Патенты с меткой «сферической»
Установка для изучения сферической и хроматической аберраций линз
Номер патента: U 5792
Опубликовано: 30.12.2009
Авторы: Косарев Валерий Михайлович, Супрунюк Анна Евтихиевна
МПК: G02B 13/18, G01M 11/00
Метки: линз, изучения, сферической, аберраций, хроматической, установка
Текст:
...практикуме по общей физике сферической и хроматической аберраций линз, которая бы имела источник света,дающий квазимонохроматическое излучение с несколькими длинами волн (не менее четырех, что достаточно для построения графика), которое бы не требовало дополнительной монохроматизации с помощью светофильтров или монохроматора и которым поочередно можно было бы освещать предмет. Установка должна позволять проводить измерения аберраций в...
Интерферометр для контроля плоской или сферической поверхности
Номер патента: 12565
Опубликовано: 30.10.2009
Авторы: Луговик Алексей Юрьевич, Фёдорцев Ростислав Валерьевич, Дидковская Наталия Викторовна, Дидковский Ярослав Иванович
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: плоской, сферической, интерферометр, поверхности, или, контроля
Текст:
...изображения - ПЗС-матрицу 7. Телескопическая система Кеплера 4 предназначена для расширения исходного лазерного пучка диаметром 0,8 миллиметров до размеров контролируемой поверхности и включает реверсивный телеобъектив 8, который при малом фокусном расстоянии имеет вынесенную заднюю фокальную плоскость, позволяя тем самым установить полевую точечную диафрагму 9, которая, в свою очередь, расположена в передней фокальной плоскости системы...
Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической
Номер патента: U 1306
Опубликовано: 30.03.2004
Авторы: Смирнов Валерий Георгиевич, Венгер Константин Дмитриевич, Прохоренко Андрей Александрович, Соломахо Владимир Леонтьевич, Демидович Ольга Анатольевна, Соколовский Сергей Степанович
МПК: G01B 5/22
Метки: отклонений, сферической, устройство, измерения, поверхности, радиуса, кривизны
Текст:
...устройство с измерительным наконечником. Недостатком данного устройства является сложность конструкции, сложность его настройки и невысокая точность и производительность измерений, что обусловлено достаточно сложной и трудоемкой процедурой настройки, а также смещением условного центра измерительного устройства (центра сферического вкладыша шарнира) по отношению к центру контролируемой сферической поверхности при отклонении действительного...
Способ определения веса изделий сферической формы и устройство для его осуществления
Номер патента: 5623
Опубликовано: 30.12.2003
Авторы: Шилько Сергей Викторович, Камеко Зоя Павловна, Бодрунов Николай Николаевич
МПК: G01G 05/00
Метки: сферической, определения, веса, формы, осуществления, изделий, способ, устройство
Текст:
...формуле (1). Задачей изобретения является повышение точности измерения и упрощение конструкции устройства для определения веса и массы изделий сферической формы. Поставленная задача решается тем, что по предлагаемому способу вес изделия компенсируют давлением газа. 2 5623 1 Сущность способа состоит в том, что изделие располагают на несущей платформе над отверстием питающего канала, создают под изделием несущую воздушную прослойку путем подачи...