Шепелевич Василий Васильевич
Устройство для интерферометрического контроля толщины тонких покрытий оптических элементов
Номер патента: U 7258
Опубликовано: 30.04.2011
Авторы: Ропот Алексей Петрович, Горбач Елена Анатольевна, Ропот Петр Иосифович, Васильев Руслан Юрьевич, Шепелевич Василий Васильевич
МПК: G01B 11/06
Метки: оптических, контроля, устройство, толщины, интерферометрического, элементов, покрытий, тонких
Текст:
...крайне сложно. Влияние вибраций можно существенно снизить, выполнив ряд условий. Для этого в первую очередь следует подобрать период интерференционной картины , намного больший средней амплитуды вибраций производственных машин (А), т.е. . Далее, для устранения влияния низкочастотной составляющей при регистрации интерференционной картиныкамерой следует выбрать малое время экспозиции , так чтобы 1/, где- частота основной высокочастотной...
Способ считывания пропускающей голограммы, записанной в кубическом оптически активном фоторефрактивном кристалле со структурой силленита в диффузионном режиме
Номер патента: 13572
Опубликовано: 30.08.2010
Авторы: Шепелевич Василий Васильевич, Ропот Петр Иосифович
МПК: G03H 1/18
Метки: кристалле, кубическом, голограммы, способ, силленита, пропускающей, диффузионном, считывания, фоторефрактивном, структурой, оптически, режиме, записанной, активном
Текст:
...естественной оптической активности кристалла с целью повышения дифракционной эффективности записанных в нем голограмм, что соответствует критериям новизна и существенные отличия заявляемого способа. Эффективность предлагаемого способа демонстрируется на следующем примере. Пусть в кристалле 1220 среза 110 записана топографическая решетка в типичной геометрии 1, когда вектор решетки параллелен направлению 1 1 0 . При этом дифракционная...