: устройство, полупроводниковых, интерференционного, пластин, геометрических, параметров, контроля

Текст:

...- упрощение конструкции устройства Суть изобретения поясняется чертежом, где изображена оптическая схема предложенного устройства. Устройство содержит инжекционный полупроводниковый лазер 1 с широкой диаграммой направленности излучения, подключенный к источнику тока накачки 2, четвертьволновую пластину 3, первый объектив 4 для освещения в параллельном ходе лучей контролируемого объекта 11, расположенного перпендикулярно оптической оси...

Номер патента: 5772

Опубликовано: 30.12.2003

Автор: Глушко Константин Александрович

МПК: G01K 11/06, G01W 1/00, G01B 13/02...

Метки: мерзлотомер

Текст:

...измерений. Сущность заключается в том, что в мерзлотомере, включающем жесткий кожух с заглушенными концами, герметичную трубку из упругого материала, заполненную дистиллированной водой, помещенную в жесткий кожух с боковым зазором, полость, образованная зазором между кожухом и трубкой, сообщается посредством патрубка с полостью датчика давления, связанного с регистрирующим прибором, и заполнена морозостойкой жидкостью с коэффициентом...

Номер патента: 5608

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Тузков Юрий Фадеевич, Зуйков Игорь Евгеньевич

МПК: G01B 9/00

Метки: устройство, угловых, определения, линейных, перемещений

Текст:

...фазовая анизотропная пластинка расположена между лазером и отражателем, первый вход экстремальной системы регулирования соединен с фотоприемником, первый и второй выходы экстремальной системы регулирования соединены с соответствующими приводами фазовой анизотропной пластинки, третий выход экстремальной системы регулирования соединен с приводом отражателя, второй вход и четвертый выход экстремальной системы регулирования соединены с...

Номер патента: 5594

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Казаченко Виктор Павлович, Рогачев Александр Владимирович, Щебров Александр Владимирович, Егоров Александр Иванович, Саркисов Олег Армаисович

МПК: G01B 11/06

Метки: резино-технических, способ, покрытия, определения, толщины, изделиях, полимерного

Текст:

...равномерности нанесения покрытия на различных участках поверхности эластомера. Способ определения толщины полимерного покрытия на резинотехнических изделиях включает в себя измерение значения, зависящего от толщины покрытия характерного параметра, - краевого угла смачивания жидкостью (дистиллированной водой или глицерином) поверхности и определение толщины покрытия по известной корреляционной зависимости. На поверхность исследуемого покрытия с...

Номер патента: U 1157

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Сенько Александр Сергеевич, Емельянов Виктор Андреевич, Сенько Сергей Федорович, Белоус Анатолий Иванович

МПК: G01B 9/00

Метки: контроля, изделий, качества, поверхности, устройство

Текст:

...изображение наблюдаемой светотеневой картины. Программное обеспечение и стандартная комплектация цифровых фотоаппаратов позволяют тут же ввести изображение в компьютер. Далее следует компьютерная диагностика полученных изображений с помощью специально разработанной программы анализа изображений. Ее суть заключается в измерении яркости каждой точки изображения путем присвоения номера ее цвета в серой цветовой палитре. На основании проведенных...

Номер патента: U 1109

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Колтунов Александр Иванович, Сидоренко Владимир Иванович, Кардович Андрей Владимирович

МПК: G01B 5/30

Метки: устройство, стержней, деформаций, продольных, измерения

Текст:

...стрелки,что затрудняет его использование при измерении больших деформаций недостоверность результатов измерений при работе на открытом воздухе в ветреную погоду вследствие конструктивного исполнения системы контроля деформаций, а также при температурных колебаниях во время испытаний из-за высокой температурной чувствительности устройства. Задачей полезной модели является повышение достоверности результатов измерений,надежности и...

Номер патента: 5497

Опубликовано: 30.09.2003

Автор: Ильин Виктор Николаевич

МПК: G01B 11/10

Метки: способ, линейных, контроля, размеров, световодов, шестигранных

Текст:

...первая, вторая и третья диафрагмы, 11, 12, 13 - соответственно первая, вторая и третья линзы, 14, 15, 16 - соответственно первый, второй и третий фотоприемники, 17, 18, 19 - соответственно первый, второй и третий усилители, 20 блок обработки измерительной информации, 21 - устройство отображения измерительной информации, 22 - светоделительная пластина, 23 - плоскость изображения объектива наблюдательного микроскопа, 24 - окуляр...

Номер патента: U 963

Опубликовано: 30.09.2003

Авторы: Лисковский Александр Викторович, Елисеев Владимир Николаевич, Сапельников Юрий Анатольевич, Козырев Борис Владимирович, Тарасов Валерий Алексеевич, Матвеев Михаил Семенович, Чернов Дмитрий Германович

МПК: F17D 5/00, G01N 27/00, G01B 5/00...

Метки: носитель, датчиков, варианты, внутритрубного, инспекционного, снаряда

Текст:

...с посадочными местами для датчиков. Носитель датчиков для внутритрубного инспекционного снаряда с посадочными местами для датчиков, располагающихся по поверхности с осевой симметрией, отличающийся тем, что 15 963 носитель включает в себя опору в виде гофрированного упругого элемента с осевой симметрией, а также установленные на опоре полозы с посадочными местами для датчиков. Носитель датчиков для внутритрубного инспекционного снаряда с...

Номер патента: U 982

Опубликовано: 30.09.2003

Авторы: Соломахо Владимир Леонтьевич, Смирнов Валерий Георгиевич, Боровец Юлия Георгиевна, Соколовский Сергей Степанович, Тростянко Вероника Юрьевна

МПК: G01B 7/00

Метки: щуп, измерительный

Текст:

...Наиболее близким по технической сущности является измерительный щуп 6, содержащий корпус и электропроводный гибкий измерительный стержень с электропроводным наконечником в виде шарика, причем наконечник выполнен из немагнитного материала и электрически связан с измерительным стержнем, снабженным демпфером и изолированным от корпуса посредством опор. Недостатками устройства являются ограниченные функциональные возможности,вследствие...

Номер патента: U 961

Опубликовано: 30.09.2003

Автор: Игнатьев Юрий Арнольдович

МПК: G01B 21/22

Метки: устройство, углов, измерения, перемещений

Текст:

...измерения, который ограничивается количеством дискретных оптических приемников и повторяемостью показаний измерений для других углов при вступлении в работу других призм. Решаемая задача - увеличение точности и диапазона измерения. Поставленная задача решена тем, что лазерные лучи, попадая внутрь прозрачного материала с зеркальной поверхностью, многократно отражаются от его зеркальных стенок до полного затухания. В произвольном его месте...

Номер патента: 5322

Опубликовано: 30.06.2003

Автор: Тюшкевич Борис Николаевич

МПК: G01B 9/021, G03H 1/04

Метки: способ, голограмм, варианты, записи, формирования, контурных, излучения

Текст:

...используемых активных 2 5322 1 элементов лазера. При этом диапазон эквидистантных частот может варьироваться как за счет перестройки частоты в лазере, так и за счет замены вещества, нелинейно преобразующего частоту излучения. Предлагаемый способ осуществляется следующей совокупностью операций. В первом варианте в лазере формируют 2 частот излученияс частотным интервалом 1 - 2-1 --1 и 1 частот излучения путем нелинейного преобразования в...

Номер патента: 5181

Опубликовано: 30.06.2003

Автор: Тюшкевич Борис Николаевич

МПК: G01B 9/021, G03H 1/04

Метки: голограмм, излучения, контурных, способ, записи, формирования

Текст:

...вторую частоту излучения 2, а затем первую частоту излучения 1. На фигуре представлено устройство, с помощью которого может быть реализован предлагаемый способ, и поясняющее сущность изобретения, где приняты следующие обозначения 1 - лазер 2 - поворачивающий поляризацию излучения элемент 3 - поляризационный отражатель 4 - поворачивающий поляризацию излучения элемент 5 - отражатель 6 - поворачивающий поляризацию элемент 7 - вещество....

Номер патента: 5019

Опубликовано: 30.03.2003

Автор: Тюшкевич Борис Николаевич

МПК: G01B 9/021, G03H 1/04

Метки: излучения, голограмм, формирования, записи, варианты, контурных, способ

Текст:

...частоту излучения. Затем лазер перестраивают по частоте излучения и изменяют температуру его активного элемента, после чего формируют в нем вторую частоту излучения. Во втором варианте способа сначала в лазере формируют первую частоту излучения. Затем лазер перестраивают по частоте излучения и изменяют температуру его активного элемента, после чего формируют в нем частоту излучения, из которой путем нелинейного преобразования частоты излучения...

Номер патента: 4833

Опубликовано: 30.12.2002

Автор: Пашкевич Виктор Михайлович

МПК: G01N 3/56, G01B 7/02

Метки: износа, измерения, устройство

Текст:

...и разрушаемых в процессе износа изнашивающегося элемента. Сущность и преимущества изобретения поясняются при помощи графического материала. На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство для измерения износа. На фиг. 2 изображен вариант расположения устройства для повышения точности измерения износа. Устройство (фиг. 1) содержит диэлектрическую пленку 1, наклеиваемую на изнашиваемый элемент 2,перпендикулярно направлению износа А. На...

Номер патента: U 737

Опубликовано: 30.12.2002

Авторы: Тареев Анатолий Михайлович, Нифонтов Валерий Михайлович

МПК: G02B 23/00, G01B 9/06

Метки: фокусировкой, труба, зрительная, внешней

Текст:

...характеристик за счет обеспечения возможности наблюдения шкалы с любого удобного положения оператора. На фиг. 1 изображена принципиальная схема зрительной трубы с внешней фокусировкой, на фиг. 2 показан вид рассеивающего экрана с направления, параллельного оси зрительной трубы, на фиг. 3 - вид рассеивающего экрана с направления, перпендикулярного оси зрительной трубы. Зрительная труба с внешней фокусировкой (фиг. 1) включает...

Номер патента: U 742

Опубликовано: 30.12.2002

Авторы: Пашкевич Михаил Федорович, Русецкая Инесса Викторовна

МПК: G01B 3/22, G01B 5/18

Метки: глубиномер, индикаторный

Текст:

...рычага, связывающего измерительную базу детали с индикатором. Сущность и работа полезной модели поясняются чертежом. На фигуре представлена конструкция индикаторного глубиномера. Индикаторный глубиномер содержит корпус 1, в котором закреплен подвижный измерительный стержень, т.е. оправка 2. В центральном отверстии оправки размещен поворотный стержень 3, на рабочем конце которого имеется кривошип 4. В оправке выполнено также центральное...

Номер патента: U 734

Опубликовано: 30.12.2002

Авторы: Пашкевич Михаил Федорович, Лопуховский Константин Александрович

МПК: G01B 3/22

Метки: устройство, отверстий, контроля, круглости

Текст:

...вокруг оси 7. В коротком плече рычага 4 закреплен измерительный палец 8. Отношение плеч рычага а определяет коэффициент увеличения контролируемых отклонений и, как следствие, коэффициент повышения точности индикатора. Оправка 3 снабжена базирующим кольцевым выступом треугольного профиля. Этот выступ оправки имитирует окружность, прилегающую к действительному профилю отверстия в контролируемой детали. Относительно этой прилегающей окружности...

Номер патента: U 697

Опубликовано: 30.12.2002

Авторы: Тареев Анатолий Михайлович, Кошелев Александр Владимирович, Друщиц Сергей Николаевич

МПК: G02B 27/62, G01B 9/00

Метки: устройство, контроля, модулятора, блока, параметров

Текст:

...видеокамеры 5, чувствительный элемент которой расположен в фокальной плоскости проекционного объектива, и систему обработки и выдачи измерительной информации 6, которая дополнена устройством анализа изображения. Первый и второй входы блока питания 1 соединены соответственно с первым входом устройства управления 2 блоком модулятора и входом видеокамеры 5, выход которой соединен со вторым входом системы обработки и выдачи измерительной...

Номер патента: U 709

Опубликовано: 30.12.2002

Авторы: Хило Петр Анатольевич, Петрашенко Петр Дмитриевич

МПК: G01B 7/06, C23C 14/54

Метки: ионноплазменного, диэлектрического, устройство, нанесения, покрытия

Текст:

...к изолированному проводнику. Авторами при отработке технологии нанесения ионноплазменных покрытий из диэлектрического материала обнаружено, что использование предложенной системы контроля состояния покрытия в условиях постоянства параметров плазмы низкого давления, когда проводник с регистрирующим наконечником не экранированы любым из известных способов, характеризуется тем, что величина регистрируемого тока с течением времени убывает...

Номер патента: 4672

Опубликовано: 30.09.2002

Авторы: Савицкий Анатолий Александрович, Лухвич Александр Александрович, Хилько Геннадий Иосифович

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытий, толщиномер, немагнитных, ферромагнитных

Текст:

...магнитных полей на точность измерений и, как следствие этого, необходимость компенсации начального сигнала перед измерениями, а также компенсации дрейфа начального сигнала при изменении температуры окружающей среды. Наличие блоков компенсации, а также блока питания и стабилизации тока датчика Холла значительно усложняет схему прибора, при этом в приборах с автономным источником питания время непрерывной работы ограничено. Необходимость...

Номер патента: U 614

Опубликовано: 30.09.2002

Авторы: Тареев Анатолий Михайлович, Поконечный Здислав Иосифович

МПК: G01B 11/26, G02B 27/30

Метки: зеркальный, коллиматор

Текст:

...к источнику питания. Система подогрева оптической пластины может быть выполнена также в виде источника теплового излучения, размещенного вблизи оптической пластины или на ней. Введение системы подогрева тест-объекта и выполнение тест-объекта в виде оптической пластины с полированными рабочими поверхностями, на первую из которых, обращенную к зеркальному объективу, нанесено металлическое покрытие, в котором выполнены прозрачные штрихи,...

Номер патента: 4477

Опубликовано: 30.06.2002

Авторы: Тузков Юрий Фадеевич, Зуйков Игорь Евгеньевич

МПК: G01B 9/00

Метки: устройство, угловых, перемещений, определения

Текст:

...согласно Авдеев Б.Я., Антонюк Е.М., Душин Е.М. и др. Основы метрологии и электрические измерения (Учебник для вузов) / Под ред. Е.М. Душина. 6-е изд., перераб. и доп. - Л. Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1987. - С. 456., равна(7) Кроме того, оптическая часть устройства содержит 19 элементов, что ведет к низкой помехоустойчивости, большим габаритным размерам и высокой стоимости устройства. Задача, решаемая изобретением, заключается в...

Номер патента: 4460

Опубликовано: 30.06.2002

Авторы: Бобылев Александр Николаевич, Нехаева Людмила Алексеевна

МПК: G01B 11/03, G01C 11/08

Метки: устройство, измерения, координат

Текст:

...дополнительного объектива обеспечивает равенство этих смещений. Взаимная компенсация смещений изображения фотоснимка и марки обеспечивает повышение точности измерения координат. На фиг. 1 изображен вид спереди предлагаемого устройства в первом варианте исполнения на фиг. 2 вид сверху предлагаемого устройства на фиг. 3 изображена оптическая схема оптической каретки с геометрическими построениями, позволяющими определить значение фокусного...

Номер патента: 4315

Опубликовано: 30.03.2002

Авторы: Нижник Михаил Николаевич, Окушко Владимир Анатольевич

МПК: G01B 9/021, G03H 1/04

Метки: осуществления, устройство, контурных, голограмм, записи, способ

Текст:

...излучения путем многократного обращения части этого излучения при вынужденном рассеянии Мандельштама-Бриллюэна(ВРМБ) с усилением его в активной среде лазера. Поставленная техническая задача решается тем, что в заявляемом устройстве записи контурных голограмм, содержащем лазер, оптически связанный со схемой голографирования, включающей в себя опорный канал, оптически связанный с регистрирующей средой, и объектный канал, оптически связанный...

Номер патента: 4311

Опубликовано: 30.03.2002

Авторы: Бровкович Владимир Георгиевич, Окушко Владимир Анатольевич, Садовский Владимир Николаевич

МПК: G03H 1/04, G01B 9/021

Метки: устройство, голограмм, осуществления, двухчастотных, записи, способ

Текст:

...частоту излучения в максимуме спектрального контура усиления активной среды лазера,оптически связывают со схемой голографирования посредством поляризационного элемента, который, в свою очередь, оптически через первый элемент, при прохождении которого туда-обратно поляризация излучения изменяется на ортогональную, связан со средой, в которой получают обращенную волну при вынужденном рассеянии Мандельштама-Бриллюэна, и через второй...

Номер патента: 4388

Опубликовано: 30.03.2002

Авторы: Чубаров Сергей Ильич, Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01J 3/12, G01J 9/00, G01B 11/00...

Метки: оптического, длины, измерения, устройство, излучения, волны, когерентного

Текст:

...усилитель 6 подается на вход управления генератора 7, и частота генератора изменяется таким образом, чтобы фаза сигнала с фотоприемника 4 совпадала с фазой модулирующего сигнала с генератора 7. При этом оптическая задержка излучения в световоде 3 будет равняться периоду модулирующего сигнала , который определяется оптической задержкой излучения в световоде 3 при постоянной электрической задержке в блоках 4, 5, 6, 7. Период модуляции будет...

Номер патента: 4296

Опубликовано: 30.03.2002

Авторы: Кратиров Валерий Борисович, Козлов Виталий Иванович, Матюк Владимир Федорович, Мельгуй Михаил Александрович

МПК: B23K 35/40, G01B 21/08

Метки: разнотолщинности, устройство, контроля, покрытий, дуговой, сварки, электродов

Текст:

...расположенных индуктивных преобразователя, сдвинутых относительно первых на угол 90, подключенных ко второму блоку измерения, выход которого подключен ко второму аналого-цифровому преобразователю, выходы первого и второго аналого-цифровых преобразователей подключены к входам блока вычисления величины максимальной разнотолщинности и блока определения направления смещения оси стержня относительно оси электрода с покрытием, выходы которых...

Номер патента: U 492

Опубликовано: 30.03.2002

Авторы: Поконечный Здислав Иосифович, Тареев Анатолий Михайлович

МПК: G02B 27/62, G01B 11/26

Метки: лазерного, контроля, устройство, дальномера

Текст:

...включает (фиг. 1) объектив 1, светоделительную призму-куб 2, светофильтр 3, электронную систему наблюдения в составе телекамеры 4, электронного формирователя перекрестия 5 и монитора 6, сетку 7 со штрихами и систему подсветки, содержащую светофильтр 8, конденсор 9 и широкополосный источник света 10. Штрихи сетки 7 могут быть выполнены в виде, по крайней мере, одной группы из четырех непрозрачных биссекторов 11, расположенных на...

Номер патента: U 491

Опубликовано: 30.03.2002

Авторы: Поконечный Здислав Иосифович, Тареев Анатолий Михайлович

МПК: G01B 11/26, G02B 27/62

Метки: приборов, наведения, параметров, контроля, устройство

Текст:

...Уменьшение габаритных размеров также связано с совмещением указанных зон входного зрачка объектива устройства, так как при этом отпадает необходимость использования объектива со значительными габаритными размерами. На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства, на фиг. 2 - внешний вид рабочей поверхности первой сетки, на фиг. 3 - вид поля зрения визирного канала контролируемого изделия в момент подготовки к измерениям. 491 Устройство...

Номер патента: 4269

Опубликовано: 30.12.2001

Авторы: Тузков Юрий Фадеевич, Зуйков Игорь Евгеньевич

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

Текст:

...длины резонатора, то ее изменение при постоянных радиусах кривизны зеркал приведт к увеличению дифракционных потерь вплоть до срыва генерации. Для такой схемы интерферометра в принципе невозможно измерение больших длин, так как межмодовое расстояние обратно пропорционально длине резонатора, что приведт к возникновению многомодовой генерации при увеличении длины резонатора. При перемещении измеряемого объекта возникает также сложность...

Номер патента: 4222

Опубликовано: 30.12.2001

Автор: Яромко Вячеслав Николаевич

МПК: G01N 33/38, G01B 5/30

Метки: устройство, деформаций, асфальтобетона, измерения

Текст:

...основание, штамп и измеритель деформации, закрепленный на жестком основании,измеритель деформации размещен внутри штампа, который выполнен в виде полой пространственной фигуры с параллельными жесткими нижней и верхней поверхностями, соединенными жесткими связями, образующими проемы по периметру штампа. На чертеже показано предлагаемое устройство, общий вид. Устройство содержит жесткое основание 1 для размещения испытуемого образца 2,...

Номер патента: 4265

Опубликовано: 30.12.2001

Авторы: Куцак Алексей Андреевич, Зуйков Игорь Евгеньевич, Тузков Юрий Фадеевич

МПК: G01B 9/00

Метки: угловых, устройство, линейных, перемещений, определения

Текст:

...измерения и закрепленная на приводе, привод отражателя, на котором закреплен отражатель, экстремальная система регулирования, система обработки информации, причем фотоприемник расположен на оптической оси лазера и отражателя, ФАП расположена между лазером и отражателем, первый вход экстремальной системы регулирования соединен с фотоприемником, первый выход экстремальной системы регулирования соединен с приводом отражателя, второй вход и...