Патенты с меткой «элементного»
Способ спектрального элементного анализа вещества и устройство для его осуществления
Номер патента: 7683
Опубликовано: 28.02.2006
Автор: Копачевский Валерий Джанович
МПК: G01N 21/63, G01N 21/39
Метки: спектрального, вещества, способ, устройство, анализа, элементного, осуществления
Текст:
...в диапазоне 5 мм с точностью 5 мкм, при этом максимальный размер анализируемых объектов составляет 808040 мм, а размер анализируемой зоны - 302000 мкм возбуждение облака плазмы с нижней поверхности как токопроводящего, так и нетокопроводящего образца лазерным двухимпульсным излучением с энергией в импульсе порядка 150 мДж и временем задержки между двумя импульсами в интервале 1,020,0 мкс с частотой следования 1-20 Гц и числом импульсов до...