Патенты с меткой «воздействиям»
Способ ускоренной отбраковки полупроводниковых приборов с повышенной чувствительностью параметров к дестабилизирующим воздействиям
Номер патента: 11849
Опубликовано: 30.04.2009
Авторы: Марченко Игорь Георгиевич, Жданович Николай Евгеньевич
МПК: H01L 21/66, G01R 31/26
Метки: полупроводниковых, чувствительностью, воздействиям, повышенной, дестабилизирующим, приборов, способ, ускоренной, отбраковки, параметров
Текст:
...смещения. Даже при современных методах создания приборных структур, в которых защитные покрытия поверхности весьма совершенны, в них происходят процессы генерации и перемещения зарядов. Анализ источников этих зарядов применительно к кремниевым структурам показывает, что при воздействии ионизирующего облучения происходит увеличение скорости накопления поверхностных зарядов и изменение соответствующих параметров испытуемых структур. Причины...