Патенты с меткой «слою»

Способ изготовления прозрачного омического контакта к эпитаксиальному слою нитрида галлия p-GaN

Загрузка...

Номер патента: 15439

Опубликовано: 28.02.2012

Авторы: Труханов Алексей Валентинович, Новицкий Николай Николаевич, Пашкевич Михаил Викторович, Стогний Александр Иванович

МПК: H01L 33/00, H01L 21/02, B82B 3/00...

Метки: изготовления, галлия, нитрида, слою, p-gan, эпитаксиальному, способ, контакта, омического, прозрачного

Текст:

..., причем сначала наносят первый слой омического контактатолщиной 3 нм с собственной проводимостью -типа, затем слой золота толщиной 4 нм, а потом на полученную двухслойную контактную структуру наносят второй слойтолщиной не менее 3 нм и в результате формируют контактную структуру ///-. Новым, по мнению авторов, является то, что перед нанесением первого слоятолщиной 3 нм на слой - наносят слой аморфного нитрида галлия толщиной не менее...

Способ изготовления прозрачного омического контакта к эпитаксиальному слою p-GaN

Загрузка...

Номер патента: 13804

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Новицкий Николай Николаевич, Стогний Александр Иванович

МПК: H01L 33/00, H01L 21/02

Метки: контакта, омического, p-gan, изготовления, слою, эпитаксиальному, способ, прозрачного

Текст:

...контактной структуры к - достигается по сравнению с прототипом тем, что при нанесении и последующем удалении дополнительных слоев оксида алюминия происходит преимущественное заполнение пустот (проколов), образовавшихся при росте пленки, диэлектрическим материалом, близкого по свойствам к соединениям нитридов третьей группы элементов, без его постороннего присутствия на плоских (бездефектных) участках поверхности, т.е. осуществляется...

Способ изготовления прозрачного омического контакта к эпитаксиальному слою p-GаN

Загрузка...

Номер патента: 13504

Опубликовано: 30.08.2010

Авторы: Новицкий Николай Николаевич, Павловский Вячеслав Николаевич, Шуленков Алексей Серафимович, Данильчик Александр Викторович, Яблонский Геннадий Петрович, Луценко Евгений Викторович, Стогний Александр Иванович

МПК: H01L 33/00, H01L 21/02

Метки: изготовления, эпитаксиальному, способ, p-gan, слою, прозрачного, омического, контакта

Текст:

...изобретения является увеличение термической стабильности и деградационной прочности прозрачных омических контактов к -. Поставленная задача решается следующим образом. В способе изготовления прозрачного омического контакта к эпитаксиальному слою -, заключающемся в ионноплазменной очистке поверхности эпитаксиального слоя - с последующим нанесением омического контакта наноразмерной толщины на нагретую до температуры 350-370 С...

Способ изготовления прозрачного омического контакта к эпитаксиальному слою p-GaN

Загрузка...

Номер патента: 8569

Опубликовано: 30.10.2006

Авторы: Шинеллер Бернд, Луценко Евгений Викторович, Стогний Александр Иванович, Яблонский Геннадий Петрович, Шуленков Алексей Серафимович, Хойкен Михаель

МПК: H01L 33/00, H01L 21/28, H01L 21/283...

Метки: контакта, p-gan, прозрачного, эпитаксиальному, способ, слою, омического, изготовления

Текст:

...контроля за процессом термообработок при окислении, т.к. в противном случае происходит потеря прозрачности и изменение контактных характеристик в условиях длительной эксплуатации, а также недостаточная термостойкость контакта. Задачей предлагаемого изобретения является увеличение термической стабильности прозрачных омических контактов к -. Поставленная задача решается следующим образом. В способе изготовления прозрачного омического контакта к...