Корпус мощного полупроводникового прибора
Номер патента: 12545
Опубликовано: 30.10.2009
Авторы: Керенцев Анатолий Федорович, Солодуха Виталий Александрович, Турцевич Аркадий Степанович, Осипов Александр Александрович, Выговский Станислав Вячеславович, Глухманчук Владимир Владимирович, Горобец Григорий Александрович
Текст
сквозных отверстиях обечайки расположены изоляторы с внутренними отверстиями, в которых размещены выводы, выполненные с медным сердечником и траверсами, таким образом, что траверсы расположены внутри корпуса, а противоположные концы выводов снаружи, причем корпус и выводы покрыты слоем никеля и золота металлическую крь 1 шку, отличающийся тем, что обечайка выполнена из меди, к обечайке серебросодержащим припоем присоединен ободок, выполненный из ковара, а крышка прикреплена к ободку шовно-роликовой сваркой, изоляторы выполнены из вакуум-плотной керамики методом горячего прессования с нанесенным слоем металлизации за исключением торцов, выводы присоединены к изоляторам пайкой серебросодержащим припоем.2. Корпус по п. 1, отличающийся тем, что сквозные отверстия выполнены с разгрузочной канавкой, расположенной с внешней стороны обечайки, а внутренние отверстия изоляторов содержат фаски, расположенные по торцам изоляторов.3. Корпус по п. 1, отличающийся тем, что внутренние отверстия изоляторов содержат фаски, расположенные на внешних торцах изоляторов, причем изоляторы выступают над поверхностью обечайки не более 0,5 мм.Изобретение относится к электронной технике, а именно к конструкции корпуса для мощного полупроводникового прибора.Известен корпус мощного полупроводникового прибора 1, содержащий металлическое основание, металлическую крышку, соединенную с основанием, два металлических вывода, расположенных в основании так, что одни концы каждого вывода расположены внутри корпуса, а другие выходят наружу через сквозные отверстия в основании, и они изолированы от металлического основания изоляторами из стекла. Само металлическое основание выполняет роль третьего вывода. На металлическом основании закреплена медная пластина, на которую присоединен термокомпенсатор из молибдена, а все элементы корпуса покрыты никелем. После присоединения полупроводникового кристалла припоем к никелированному термокомпенсатору и соединения контактных площадок кристалла транзистора с металлическими выводами основание закрывают стальным баллоном и герметизируют контурно-рельефной контактной сваркой.Применение медной пластины обеспечивает отвод тепла от кристалла транзистора,что позволяет использовать данный корпус для мощных транзисторов. Однако корпус не лишен недостатков. Данный корпус не обеспечивает предельную мощность транзистора более 150 Вт и максимальный ток более 30 А, так как основание, выполненное из стали,обладает низкой теплопроводностью, что приводит к ухудшению отвода тепла и перегреву активной структуры при токах 30 А и более. В данном устройстве также наблюдается недостаточная надежность в экстремальных условиях эксплуатации из-за существенного различия в коэффициентах термического линейного расширения (КТЛР) стали и стеклянного изолятора, в результате чего в стеклоспае возникают механические напряжения сжатия, приводящие к образованию сквозных и несквозных микротрещин в стекле, что резко увеличивает вероятность снижения герметичности после термоциклирования. Кроме того,стеклоспай обладает низкой устойчивостью к механическим деформациям при эксплуатации, приводящим к образованию микротрещин в стекле, что также снижает герметичность корпуса. Недостаточная надежность также обусловлена тем, что никелевое покрытие корпуса вызывает необходимость присоединения кристалла транзистора с помощью припоя,который в результате циклического воздействия электрической мощности претерпевает структурные изменения, что ухудшает отвод тепла от кристалла и приводит к росту теплового сопротивления и снижению предельной мощности транзистора. Большие габариты корпуса 39,2 х 26 х 22 мм и большой вес 16,3 г исключают возможность применения его в современных малогабаритных блоках радиоэлектронной аппаратуры специального назначения.Известен корпус мощного полупроводникового прибора 2, содержащий основание,выполненное из керамики, металлическую Крышку, соединенную с лицевой поверхностью основания по периметру посредством металлического ободка сваркой, металлическую контактную площадку, расположенную на лицевой поверхности основания для расположения и соединения полупроводникового кристалла транзистора с основанием, и три металлических вывода, расположенных так, что одни концы выводов расположены на лицевой поверхности основания, а другие выходят наружу через сквозные отверстия, вь 1 полненные в основании, отличающийся тем, что основание выполнено из высокотеплопроводящей керамики, сквозные отверстия выполнены на расстоянии между осями не менее 3 мм друг от друга одновременно с основанием посредством горячего прессования,крышка выполнена из алюминия, а металлический ободок, металлическая контактная площадка и внутренние поверхности сквозных отверстий выполнены посредством сканирования лучом лазера лицевой поверхности основания в местах соответствующего их расположения, соединение лицевой поверхности основания с крышкой посредством металлического ободка выполнено холодной сваркой.Данное устройство имеет хорошие результаты по изоляции металлических выводов благодаря большому расстоянию между ними.Однако данный корпус также имеет существенные недостатки. Не обеспечивается предельная мощность более 100 Вт и предельный ток более 30 А, так как полупроводниковый кристалл и выводы расположены в основании из алюмонитридной керамики, обладающей невысокой теплопроводностью (210 Вт/м -С) по сравнению с медью(405 Вт/м - С), что приводит к перегреву кристалла и росту теплового сопротивления. Кроме того, в данном устройстве наблюдается недостаточная надежность из-за образования напряженно-деформированного состояния в результате воздействия высоких удельных нагрузок в процессе герметизации холодной сваркой и роста механических напряжений, приводящих к снижению герметичности в экстремальных условиях эксплуатации.Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является корпус мощного полупроводникового прибора З, содержащий металлическое основание с закрепленным на нем термокомпенсатором, соединенным серебросодержащим припоем с обечайкой, в обечайке выполнены два сквозных отверстия для выводов и выемка с размещенным в ней третьим выводом, расположенная между сквозными отверстиями, в сквозных отверстиях обечайки расположены изоляторы с внутренними отверстиями из стекла, в которых размещены выводы, выполненные с медным сердечником и траверсами, таким образом, что траверсы расположены внутри корпуса, а противоположные концы выводов - снаружи,причем корпус и выводы покрыты слоем никеля и золота металлическую крышку.Данная конструкция корпуса обеспечивает возможность монтажа кристаллов на эвтектику золото-кремний, чем и достигается устойчивость приборов к циклическому воздействию электрической мощности.Однако данный корпус мощного полупроводникового прибора также имеет ряд существенных недостатков. Данный корпус обеспечивает предельную мощность транзистора не более 150 Вт, так как обечайка, выполненная из стали марки Ст.10, характеризуется низкой теплопроводностью. Поэтому при работе на токах более 30 А происходит перегрев обечайки, полупроводникового кристалла и выводов, проходящих сквозь обечайку, что вызывает рост теплового сопротивления прибора и электрического сопротивления внешнего вывода.Также в данном устройстве наблюдается недостаточная надежность, так как два вь 1 вода корпуса соединены с помощью стекла С-76-4 с обечайкой из стали, которые имеют существенное различие в коэффициентах термического линейного расширения (КТЛР), что способствует возникновению в стеклоспае механических напряжений, приводящих к образованию сквозных и несквозных микротрещин в стекле и снижению герметичности по ВУ 12545 С 12009.10.30сле термоциклирования. Так как стеклоспай обладает низкой устойчивостью К механическим деформациям выводов при эксплуатации, приводящим к образованию микротрещин в стекле, это также снижает герметичность корпуса.Заявляемое изобретение решает задачу увеличения максимальной мощности и предельного тока полупроводникового прибора, а также повышения его надежности в экстремальных условиях эксплуатации.Поставленная задача решается тем, что в корпусе мощного полупроводникового прибора, содержащем металлическое основание с закрепленным на нем термокомпенсатором,соединенным серебросодержащим припоем с обечайкой, в обечайке выполнены два сквозных отверстия для выводов и выемка с размещенным в ней третьим выводом, расположенная между сквозными отверстиями, в сквозных отверстиях обечайки расположены изоляторы с внутренними отверстиями, в которых размещены выводы, выполненные с медным сердечником и траверсами, таким образом, что траверсы расположены внутри корпуса, а противоположные концы выводов - снаружи, причем корпус и выводы покрь 1 ты слоем никеля и золота металлическую крышку обечайка выполнена из меди, к обечайке серебросодержащим припоем присоединен ободок, выполненный из ковара, а крышка прикреплена к ободку шовно-роликовой сваркой, изоляторы выполнены из вакуум-плотной керамики методом горячего прессования с нанесенным слоем металлизации за исключением торцов, выводы присоединены к изоляторам пайкой серебросодержащим припоем сквозные отверстия выполнены с разгрузочной канавкой, расположенной с внешней стороны обечайки, а внутренние отверстия изоляторов содержат фаски, расположенные по торцам изоляторов внутренние отверстия изоляторов содержат фаски, расположенные на внешних торцах изоляторов, причем изоляторы выступают над поверхностью обечайки не более 0,5 мм.Сравнительный анализ предлагаемого изобретения с прототипом показывает, что заявляемый корпус мощного полупроводникового прибора отличается от известного тем,что обечайка выполнена из меди, к обечайке серебросодержащим припоем присоединен ободок, выполненный из ковара, а крышка прикреплена к ободку шовно-роликовой сваркой, изоляторы выполнены из вакуум-плотной керамики методом горячего прессования с нанесенным слоем металлизации за исключением торцов, выводы присоединены к изоляторам пайкой серебросодержащим припоем сквозные отверстия выполнены с разгрузочной канавкой, расположенной с внешней стороны обечайки, а внутренние отверстия изоляторов содержат фаски, расположенные по торцам изоляторов внутренние отверстия изоляторов содержат фаски, расположенные на внешних торцах изоляторов, причем изоляторы выступают над поверхностью обечайки не более 0,5 мм.Использование идентичной или сходной совокупности отличительных признаков для решения поставленной задачи не обнаружено.При изготовлении обечайки не из меди происходит снижение предельной мощности и предельного тока мощного транзистора, так как ухудшаются условия отвода тепла и растет тепловое сопротивление.При изготовлении изоляторов с внутренними отверстиями не из вакуум-плотной керамики и без покрытия металлизацией, за исключением торцов, снижается надежность изза ухудшения герметичности.При отсутствии разгрузочных канавок в отверстиях медной обечайки снижается надежность, так как герметичность спая медь-керамический изолятор будет ухудшаться из-за возникновения термических механических напряжений, приводящих к образованию микротрещин.При отсутствии фасок на торцах внутренних отверстий керамических изоляторов из вакуум-плотной керамики с нанесенным слоем металлизации за исключением торцов ухудшается надежность из-за снижения электрической прочности из-за образования наплывов припоя, образующихся на торцевой поверхности керамических изоляторов со сто 4ронь 1 размещения навески припоя на выводах, присоединенных К изоляторам пайкой серебросодержащим припоем.При отсутствии фаски на внещней стороне внутреннего отверстия изоляторов из вакуум-плотной керамики, а изоляторы выступают над поверхностью обечайки более 0,5 мм ухудшается надежность из-за снижения электрической прочности в результате образования наплывов припоя, образующихся на торцевой поверхности керамических изоляторов со стороны размещения навески припоя на выводах, присоединенных к изоляторам пайкой серебросодержащим припоем и снижения герметичности, так как увеличивается вероятность повреждения выступающей части керамического изолятора.Сущность изобретения поясняется на фиг. 1-23.На фиг. 1-5 показан корпус мощного полупроводникового прибора (заявляемое изобретение), содержащий металлическое основание 1 с закрепленным на нем термокомпенсатором 2, соединенное серебросодержащим припоем с медной обечайкой 3, в медной обечайке 3 выполнены два сквозных отверстия 4 для выводов 5 и выемка 6 с размещенным в ней третьим выводом 7, размещенная между сквозными отверстиями, в сквозных отверстиях 4 медной обечайки 3 расположены изоляторы 8 с внутренними отверстиями из вакуум-плотной керамики с нанесенным слоем металлизации 9 за исключением торцов, в которых размещены выводы 5, выполненные с медным сердечником 10 и траверсами 11,таким образом, что траверсы 11 расположены внутри корпуса, а противоположные концы выводов 5 - снаружи, выводы 5 присоединены к изоляторам 8 с внутренними отверстиями пайкой серебросодержащим припоем, к обечайке 3 серебросодержащим припоем присоединен ободок 12, выполненный из ковара, корпус и выводы 5, 7 покрыты слоем никеля 13 и золота 14, металлическая крыщка 15 прикреплена к ободку 12 щовно-роликовой сваркой.На фиг. 6 показана обечайка 3 корпуса мощного полупроводникового прибора, содержащая два сквозных отверстия 4 и выемку 6 между сквозными отверстиями, сквозные отверстия 4 в медной обечайке 3 выполнены с разгрузочной канавкой 16, расположенной с внещней стороны обечайки 3.На фиг. 7 показан изолятор 8 с внутренними отверстиями из вакуум-плотной керамики с нанесенным слоем металлизации 9 за исключением торцов, содержащий фаски 17,расположенные по торцам изоляторов.На фиг. 8 показан изолятор 8 с внутренним отверстием из вакуум-плотной керамики с нанесенным слоем металлизации 9 за исключением торцов, содержащий одну фаску 17,расположенную на торце на внутреннем отверстии изолятора.На фиг. 9-13 показан корпус мощного полупроводникового прибора (заявляемое устройство), содержащий металлическое основание 1 с закрепленным на нем термокомпенсатором 2, соединенное серебросодержащим припоем с медной обечайкой 3, в медной обечайке 3 выполнены два сквозных отверстия 4 для выводов 5 и выемка 6 с размещенным в ней третьим выводом 7, расположенная между сквозными отверстиями, сквозные отверстия 4 в медной обечайке 3 выполнены с разгрузочной канавкой 16, расположенной с внещней стороны обечайки 3, внутренние отверстия изоляторов 8 содержат фаски 17,расположенные по торцам изоляторов 8, в сквозных отверстиях 4 медной обечайки 3 расположены изоляторы 8 с внутренними отверстиями с нанесенным слоем металлизации 9 за исключением торцов, внутри которых размещены выводы 5, выполненные с медным сердечником 10 и траверсами 11, таким образом, что траверсы 11 расположены внутри корпуса, а противоположные концы выводов 5 - снаружи, выводы 5 присоединены к изоляторам 8 пайкой серебросодержащим припоем, к медной обечайке 3 серебросодержащим припоем присоединен ободок 12, выполненный из ковара, корпус и выводы 5, 7 покрыты слоем никеля 13 и золота 14, металлическая крыщка 15 прикреплена к ободку 12 щовнороликовой сваркой.
МПК / Метки
МПК: H01L 23/00
Метки: корпус, прибора, полупроводникового, мощного
Код ссылки
<a href="https://by.patents.su/14-12545-korpus-moshhnogo-poluprovodnikovogo-pribora.html" rel="bookmark" title="База патентов Беларуси">Корпус мощного полупроводникового прибора</a>
Предыдущий патент: Гидравлическая система комбайна шахтного проходческого
Следующий патент: Стенд для испытания шарниров гусеничной цепи
Случайный патент: Материал для покрытия, его применение и способ нанесения материала для покрытий