Патенты с меткой «микроскопе»
Способ сканирования образца в виде подложки с покрытием на сканирующем зондовом микроскопе
Номер патента: 16535
Опубликовано: 30.12.2012
Авторы: Худолей Андрей Леонидович, Чижик Сергей Антонович
МПК: G01Q 20/00, G01Q 10/00
Метки: виде, сканирующем, подложки, образца, микроскопе, способ, покрытием, сканирования, зондовом
Текст:
...сканером, измеряют расстояние зонд-образец для различных точек поверхности образца, а формирование изображения поверхности производят путем определения и вычитания постоянного наклона и постоянной составляющей, корректировки и фильтрации данных,полученных с помощью сканирующего зондового микроскопа. Существенным недостатком известного способа является отсутствие возможности формирования достоверного изображения поверхности образца,...