Патенты с меткой «зондовом»
Способ сканирования образца в виде подложки с покрытием на сканирующем зондовом микроскопе
Номер патента: 16535
Опубликовано: 30.12.2012
Авторы: Худолей Андрей Леонидович, Чижик Сергей Антонович
МПК: G01Q 20/00, G01Q 10/00
Метки: микроскопе, сканирующем, способ, подложки, зондовом, покрытием, виде, сканирования, образца
Текст:
...сканером, измеряют расстояние зонд-образец для различных точек поверхности образца, а формирование изображения поверхности производят путем определения и вычитания постоянного наклона и постоянной составляющей, корректировки и фильтрации данных,полученных с помощью сканирующего зондового микроскопа. Существенным недостатком известного способа является отсутствие возможности формирования достоверного изображения поверхности образца,...