Устройство для активного контроля кривизны выпуклых сферических поверхностей
Номер патента: 4585
Опубликовано: 30.09.2002
Авторы: Козерук Альбин Степанович, Федорцев Валерий Александрович, Федорцев Ростислав Валерьевич, Филонова Марина Игоревна
Текст
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ УСТРОЙСТВО ДЛЯ АКТИВНОГО КОНТРОЛЯ КРИВИЗНЫ ВЫПУКЛЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ(71) Заявитель Белорусская государственная политехническая академия(73) Патентообладатель Белорусская государственная политехническая академия(57) Устройство для активного контроля кривизны выпуклой сферической поверхности формообразующего инструмента, содержащее механизм контроля, установленный в рабочей зоне станка и содержащий подпружиненный и подвижный в осевом направлении контактный щуп, связанный с измерительным прибором для регистрации контролируемого сигнала, отличающееся тем, что контактный щуп выполнен с вогнутым сферическим торцем и установлен с возможностью концентричного перемещения относительно контролируемой поверхности формообразующего инструмента, исходная кривизна которой равна кривизне сферического торца контактного щупа и противоположна ей по знаку, при этом контактный щуп связан с одной из клемм измерительного прибора, вторая клемма которого связана с формообразующим инструментом, причем для удержания контактного щупа от вращения механизм контроля содержит дугообразную скобу, подвижно связанную с поводком станка. 4585 1 Изобретение относится к области контроля кривизны поверхностей деталей в процессе их доводки свободным абразивом и может быть использовано в машино- и приборостроении при изготовлении деталей с прецизионными сферическими поверхностями. Известно устройство, в котором контроль кривизны обрабатываемой поверхности осуществляется ощупывающим датчиком, останавливающим обработку при достижении сферой заданного радиуса 1. Ближайшим аналогом (прототипом) заявляемого устройства является устройство для активного контроля кривизны сферической поверхности, состоящее из формообразующего инструмента и механизма контроля,установленного в рабочей зоне станка и содержащего подпружиненный и подвижный в осевом направлении контактный щуп и две клеммы, связанные с измерительным прибором, предназначенным для регистрации контролируемого сигнала и находящимся вне станка 2. Недостатками как аналога, так и прототипа является то, что в процессе всей обработки получаемую поверхность изделия постоянно ощупывает датчик, в результате повышается износ измерительного щупа и, как следствие, снижается точность контроля. Кроме того, существует большая степень вероятности механического повреждения поверхности самой детали, материалом которой часто является стекло или полимеры. Задача, на решение которой направлено настоящее изобретение, - расширение технологических возможностей устройства. Поставленная задача решается тем, что в устройстве для активного контроля кривизны выпуклой сферической поверхности формообразующего инструмента, содержащем механизм контроля, установленный в рабочей зоне станка и содержащий подпружиненный и подвижный в осевом направлении контактный щуп,связанный с измерительным прибором для регистрации контролируемого сигнала, контактный щуп выполнен с вогнутым сферическим торцем и установлен с возможностью концентричного перемещения относительно контролируемой поверхности формообразующего инструмента, исходная кривизна которой равна кривизне контактного щупа и противоположна ей по знаку, при этом контактный щуп связан с одной из клемм измерительного прибора, вторая клемма которого связана с формообразующим инструментом, причем для удержания контактного щупа от вращения механизм контроля содержит дугообразную скобу, подвижно связанную с поводком станка. На чертеже показано устройство для контроля кривизны выпуклой сферической поверхности формообразующего инструмента. Устройство состоит из стакана 1, на котором через кронштейн 2 с регулирующим элементом 3 установлен подпружиненный в осевом направлении твердосплавный контактный щуп 4 с вогнутой сферической поверхностью, жестко связанный с клеммой измерительного прибора. При этом стакан 1 с помощью подвижной втулки 5 и ограничителя вращения в виде скобы 6 смонтирован на наклеечном приспособлении 7,удерживающем деталь 8. Сферический контактный щуп 4 установлен концентрично контролируемой сферической поверхности инструмента 9, к которому подключена вторая клемма измерительного прибора, и имеет возможность совершать возвратно-вращательные перемещения с помощью поводка 10, изолированного от станка (например, модели 3 ШП-350 М). Скоба 6 выполнена в виде жесткой дугообразной планки с профильным пазом, внутри которого свободно перемещается поводок 10. Перед началом работы устройства производятся следующие настроечные действия. Подвижной втулкой 5 достигается точная взаимная ориентация сферических поверхностей контактного щупа 4 и инструмента 9, регулирующим элементом 3 обеспечивается совпадение их центров кривизны в точке ОН. В исходном состоянии радиус кривизны сферической поверхности инструмента 9 максимально соответствует кривизне контактного щупа 4 и противоположен ей по знаку, регистрируемая при этом величина отклонения радиусов кривизны относительно друг друга для измерительного прибора является эталонной. Устройство работает следующим образом. При включении привода станка (на чертеже не показан) наклеечное приспособление 7 с деталью 8, подвижная втулка 5, стакан 1, кронштейн 2, регулирующий элемент 3 и контактный щуп 4 совершают возвратнокачательные перемещения относительно контролируемой поверхности инструмента 9. В момент свободного соприкосновения контактного щупа 4 и контролируемой поверхности инструмента 9 производится измерение величины омического сопротивления. В процессе обработки детали 8 происходит изменение кривизны контролируемой поверхности инструмента, что приводит к изменению упомянутой величины омического сопротивления, эти изменения постоянно регистрируются измерительным прибором и сравниваются с эталонным значением. Для исключения переносного вращения контактного щупа 4 вокруг оси симметрии наклеечного приспособления 7, вызванного силами трения между инструментом 9 и деталью 8, предусматривается использование скобы 6. Дополнительными преимуществами предлагаемого изобретения по сравнению с аналогом являются следующие моменты 4585 1 1) периодическое соприкосновение сферической части щупа с рабочей поверхностью инструмента (притира) позволяет уменьшить износ одновременно как одного, так и другого элементов контактной пары и повышает точность контроля 2) использование данного устройства делает возможным управление процессом обработки и может послужить основой для создания оборудования с системой активного контроля радиуса обрабатываемой сферической поверхности. Источники информации 1.2639277, 1990. 2.264185 1, 1989. Национальный центр интеллектуальной собственности. 220072, г. Минск, проспект Ф. Скорины, 66.
МПК / Метки
МПК: B24B 49/06, B24B 49/00
Метки: кривизны, устройство, сферических, активного, поверхностей, выпуклых, контроля
Код ссылки
<a href="https://by.patents.su/3-4585-ustrojjstvo-dlya-aktivnogo-kontrolya-krivizny-vypuklyh-sfericheskih-poverhnostejj.html" rel="bookmark" title="База патентов Беларуси">Устройство для активного контроля кривизны выпуклых сферических поверхностей</a>
Предыдущий патент: Способ получения микрокапсул, содержащих клеточный материал
Следующий патент: Устройство для активного контроля кривизны вогнутых сферических поверхностей
Случайный патент: Способ двухслоевой разработки мощного калийного пласта