Чухлиб Владимир Иванович
Устройство для бесконтактного измерения толщины пластин
Номер патента: U 3298
Опубликовано: 28.02.2007
Авторы: Самохвалов Валерий Константинович, Чухлиб Владимир Иванович, Корнелюк Александр Иванович
МПК: G01B 11/06
Метки: измерения, устройство, пластин, толщины, бесконтактного
Текст:
...и повышение точности измерений толщины при наличии шероховатых поверхностей измеряемых пластин.Поставленная задача достигается тем, что устройство для бесконтактного измерения толщины пластин выполнено в виде двух идентичных детектирующих головок, подключенных к электронному блоку и расположенных по обе стороны измеряемой пластины,закрепленной в держателе, каждая из которых содержит первый объектив, оптически связанный системой зеркал с...
Устройство интерференционного контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин
Номер патента: 5616
Опубликовано: 30.12.2003
Авторы: Колесников Вячеслав Михайлович, Самохвалов Валерий Константинович, Стецик Виктор Михайлович, Чухлиб Владимир Иванович, Матюшков Владимир Егорович
МПК: G01B 11/24, G01B 11/30
Метки: полупроводниковых, пластин, параметров, контроля, интерференционного, геометрических, устройство
Текст:
...- упрощение конструкции устройства Суть изобретения поясняется чертежом, где изображена оптическая схема предложенного устройства. Устройство содержит инжекционный полупроводниковый лазер 1 с широкой диаграммой направленности излучения, подключенный к источнику тока накачки 2, четвертьволновую пластину 3, первый объектив 4 для освещения в параллельном ходе лучей контролируемого объекта 11, расположенного перпендикулярно оптической оси...