G01B 11/24 — для измерения контуров или кривых

Способ измерения профиля земной поверхности посредством лазера

Загрузка...

Номер патента: 12471

Опубликовано: 30.10.2009

Автор: Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01B 11/24

Метки: лазера, посредством, земной, измерения, способ, поверхности, профиля

Текст:

...двухволнового лазера 1 направляется непрерывное оптическое излучение на двух различных длинах волн 1, 2, частоты которых 1 и 2 соответственно. Светоделитель 2 выделяет часть зондирующего излучения для формирования гетеродинного оптического сигнала. С помощью дисперсионной призмы 3 излучение на частотах 1 и 2 посылается к исследуемой поверхности под разными углами, причем излучение на частоте 1 направляется перпендикулярно к линии горизонта, а...

Интерферометр для контроля плоской или сферической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 12565

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Дидковский Ярослав Иванович, Луговик Алексей Юрьевич, Фёдорцев Ростислав Валерьевич, Дидковская Наталия Викторовна

МПК: G01B 9/02, G01B 11/24

Метки: поверхности, контроля, или, сферической, плоской, интерферометр

Текст:

...изображения - ПЗС-матрицу 7. Телескопическая система Кеплера 4 предназначена для расширения исходного лазерного пучка диаметром 0,8 миллиметров до размеров контролируемой поверхности и включает реверсивный телеобъектив 8, который при малом фокусном расстоянии имеет вынесенную заднюю фокальную плоскость, позволяя тем самым установить полевую точечную диафрагму 9, которая, в свою очередь, расположена в передней фокальной плоскости системы...

Устройство для измерения перемещения исследуемого объекта и/или профиля его поверхности

Загрузка...

Номер патента: 10548

Опубликовано: 30.04.2008

Авторы: Михаевич Денис Александрович, Ильин Виктор Николаевич, Дубешко Александр Викторович

МПК: G01B 11/24, G01B 11/14, G01B 11/26...

Метки: устройство, перемещения, поверхности, профиля, объекта, измерения, исследуемого

Текст:

...42 прямоугольные призмы обеспечивают направление проходящим пучкам света под углами интерференции соответственно к первому и третьему пучкам света. Высота каждой прямоугольной призмы равна половине диаметра пучка света. Преломляющая призма 4 оптически связана с измеряемым объектом 5, воспроизводящей линзой 6 и устройством обнаружения 7, выполненного в виде фотодиодной матрицы. Устройство обнаружения 7 электрически связано с устройством...

Устройство интерференционного контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин

Загрузка...

Номер патента: 5616

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Самохвалов Валерий Константинович, Стецик Виктор Михайлович, Матюшков Владимир Егорович, Колесников Вячеслав Михайлович, Чухлиб Владимир Иванович

МПК: G01B 11/30, G01B 11/24

Метки: пластин, контроля, геометрических, устройство, интерференционного, полупроводниковых, параметров

Текст:

...- упрощение конструкции устройства Суть изобретения поясняется чертежом, где изображена оптическая схема предложенного устройства. Устройство содержит инжекционный полупроводниковый лазер 1 с широкой диаграммой направленности излучения, подключенный к источнику тока накачки 2, четвертьволновую пластину 3, первый объектив 4 для освещения в параллельном ходе лучей контролируемого объекта 11, расположенного перпендикулярно оптической оси...

Способ измерения профиля земной поверхности

Загрузка...

Номер патента: 4076

Опубликовано: 30.09.2001

Автор: Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01B 11/24

Метки: измерения, профиля, способ, земной, поверхности

Текст:

...скорости (используя оптимальные методы можно достигнуть погрешности 10-4 - 10-5) и не зависит от высоты полета и отклонения линии полета от горизонтальной. На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства, реализующего заявляемый способ, а на фиг. 2- векторные диаграммы, поясняющие его работу. Для реализации заявляемого способа используются лазер 1, светоделитель 2, устройство частотного сдвига гетеродинного излучения 3, светоделитель...