G01M 11/00 — Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам
Установка для изучения сферической и хроматической аберраций линз
Номер патента: U 5792
Опубликовано: 30.12.2009
Авторы: Косарев Валерий Михайлович, Супрунюк Анна Евтихиевна
МПК: G01M 11/00, G02B 13/18
Метки: линз, изучения, аберраций, хроматической, сферической, установка
Текст:
...практикуме по общей физике сферической и хроматической аберраций линз, которая бы имела источник света,дающий квазимонохроматическое излучение с несколькими длинами волн (не менее четырех, что достаточно для построения графика), которое бы не требовало дополнительной монохроматизации с помощью светофильтров или монохроматора и которым поочередно можно было бы освещать предмет. Установка должна позволять проводить измерения аберраций в...
Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем
Номер патента: 11759
Опубликовано: 30.04.2009
Авторы: Тареев Анатолий Михайлович, Дятлов Олег Александрович, Панько Ольга Ильинична, Кологривов Виктор Павлович
МПК: G01M 11/00, G02B 27/30
Метки: параметров, систем, прибор, контроля, оптико-электронных
Текст:
...в оптический тракт. Первый ослабитель светового излучения может быть выполнен в виде калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью поочередного ввода/вывода в оптический тракт. Между объективом и контролируемой оптико-электронной системой может быть введен второй ослабитель светового излучения, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в...
Устройство для контроля параметров тепловизионных систем
Номер патента: U 4130
Опубликовано: 30.12.2007
Авторы: Иванейчик Валерий Александрович, Кухта Надежда Александровна, Бондаренко Михаил Михайлович, Тареев Анатолий Михайлович, Дятлов Олег Александрович
МПК: F41G 3/00, G01M 11/00
Метки: устройство, тепловизионных, контроля, параметров, систем
Текст:
...полосы к ее высоте составляет 17. Для контроля обнаружительных и опознавательных характеристик тест-объект выполнен в виде металлической пластины с прорезанными в ней насквозь силуэтами объектов наблюдения, размеры силуэтов объектов наблюдения определяются из следующего соотношения 3 где Н - размер реального объекта наблюдения 3 - размер силуэта объекта наблюдения на тест-объекте, соответствующий размеру реального объекта наблюдения- реальная...
Устройство для контроля фокусных расстояний оптических систем
Номер патента: 6415
Опубликовано: 30.09.2004
Авторы: Зайцева Елена Ивановна, Тареев Анатолий Михайлович, Дмитрущенков Олег Анатольевич
МПК: G01B 11/02, G01M 11/00
Метки: оптических, систем, расстояний, фокусных, контроля, устройство
Текст:
...прозрачными штрихами, удаленными друг от друга на фиксированное расстояние , и объектив 6, причем тест-объект установлен в фокальной плоскости объектива 6. Микроскоп 2 включает проекционный объектив 7 и отсчетное устройство, содержащее два плоских зеркала 8 и 9, две видеокамеры 10 и 11, каждая из которых оптически связана с соответствующим зеркалом 8, 9, коммутатор 12,первый и второй входы которого соединены с соответствующей видеокамерой...
Способ центрировки линз
Номер патента: 5939
Опубликовано: 30.03.2004
Авторы: Мощеников Владимир Юрьевич, Власенко Игорь Николаевич, Джурко Павел Васильевич, Ародь Эдуард Станиславович
МПК: G01B 11/26, G01M 11/00
Метки: способ, линз, центрировки
Текст:
...плоскости С 1, С 2, С 3, С 4, С 5 - суммы сдвиговых смещений соответственно поворотной и сдвиговой частей патрона, приспособления для установки линзы, приспособления для балансировки патрона, линзы по направлению осив измерительной плоскости М 1, М 2, М 3, М 4, М 5 - осевые координаты центров тяжести соответственно поворотной и сдвиговой частей патрона, приспособления для установки линзы, приспособления для балансировки патрона, линзы...
Способ центрирования линз
Номер патента: 1807
Опубликовано: 30.12.1997
Авторы: Комлик Игорь Алексеевич, Власенко Игорь Николаевич, Мощеников Владимир Юрьевич, Счастная Людмила Ивановна
МПК: G01M 11/00
Метки: способ, центрирования, линз
Текст:
...3 совмещают с осью вращенияшпинделя 2. а дляцентра кривизны 02 второй поверхности линзы 1 определяют радиальные координаты - Х 2. 3/2 (фиг.4). Затем с учетом исходного пространственного полежания центра качания Ц поворотной части 4 патрона 3 и центров кривизны 01 и 02 поверхностей линзы 1. из условия выставле ния оптической оси линзы. проходящей че-рез центры кривизны 01 и 02 параллельно оси. рассчитывают координаты промежуточной точки П Хп и...