Патенты с меткой «спектрального»

Номер патента: U 10687

Опубликовано: 30.06.2015

Авторы: Хани Абдулкарим Аларифи, Белый Владимир Николаевич, Мухуров Николай Иванович, Мохаммед А. Бинхуссаин, Казак Николай Станиславович, Гасенкова Ирина Владимировна, Марзук Салех Алшамари

МПК: H01L 29/06

Метки: конструкция, метаматериала, диапазона, гиперболического, спектрального, оптического

Формула / Реферат:

Конструкция гиперболического метаматериала для оптического спектрального диапазона, содержащая диэлектрическую подложку с периодической системой наноотверстий по всей площади поверхности, заполненных благородными металлами, отличающаяся тем, что наноотвеКонструкция гиперболического метаматериала для оптического спектрального диапазона, содержащая диэлектрическую подложку с периодической системой наноотверстий по всей площади поверхности,...

Номер патента: U 9946

Опубликовано: 28.02.2014

Автор: Козадаев Константин Владимирович

МПК: G01J 11/00, G01J 3/06, G01J 1/16...

Метки: металлов, факелов, анализа, комплекс, спектрального, плазменных, лазерноиндуцированных, зондирования, измерительный, оптического

Текст:

...пластинами 2 и 3, регистратором формы импульса 4 (например, фотодиод ФД 21 КП) и калориметром 5 (например, ИКТ-1 Н). Основным назначением блока исследования спектральных характеристик плазменных факеловявляется реализация аналитического метода лазерноиндуцированной плазменной спектроскопии (-- ), позволяющего производить спектроскопические исследования плазменных образований с высоким спектральным и пространственным разрешением 3....

Номер патента: 16580

Опубликовано: 30.12.2012

Автор: Горных Владимир Андреевич

МПК: G01J 3/443

Метки: анализа, устройство, эмиссионного, спектрального

Текст:

...зеркалом и выходом калибратора, причем зеркало установлено с возможностью поворота для обеспечения оптического соединения входной щели с выходом калибратора. Таким образом, взаимосвязанная совокупность заявленных признаков позволяет автоматизировать процесс перестройки спектральных поддиапазонов. На фигуре приведена структурная схема устройства. Устройство содержит многоэлементный фотоприемник 1, расположенный в фокальной плоскости...

Номер патента: 16511

Опубликовано: 30.10.2012

Автор: Желудкевич Михаил Ефимович

МПК: G01R 23/16

Метки: сигнала, спектрального, электрического, способ, анализа

Текст:

...спектра сигнала, реализованный в устройстве по А.с.166357101 13/16, 1991. По этому способу записанный в устройстве массив отсчетов дискретного сигнала фильтруют последовательностью нерекурсивных фильтров, реализующих скользящее усреднение. Подбором параметров цифровых фильтров их порядка уменьшают массив отсчетов, подлежащих ДПФ, до величины, обеспечивающей устойчивое выделения заданного числа гармоник и определение их амплитуд....

Номер патента: 15072

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Сидоренко Виктор Николаевич, Горных Владимир Андреевич, Бузук Александр Александрович, Курейчик Константин Петрович

МПК: G01J 3/42

Метки: способ, вещества, спектрального, концентрации, атомно-абсорбционного, измерения

Текст:

...излучения и получение искомой концентрации расчетным путем. При этом величину рабочего тока при включенном магнитном поле задают в 1,1-100 раз большей по сравнению с величиной рабочего тока при выключенном магнитном поле. На фиг. 1 изображен атомно-абсорбционный спектрофотометр, реализующий данный способ. На фиг. 2 изображены диаграммы работы спектрофотометра. На фиг. 3 изображены диаграммы уширения и расщепления резонансной линии при...

Номер патента: 15071

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Курейчик Константин Петрович, Сидоренко Виктор Николаевич, Бузук Александр Александрович

МПК: G01J 3/42

Метки: количественного, способ, вещества, спектрального, анализа, атомно-абсорбционного

Текст:

...фиг. 2 изображены диаграммы работы спектрофотометра. Спектрофотометр содержит оптически связанные лампу с полым катодом 1, дейтериевый корректор 2, осветительную систему 3, атомизатор 4, монохроматор 5, фотоприемник 6, устройство измерения 7 и блок импульсного питания 8, который выполнен на основе трансформатора, первичная обмотка 9 которого соединена с питающей сетью, а вторичные обмотки 10 и 11 нагружены на диоды 12 и 13, выходы которых...

Номер патента: 15070

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Курейчик Константин Петрович, Бузук Александр Александрович, Сидоренко Виктор Николаевич

МПК: G01J 3/42

Метки: спектрального, измерения, вещества, способ, атомно-абсорбционного, концентрации

Текст:

...напряжения зажигания лампы на фронте нарастания указанного импульса, а ток большей амплитуды задают и стабилизируют после задания тока меньшей амплитуды, начиная с фронта нарастания указанного импульса и заканчивая на фронте его спада. На фиг. 1 изображен атомно-абсорбционный спектрофотометр, реализующий данный способ. На фиг. 2 изображены диаграммы работы спектрофотометра. Предлагаемый способ реализует атомно-абсорбционный...

Номер патента: 15069

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Сидоренко Виктор Николаевич, Курейчик Константин Петрович, Бузук Александр Александрович

МПК: G01J 3/42

Метки: спектрального, количественного, анализа, атомно-абсорбционного, вещества, способ

Текст:

...А измерение интенсивности излучения корректора осуществляют соответственно до и после измерения интенсивности излучения лампы. На фиг. 1 изображена схема атомно-абсорбционного спектрофотометра, реализующего заявляемый способ. На фиг. 2 изображены диаграммы работы спектрофотометра. Спектрофотометр содержит оптически связанные лампу с полым катодом 1, дейтериевый корректор 2, осветительную систему 3, атомизатор 4, монохроматор 5,...

Номер патента: 15068

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Курейчик Константин Петрович, Бузук Александр Александрович, Сидоренко Виктор Николаевич

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, вещества, количественного, способ, спектрального, атомно-абсорбционного

Текст:

...одновременного горения лампы и корректора. На фиг. 1 изображена схема атомно-абсорбционного спектрофотометра, реализующего заявляемый способ. На фиг. 2 изображены диаграммы работы спектрофотометра. Спектрофотометр содержит оптически связанные лампу с полым катодом 1, дейтериевый корректор 2, осветительную систему 3, атомизатор 4, монохроматор 5, фотоприемник 6, который связан с устройством измерения и управления 7. Блок импульсного питания...

Номер патента: 15067

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Сидоренко Виктор Николаевич, Курейчик Константин Петрович, Бузук Александр Александрович

МПК: G01J 3/42

Метки: атомно-абсорбционного, способ, спектрального, количественного, анализа, вещества

Текст:

...расчетным путем. При этом напряжение питания формируют в виде отдельных для лампы и корректора импульсов, а указанные токи задают и стабилизируют на спадах фронтов соответствующих импульсов, начиная с момента достижения значения напряжения зажигания лампы и корректора, исходя из условия исключения одновременного горения лампы и корректора. На фиг. 1 изображен схема атомно-абсорбционного спектрофотометра, реализующего заявляемый способ. На...

Номер патента: 15066

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Бузук Александр Александрович, Сидоренко Виктор Николаевич, Курейчик Константин Петрович

МПК: G01J 3/42

Метки: атомно-абсорбционного, анализа, количественного, вещества, спектрального, способ

Текст:

...прошедшего через слой излучения и получение искомого результата расчетным путем. При этом напряжение питания формируют в виде общего импульса, а указанные токи задают и стабилизируют на спаде фронта этого импульса в моменты достижения значения напряжения зажигания лампы и корректора. При этом измерение интенсивности излучения лампы осуществляют с момента задания ее тока до момента задания тока корректора, а измерение интенсивности...

Номер патента: 11244

Опубликовано: 30.10.2008

Авторы: Бураков Виктор Семенович, Жуковский Виктор Владимирович, Кирис Василий Владимирович, Бельков Михаил Викторович, Райков Сергей Николаевич

МПК: G01N 21/63

Метки: анализа, материала, способ, спектрального, твердотельного

Текст:

...Задачей данного изобретения является расширение функциональных возможностей способа спектрального анализа твердотельного материала. Поставленная задача решается тем, что в способе спектрального анализа твердотельного материала, включающем лазерную абляцию исследуемого материала, введение образовавшихся наночастиц в плазму, регистрацию спектра и определение содержание элементов в исследуемом материале, лазерную абляцию исследуемого...

Номер патента: 7683

Опубликовано: 28.02.2006

Автор: Копачевский Валерий Джанович

МПК: G01N 21/63, G01N 21/39

Метки: анализа, элементного, вещества, спектрального, осуществления, устройство, способ

Текст:

...в диапазоне 5 мм с точностью 5 мкм, при этом максимальный размер анализируемых объектов составляет 808040 мм, а размер анализируемой зоны - 302000 мкм возбуждение облака плазмы с нижней поверхности как токопроводящего, так и нетокопроводящего образца лазерным двухимпульсным излучением с энергией в импульсе порядка 150 мДж и временем задержки между двумя импульсами в интервале 1,020,0 мкс с частотой следования 1-20 Гц и числом импульсов до...