Способ изготовления низкопороговых КМДП-интегральных схем
Номер патента: 2335
Опубликовано: 30.09.1998
Авторы: Ершова Надежда Васильевна, Костенко Евгений Михайлович, Воронин Сергей Иванович
Текст
Ф. н 01 Ь- 21/82 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ комитет ссор по ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ и отнРьптш(54) сносов изготовлвнин ъшзнопогоговых нмцп-интвггддхьных сшм ИИзобретение относится к электронике. в частности. к изготовлению ЫмШчнггет-ральъшх схем. Целью изобретения является снижение трудоемкости создания.ЫдППинтегральнцх схем и иоьышение стабильности пороговых нап-ранений. На фиг.1 показан графин зависимости порогового напряжения транзисторов от толщины подзатворнсго скисла на фиг.2 графин зависимости порогового напряжении тран зисторов от величины поверхностной концентрации примеси. Пример. . В кремниевой подлодке п-типа с концентрациейпримеси 1 О 15 см 3 ионным внедрением бора дозой 2 мккл/смг с последующей разгонной при Т 12 О 0 С В течение 10 ч. области кармана с поверхностной концентрацией примеси 1 смЛлпзией или ионным легироьанием формируют областии на поверхности пластины окислением в сухом ЕС 1 при Т 100 ОС 0создают подзатворный окисел толщиной 400 А. Из графиков, поназанннх на фиг.1 и 2, видно, что при этом пороговые напряжения р-канального транзистора соспэплнт 0,7 В, пнанального транзистора 050 В. Затем наносят полпкремний И с помощью фотолито г графин формируют электродьтзатворов и первый уровень металли зации. Затем формируют межслоиннй диэлектрик и о помощью фотолитографии вскрывают отверстия к диффузионным ооластнм и металлизации первого уровня. Напнлением А 1 в вакууме с последдушщей фотолитографией создают верхний уровень металлизации.Способ изготовления нпзкопороговнж КМДП-интегральных схем, включающий формирование В полупроводниковой подложке одного типа проводимости карманов противоположного типа проводи Гмосты, областей истоков и стоков, подзатворного диэлектрика, затворов, областей каналов л- и р-типоьд проводимости и межсюедлнений, отличающийся тем, что. с целью упрощения способа,карманы формируют ион-ним легированием с дозой 0,640 текст/сызп разгонной 10-18 ч при температуре 1150-1200 С, а форшъирознание каналов п и р типов проводят одноврермерннс с формиро о ЬЗНИВМ подзатьорного диэлектрика телятиной 200-800 А .1972, и 15, 52 12, 13.1319. Авторское свидетельство СССР 15 854205, клд/ЙЗЕ/Зг, вид/бед деду Же дфдгшП Н И НГЧЩГ ПНИ ГГН ГПН ш
МПК / Метки
МПК: H01L 21/82
Метки: низкопороговых, изготовления, способ, кмдп-интегральных, схем
Код ссылки
<a href="https://by.patents.su/4-2335-sposob-izgotovleniya-nizkoporogovyh-kmdp-integralnyh-shem.html" rel="bookmark" title="База патентов Беларуси">Способ изготовления низкопороговых КМДП-интегральных схем</a>
Предыдущий патент: Распределительное устройство
Следующий патент: Способ изготовления горизонтальных р-п-р транзисторов для интегральных схем
Случайный патент: Устройство для общей светомагнитотерапии