Патенты с меткой «чувствительностью»
Способ ускоренной отбраковки полупроводниковых приборов с повышенной чувствительностью параметров к дестабилизирующим воздействиям
Номер патента: 11849
Опубликовано: 30.04.2009
Авторы: Марченко Игорь Георгиевич, Жданович Николай Евгеньевич
МПК: H01L 21/66, G01R 31/26
Метки: параметров, ускоренной, повышенной, приборов, полупроводниковых, отбраковки, способ, дестабилизирующим, воздействиям, чувствительностью
Текст:
...смещения. Даже при современных методах создания приборных структур, в которых защитные покрытия поверхности весьма совершенны, в них происходят процессы генерации и перемещения зарядов. Анализ источников этих зарядов применительно к кремниевым структурам показывает, что при воздействии ионизирующего облучения происходит увеличение скорости накопления поверхностных зарядов и изменение соответствующих параметров испытуемых структур. Причины...