Патенты с меткой «объему»
Способ магнитного контроля распределения величины удельной электропроводности и/или магнитной проницаемости и/или дефектов по объему изделия из электропроводящего материала
Номер патента: 14960
Опубликовано: 30.10.2011
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: материала, проницаемости, магнитной, электропроводности, дефектов, магнитного, удельной, объему, электропроводящего, способ, распределения, величины, изделия, контроля
Текст:
...с большей , уровень сигнала над ним на поверхности пластины будет уже не 50, а, например,60, начиная с импульса длительность которого, скажем, 5. Значит, этот слой находится на глубине 5 в изделии. Аналогичным способом находят дефекты сплошности. Для них сигнал будет меньше, чем 50. В случае ферромагнитных металлов применяют импульсы снамного большими, чемнеферромагнитных металлов, например в пять раз, для вывода датчиков магнитного поля в...
Способ контроля постоянства физико-химических свойств тонкой пленки по ее объему
Номер патента: 13751
Опубликовано: 30.10.2010
Авторы: Кузнецова Татьяна Анатольевна, Чижик Сергей Антонович, Худолей Андрей Леонидович
МПК: G01N 13/10
Метки: тонкой, объему, постоянства, контроля, свойств, физико-химических, пленки, способ
Текст:
...способа является необходимость использования комбинированного прибора, состоящего, по меньшей мере, из двух прибо 2 13751 1 2010.10.30 ров - атомно-силового микроскопа и дополнительного прибора для аналитических измерений поверхности с контролем атмосферы компьютерными средствами. Задачей настоящего изобретения является упрощение контроля постоянства физикохимических свойств тонкой пленки путем его выполнения только на атомно-силовом...