Патенты с меткой «структуры»
Способ формирования пористой структуры алюминия
Номер патента: 16950
Опубликовано: 30.04.2013
Авторы: Вербицкий Владимир Фёдорович, Бохан Николай Иванович, Жалобкевич Нина Михайловна, Мелещенко Борис Антонович
МПК: B22D 25/00
Метки: формирования, алюминия, структуры, способ, пористой
Текст:
...упр. - предел упругости материала заготовки,и импульсами магнитного поля с энергией не менее 5 Дж на 1 см 3 с частотой, обеспечивающей прохождение импульсного магнитного поля на всю толщину заготовки. После охлаждения изделия после заливки в нем возникают внутренние напряжения второго рода, обусловленные различными коэффициентами температурного расширения металла и порообразователя. При осуществлении предлагаемого способа на изделие...
Способ изготовления солнечного коллектора периодической структуры
Номер патента: 16779
Опубликовано: 28.02.2013
Авторы: Таурогинский Бронислав Иванович, Данилевский Леонид Николаевич, Лячок Александр Константинович
МПК: F24J 2/16
Метки: коллектора, структуры, периодической, изготовления, способ, солнечного
Текст:
...соединяющей точку касания с отражающей поверхностью рефлектора, описываемой выражением, с центром приемника солнечного излучения, и осью абсцисс, - угол, образованный линией, соединяющей точку касания с отражающей поверхностью рефлектора, описываемой выражением, с центром приемника солнечного излучения, и нормалью к отражающей поверхности рефлектора в точке касания а значение приращениякоординаты у при изменении координатына...
Способ получения солнечных элементов на основе тонкопленочной структуры CdS/SnS
Номер патента: 15451
Опубликовано: 28.02.2012
Авторы: Гременок Валерий Феликсович, Унучек Денис Николаевич, Башкиров Семен Александрович, Иванов Василий Алексеевич
МПК: C23C 28/00, C30B 29/46, H01L 31/18...
Метки: элементов, солнечных, способ, получения, структуры, основе, тонкопленочной
Текст:
...стекла,имеющей температуру 59010 С, химически осаждают на полученный слойслой, на который затем последовательно методом магнетронного распыления наносят высокоомный и низкоомный слоии алюминиевый контакт. Сущность изобретения заключается в том, что слоинаносят методом горячей стенки при давлении 10-6 мбар, температуре стенок 59010 С и температуре подложки 280-300 С в течение 15-30 мин, а также в использовании двух слоеви алюминиевого...
Способ изготовления кремниевой эпитаксиальной структуры ориентации (111)
Номер патента: 15294
Опубликовано: 30.12.2011
Авторы: Сенько Сергей Федорович, Белоус Анатолий Иванович
МПК: H01L 21/02, H01L 21/302
Метки: способ, структуры, ориентации, 111, эпитаксиальной, кремниевой, изготовления
Текст:
...частично образованы гранями тетраэдров, основания которых совпадают с вновь образованными (т.е. образованными в результате вписывания нового элемента) элементами рисунка. Очевидно, что образование второго тетраэдра и октаэдра происходит за счет явления самоформирования. Аналогично происходит формирование дислокационной структуры в плоскостях 110. Вершины тетраэдров, образованные плоскостями скольжения 110, находятся на одинаковой...
Способ изготовления кремниевой эпитаксиальной структуры ориентации (111)
Номер патента: 15077
Опубликовано: 30.12.2011
Автор: Сенько Сергей Федорович
МПК: H01L 21/02, H01L 21/302
Метки: изготовления, структуры, эпитаксиальной, кремниевой, способ, ориентации, 111
Текст:
...эпитаксиальной структуры ориентации (111) механические нарушения, в соответствии с заявляемым техническим решением, могут быть сформированы, по крайней мере, в одном из трех равнозначных кристаллографических направлений - 1 1 0 ,10 1 или 01 1. В случае формирования механических нарушений в двух или трех направлениях одновременно плотность генерируемой дислокационной структуры возрастает, эффективность захвата неконтролируемых примесей...
Способ изготовления кремниевой эпитаксиальной структуры ориентации (001)
Номер патента: 15132
Опубликовано: 30.12.2011
Автор: Сенько Сергей Федорович
МПК: H01L 21/302, H01L 21/02
Метки: кремниевой, изготовления, ориентации, структуры, способ, 001, эпитаксиальной
Текст:
...направлений - 100 или 010. В случае формирования механических нарушений в обоих направлениях одновременно плотность дислокационной сетки в объеме подложки и эффективность захвата неконтролируемых примесей возрастают. Выбор количества направлений осуществляют исходя из особенностей формируемой активной структуры (например, толщины эпитаксиальной пленки), режимов эпитаксии и т.п. Требования по шагу расположения линий механических...
Модель структуры материала для демонстрации упругих деформаций гранулированных материалов или дисперсно-армированных композитов
Номер патента: 15236
Опубликовано: 30.12.2011
Автор: Шилько Сергей Викторович
МПК: G09B 23/06
Метки: или, материала, структуры, модель, демонстрации, композитов, материалов, дисперсно-армированных, деформаций, гранулированных, упругих
Текст:
...в состоянии сжатия на фиг. 8 показана диаграмма сила - перемещение при сжатии и последующей разгрузке модели. Модель структуры состоит из жестких кубических элементов 1, соединенных при помощи шарниров 2, размещенных в их ребрах и обеспечивающих возможность относительного поворота последних в пределах 180 . Эти элементы моделируют твердые 2 15236 1 2011.12.30 частицы (гранулы либо армирующие включения) материала, а шарниры являются...
Способ получения тонкопленочной резисторной структуры
Номер патента: 14221
Опубликовано: 30.04.2011
Авторы: Горбачук Николай Иванович, Шпак Екатерина Петровна, Грицкевич Ростислав Николаевич, Поклонский Николай Александрович
МПК: H01C 17/075, C23C 16/22
Метки: получения, резисторной, тонкопленочной, структуры, способ
Текст:
...за счет химического взаимодействия с ними. Указанный диапазон энергий ионов, не вызывая заметного распыления указанной пленки, приводит к трансформации ее поверхностного слоя в электропроводящую углеродную фазу. Так как при этом снижение твердости углеродных пленок не наблюдается,то это указывает на то, что состояние их модифицированной поверхности после ионной бомбардировки является промежуточным между аморфной исходной алмазоподобной...
Способ контроля качества поверхности изделия, в частности, полупроводниковой пластины и/или структуры
Номер патента: 14195
Опубликовано: 30.04.2011
Авторы: Емельянов Антон Викторович, Емельянов Виктор Андреевич
МПК: G01N 21/88, H01L 21/66, G01B 11/30...
Метки: изделия, контроля, частности, качества, полупроводниковой, способ, пластины, структуры, поверхности
Текст:
...дефектного участка поверхности превращается в точку) в области между экраном и держателем образцов, что значительно затрудняет идентификацию этих дефектов. Заявляемое изобретение поясняется чертежами, где на фиг. 1 приведена схема осуществления контроля, а на фиг. 2-6 приведены светотеневые изображения поверхностей полупроводниковых пластин и структур, полученные с помощью прототипа (а) и заявляемого способа (б). Свет от точечного источника...
Устройство для контроля качества поверхности изделия, в частности, полупроводниковой пластины и/или структуры
Номер патента: 14194
Опубликовано: 30.04.2011
Авторы: Емельянов Виктор Андреевич, Емельянов Антон Викторович
МПК: G01N 21/88, G01B 11/30, G01B 9/00...
Метки: полупроводниковой, устройство, изделия, структуры, контроля, поверхности, пластины, качества, частности
Текст:
...где на фиг. 1 приведена схема заявляемого устройства, а на фиг. 2-6 приведены светотеневые изображения поверхностей полупроводниковых пластин и структур, полученные с помощью прототипа (а) и заявляемого устройства (б). Заявляемое устройство содержит точечный источник оптического излучения 1, держатель образцов 2, выполненный в виде кольцевой опоры, внутри которой создается разрежение за счет подключения к вакуумной магистрали или насосу...
Способ магнитного контроля структуры материала изделия с размагничивающим фактором более 0,04
Номер патента: 13520
Опубликовано: 30.08.2010
Автор: Сандомирский Сергей Григорьевич
МПК: G01N 27/72
Метки: фактором, размагничивающим, материала, более, способ, структуры, изделия, магнитного, контроля
Текст:
...полянамагничивающей катушки 2 и движется дальше вдоль направляющей 1 в намагниченном состоянии. При этом оно проходит сквозь индукционную измерительную катушку 4 и индуцирует в ней сигнал, поступающий на блок 5 обработки сигналов и сравнения, который выделяет из поступившего сигнала однополярный импульс напряжения, интегрирует его (результат интегрирования пропорционален остаточному магнитному потоку Ф в контролируемом изделии 7)....
Блок жилого здания и жилое здание блочной структуры (варианты)
Номер патента: U 4925
Опубликовано: 30.12.2008
Авторы: Иванов Анатолий Дмитриевич, Николайчик Александр Михайлович, Новиков Александр Алексеевич
МПК: E04H 1/00
Метки: жилое, блочной, здания, жилого, структуры, здание, блок, варианты
Текст:
...толщиной около 300 мм предпочтительно из газосиликатных блоков, а внутриквартирные стены выполнены в виде перегородок толщиной около 60-120 мм предпочтительно из газосиликатных блоков, полнотелого кирпича или легких гипсокартонных перегородочных систем. В тех формах реализации заявляемого жилого блока, которые содержат лоджии, несущие стены лоджий выполнены как продолжение несущих внутренних и, при необходимости, наружных стен....
Хронобиологическая линейка для моделирования структуры тренировочного процесса спортсменок
Номер патента: 10741
Опубликовано: 30.06.2008
Автор: Фильгина Елена Васильевна
МПК: G06G 1/00
Метки: тренировочного, хронобиологическая, линейка, процесса, моделирования, структуры, спортсменок
Текст:
...ползунок,5 - корпус линейки,6 - подвижная часть линейки. На фиг. 2 на шкале 2 изображаются биологические мезоциклы длительностью 2122 дня. На фиг. 3 на шкале 2 изображены биологические мезоциклы длительностью 23-26 дней. На фиг. 4 на шкале 2 изображены биологические мезоциклы длительностью 2728 дней. На фиг. 5 на шкале 2 изображены биологические мезоциклы длительностью 2930 дней. На фиг. 6 на шкале 2 изображены биологические мезоциклы...
Способ определения дозы ионного легирования полупроводниковой структуры
Номер патента: 10818
Опубликовано: 30.06.2008
Автор: Киселев Владимир Иосифович
МПК: H01L 21/66
Метки: структуры, полупроводниковой, легирования, ионного, определения, способ, дозы
Текст:
...см-3 и 1,041019 см-3 3, 10, т.е. все функции 11, 12, 13 описывают реакцию невырожденногона ионное облучение. Резистивный 1 и переходный 4 слои могут быть получены любым традиционным способом - эпитаксия осаждение поликристаллического полупроводника с одновременным или последующим его легированием до уровня не ниже (2-3)10 см-3 ионная имплантация. В последнем случае структура -(-) не имеет резкой границы, которая тогда условно...
Устройство для контроля структуры изделий из ферромагнитных материалов, связанной с их магнитными свойствами
Номер патента: 9735
Опубликовано: 30.10.2007
Автор: Сандомирский Сергей Григорьевич
МПК: G01R 33/12, G01N 27/72
Метки: устройство, свойствами, структуры, связанной, ферромагнитных, магнитными, изделий, материалов, контроля
Текст:
...генератора 7 (фиг. 2) и блока 8 обработки сигнала феррозондаградиентометра 5, подключенных к феррозонду-градиентометру 5, плоского магниточувствительного преобразователя 9, например датчика Холла или магниторезистора, расположенного на торце нижней части корпуса 1, блока 10 памяти, входы которого подключены к выходам блока 8 обработки сигнала феррозонда-градиентометра 5 и плоского магниточувствительного преобразователя 9, и последовательно...
Способ и устройство для изготовления армирующей структуры для шин транспортных средств
Номер патента: 8792
Опубликовано: 30.12.2006
Авторы: МАРКИНИ Маурицио, ДЕ ГЕЗЕ Игнацио, КАНТУ' Марко
МПК: B29D 30/16
Метки: структуры, армирующей, шин, устройство, изготовления, способ, транспортных, средств
Текст:
...параллельно, по меньшей мере, частично покрытые,по меньшей мере, слоем эластомерного материала накладывают полосообразнь 1 е сегменты, взаимосвязанные путем взаимного сближения, вдоль окружной развертки тороидальной опоры для формирования, по меньшей мере, армирующего слоя, имеющего непрерывную окружную развертку вокруг геометрической оси вращения.Изобретение также относится к устройству для осуществления вышеупомянутого способа,...
Способ изменения структуры интерференционных азимутально-симметричных световых полей
Номер патента: 6898
Опубликовано: 30.03.2005
Авторы: Хило Николай Анатольевич, Хило Петр Анатольевич, Краморева Лариса Ивановна
МПК: G02F 1/35
Метки: световых, структуры, азимутально-симметричных, полей, интерференционных, способ, изменения
Текст:
...включает в себя направление исходного светового пучка гауссова типа на светоделительный элемент, его расщепление на объектный и опорный пучки и регистрацию азимутально-симметричного светового поля в объектной плоскости, причем объектный пучок преобразуют с помощью голографическисинтезируемого фильтра в бесселев световой пучок, который пропускают через нелинейный кристалл, при этом опорный пучок отражают зеркалом в направлении...
Способ получения изображения внутренней структуры объекта с использованием рентгеновского излучения и устройство для его осуществления
Номер патента: 6725
Опубликовано: 30.12.2004
Авторы: КУМАХОВ, Мурадин Абубекирович
МПК: G01N 23/223
Метки: объекта, устройство, использованием, структуры, изображения, способ, рентгеновского, осуществления, получения, излучения, внутренней
Текст:
...для обработки и отображения информации, датчики для определения координат точки, к которой относят текущие результаты измерений, расположенной внутри исследуемой области объекта, связанные со средством позиционирования исследуемого объекта и рентгенооптической системой, подключенные своими выходами к средству для обработки и отображения информации, при этом рентгенооптическая система содержит один или несколько рентгеновских...
Способ изготовления капиллярной структуры контурной тепловой трубы
Номер патента: 5945
Опубликовано: 30.03.2004
Авторы: Мазюк Виктор Васильевич, Пилиневич Леонид Петрович, Рак Анатолий Леонидович, Балащенко Андрей Викторович
МПК: F28D 15/00
Метки: трубы, тепловой, структуры, изготовления, капиллярной, контурной, способ
Текст:
...исключающей возможность припекания к ней порошка. В пространство между корпусом и сердечником засыпают порошок. Подвергая сборку температурному воздействию в соответствующей защитной атмосфере,производят припекание фрагментов капиллярной структуры к корпусу. Поскольку фрагменты капиллярной структуры не связаны между собой, в процессе припекания центральная усадка отсутствует каждый фрагмент усаживается в направлении корпуса. Тем самым...
Способ получения слоистой композиционной структуры
Номер патента: 5854
Опубликовано: 30.03.2004
Авторы: Шаповалов Виктор Михайлович, Кудин Сергей Владимирович, Купчинов Борис Иванович, Плескачевский Юрий Михайлович
МПК: B32B 3/12
Метки: структуры, слоистой, способ, получения, композиционной
Текст:
...композиционной структуры осуществлять в две стадии на первой стадии при температуре 170-200 С, давлении 1-3 МПа в течение 58 минут. Такие температурно-временные параметры переработки способствуют оптимальному прогреву листовой заготовки, а также качественному контакту сотового заполнителя с листовой заготовкой, обеспечивая плавление сетчатого холста и наилучшие условия для формирования прочного адгезионного контакта на границе раздела сот...
Модель для демонстрации процессов разрушения и восстановления структуры материала
Номер патента: 5684
Опубликовано: 30.12.2003
Автор: Шилько Сергей Викторович
МПК: G09B 23/10, G09B 23/08
Метки: восстановления, демонстрации, разрушения, материала, процессов, структуры, модель
Текст:
...монослой из микросфер вследствие их взаимного притяжения и высокой подвижности. Путем дозировки количества микросфер добиваются частичного заполнения монослоем поверхности жидкости. Демонстрацию процессов разрушения и восстановления структуры материала производят следующим образом. Опору модели устанавливают в горизонтальное положение, как показано на фиг. 1. В результате действия сил притяжения микросфер к стенкам кюветы монослой принимает...
Способ исследования структуры биологических микрообъектов, преимущественно клеток крови
Номер патента: 5832
Опубликовано: 30.12.2003
Автор: Лапотко Дмитрий Олегович
МПК: G01N 33/48, G01N 21/00
Метки: структуры, способ, преимущественно, крови, микрообъектов, исследования, биологических, клеток
Текст:
...подвергают воздействию вторым пробным лазерным импульсом с параметрами, идентичными первому, в результате чего формируют второе изображение объекта для получения первого термооптического изображения путем вычитания сигналов для соответствующих точек второго и первого изображений, и с задержкой 0,01-1 мкс относительно начала лазерного импульса накачки исследуемый объект подвергают воздействию третьим пробным лазерным импульсом, в результате...
Модель структуры пористого материала
Номер патента: 4556
Опубликовано: 30.06.2002
Авторы: Шилько Сергей Викторович, Черноус Дмитрий Анатольевич, Плескачевский Юрий Михайлович
МПК: G09B 23/06, G09B 23/08
Метки: структуры, модель, пористого, материала
Текст:
...стержней показано на фиг. 2. Прототип имеет следующие недостатки трудоемкость изготовления модели недостаточное соответствие модели реальному материалу ограничения, накладываемые на структуру, в силу которых возможна демонстрация только нижнего предельного значения коэффициента Пуассона, равного - 1. Задачи, на решение которых направлено заявляемое изобретение создание менее трудоемкой в изготовлении модели структуры материала...