Дорошевич Елена Сергеевна
Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости , дефектности, а также толщины объекта из электропроводящего магнитного материала
Номер патента: 18254
Опубликовано: 30.06.2014
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: свойств, удельной, также, объекта, проницаемости, электропроводящего, контроля, магнитной, магнитных, электропроводности, дефектности, толщины, электрических, материала, способ, частности, магнитоимпульсного, магнитного
Текст:
...поля, сканируют магнитный носитель считывающим устройством вдоль линии замера, находят распределение указанного электрического напряжения с несколькими его максимумами вдоль координаты , создают визуальную растровую картину этого распределения, а затем определяют искомые свойства контролируемого объекта путем сравнения заданных максимумов указанного распределения или всего распределения в целом в растровой либо цифровой форме с...
Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости , дефектности, а также толщины объекта сложной формы из электропроводящего магнитного материала
Номер патента: 18253
Опубликовано: 30.06.2014
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: сложной, также, контроля, способ, электропроводящего, проницаемости, толщины, материала, частности, объекта, свойств, магнитоимпульсного, магнитных, формы, удельной, электрических, дефектности, магнитного, магнитной, электропроводности
Текст:
...импульсов магнитного поля различной полярности, уменьшая амплитуду магнитного поля от импульса к импульсу, сканируют магнитный носитель считывающим устройством и измеряют величину электрического напряжения на его выходе, пропорциональную величине напряженности записанного носителем остаточного магнитного поля поверхности объекта, подбирают и записывают параметры воздействующего магнитного поля, обеспечивающие максимальную разницу величин...
Способ магнитоимпульсного контроля дефектности, а также электрических и магнитных свойств объекта из магнитного или немагнитного электропроводящего материала
Номер патента: 17626
Опубликовано: 30.10.2013
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: способ, магнитного, магнитных, или, свойств, материала, дефектности, объекта, контроля, также, магнитоимпульсного, электрических, немагнитного, электропроводящего
Текст:
...1,2 и 3 изображены зависимости величины напряжения, снимаемого с индукционной магнитной головки (считывающее устройство), сканирующей дискретный датчик магнитного поля (ДДМП), от времени, с записями отраженных от поверхности контролируемого объекта импульсных магнитных полей. Таким образом, ДДМП располагают на поверхности объекта со стороны первичного источника магнитного поля. ДДМП состоит из чередующихся параллельных магнитных и немагнитных...
Способ магнитоимпульсного контроля дефектности, электрических и магнитных свойств объекта из магнитного или немагнитного электропроводящего материала
Номер патента: 16816
Опубликовано: 28.02.2013
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: способ, магнитных, электрических, магнитного, или, магнитоимпульсного, дефектности, материала, контроля, электропроводящего, объекта, свойств, немагнитного
Текст:
...обратного и прямого направления. В качестве излучателя импульсного магнитного поля использован линейный индуктор (проводник), ось которого располагали параллельно поверхности контролируемой пластины. Координата проекции оси индуктора на поверхность пластины на фигурах 4-7 соответствует времени 500 мкс, а на фиг. 8 - 1150 мкс. Максимальная величина напряженности магнитного поля импульса равна 2,3104 А/м, обратного выброса - 9103 А/м и...
Способ магнитооптического контроля свойств объекта из электропроводящего магнитного материала
Номер патента: 16465
Опубликовано: 30.10.2012
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: способ, свойств, электропроводящего, магнитного, объекта, контроля, материала, магнитооптического
Текст:
...полос, затем сканируют поверхность указанной пленки объективом преобразователя оптического изображения в электрический сигнал в направлении, перпендикулярном указанным полосам,одновременно непрерывно изменяя фокусное расстояние указанного объектива от минимального расстояния между пленкой и объективом до максимального и обратно, измеряя таким образом в момент получения резкого изображения каждой точки на границе указанных полос расстояние...
Способ контроля свойств объекта из электропроводящего материала
Номер патента: 16239
Опубликовано: 30.08.2012
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: материала, объекта, контроля, способ, свойств, электропроводящего
Текст:
...сканируемого объема при одной из указанных комбинаций в соответствующий момент контроля, а затем определяют искомые свойства объекта, такие как его электрические и магнитные свойства, а также параметры дефектов в нем, путем сравнения изображения того или иного сечения с полученными тем же путем аналогичными изображениями для эталонных объектов с известными свойствами, имеющих одинаковые с контролируемым объектом форму и размеры....
Способ контроля свойств объекта из электропроводящего материала
Номер патента: 16238
Опубликовано: 30.08.2012
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: электропроводящего, свойств, контроля, материала, объекта, способ
Текст:
...параметрам относятся величина максимальной напряженно 2 16238 1 2012.08.30 сти магнитного поля, время нарастания импульса, форма переднего и заднего фронта импульса. Сканируют участок пространства датчиками магнитного поля, например преобразователем Холла, замкнутым электрическим контуром, магнитной головкой или другими датчиками. Величина напряжения на выходе преобразователя Холла пропорциональна величине напряженности измеряемого магнитного...
Способ электромагнитного контроля свойств объекта из электропроводящего магнитного материала
Номер патента: 15761
Опубликовано: 30.04.2012
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: контроля, способ, материала, электромагнитного, магнитного, электропроводящего, свойств, объекта
Текст:
...поверхности контролируемого объекта из электропроводящего материала перемещают металлический щуп из немагнитного материала с прижатием к этой поверхности. В результате скольжения щупа по поверхности объекта происходит сток электронов и возникают электромагнитные волны. Длина этих волн и их амплитуда зависят от качества обработки поверхности объекта, наличия на ней инородных включений, внутренних дефектов с выходом их на поверхность объекта, от...
Способ магнитного контроля свойств объекта из электропроводящего магнитного материала (варианты)
Номер патента: 15781
Опубликовано: 30.04.2012
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: способ, магнитного, варианты, контроля, свойств, объекта, материала, электропроводящего
Текст:
...на нее постоянным магнитным полем с напряженностью меньше поля старта доменной структуры пленки и с направлением, нормальным к плоскости пленки, а затем осуществляют индикацию считанной информации с последующим определением искомых свойств объекта, а в качестве магнитного носителя используют дискретный магнитный носитель, выполненный из чередующихся магнитных и немагнитных полос, перпендикулярных отмеченному направлению. 2 15781 1 2012.04.30...
Способ магнитного контроля распределения величины удельной электропроводности и/или магнитной проницаемости и/или дефектов по объему изделия из электропроводящего материала
Номер патента: 14960
Опубликовано: 30.10.2011
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: способ, объему, проницаемости, дефектов, магнитной, изделия, контроля, магнитного, электропроводящего, величины, распределения, электропроводности, удельной, материала
Текст:
...с большей , уровень сигнала над ним на поверхности пластины будет уже не 50, а, например,60, начиная с импульса длительность которого, скажем, 5. Значит, этот слой находится на глубине 5 в изделии. Аналогичным способом находят дефекты сплошности. Для них сигнал будет меньше, чем 50. В случае ферромагнитных металлов применяют импульсы снамного большими, чемнеферромагнитных металлов, например в пять раз, для вывода датчиков магнитного поля в...
Магнитографический дефектоскоп для контроля сплошности кольцевых изделий из ферромагнитных материалов
Номер патента: 14721
Опубликовано: 30.08.2011
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/82, G01N 27/85
Метки: магнитографический, дефектоскоп, кольцевых, материалов, контроля, ферромагнитных, изделий, сплошности
Текст:
...фиг. 3, где изображена вторая станина дефектоскопа, и на фиг. 4, где показана схема зажима изделия. Дефектоскоп содержит устройство обеспечения контакта магнитного носителя 1 с кольцевым изделием 2, состоящее из двух пластин 3 и 4, шарнирно связанных между собой осью 5, с выемками по заданному профилю, стягивающей пружиной 6 и рычагами 7 и 8, направляющими магнитного носителя 9, эластичными прокладками 10, две кассеты 11 и 12 с пружинами 13 и...
Способ электромагнитного контроля распределения величины удельной электропроводности в изделии из известного электропроводящего материала, а также его толщины и параметров дефектов в нем
Номер патента: 14145
Опубликовано: 30.04.2011
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: удельной, электропроводящего, способ, контроля, толщины, нем, распределения, также, изделии, дефектов, параметров, величины, известного, материала, электромагнитного, электропроводности
Текст:
...временамслоям изделия толщиной раз. Кроме того, воздействуют импульсом, определяемым соотношением (5) и с наибольшей точностью определяют разнотолщинность изделия по величине напряженности магнитного поляв разных точках поверхности изделия в соответствии с зависимостью (1). Так, если толщина материала данного участка изделия меньше, чем толщина остального изделия, то и величина , соответствующая величинепред, также будет меньше. Принцип...
Способ получения временной зависимости магнитной индукции
Номер патента: 13919
Опубликовано: 30.12.2010
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01R 33/06
Метки: временной, индукции, получения, магнитной, зависимости, способ
Текст:
...находят временные зависимости разности потенциалов при включенном и выключенном питании датчика, записывают их на элементы памяти и корректируют до совпадения по форме с соответствующими временными зависимостями сигналов импульсов воздействия путем введения соответствующей функции преобразования, а при проведении измерений применяют к зависимостямифункцию преобразования, соответствующую параметрам воздействующего импульса магнитного...
Устройство для контроля электропроводности и толщины изделия из электропроводящего материала, а также параметров дефектов в нем
Номер патента: 13918
Опубликовано: 30.12.2010
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: дефектов, параметров, толщины, изделия, контроля, также, нем, устройство, материала, электропроводящего, электропроводности
Текст:
...набора линейных токопроводов и кольцевого соленоида с регулируемыми положениями и ориентацией в пространстве. Устройство для контроля электропроводности и толщины изделия из электропроводящего материала, а также параметров дефектов в нем содержит прибор для измерения параметров импульсов тока источника первичного магнитного поля с визуальным экраном с послесвечением. Датчики Холла снабжены светодиодами. Сущность изобретения...
Способ магнитного контроля дефектности, толщины, формы и электрических свойств изделия из электропроводящего материала
Номер патента: 13905
Опубликовано: 30.12.2010
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: материала, способ, свойств, дефектности, формы, изделия, контроля, электрических, магнитного, электропроводящего, толщины
Текст:
...или выполнении условий их ограничения. В качестве эталонных изображений используют предварительно созданные изображения распределений нормальной составляющей напряженности магнитного поля для неидеальных объектов с заданной величиной и распределением удельной электропроводности, с разной толщиной и разными распределениями дефектов. Измерение величины нормальной составляющей напряженности магнитного поля осуществляют при различных...
Устройство для контроля качества изделий из магнитных и электропроводящих материалов
Номер патента: 12743
Опубликовано: 30.12.2009
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: изделий, контроля, магнитных, материалов, электропроводящих, качества, устройство
Текст:
...объектива с выходным блоком 8, преобразователем оптического изображения в электрический сигнал 9, предварительным усилителем 10, видеоусилителем 11, синхрогенератором 12,генераторами строчной 13 и кадровой 14 разверток с управляемым блоком задержки фор 3 12743 1 2009.12.30 мирования кадровой развертки с устройством выбора строки сканирования преобразователя оптического изображения в электрический сигнал 15, электронным ключом 16,...
Магнитооптический дефектоскоп
Номер патента: 12742
Опубликовано: 30.12.2009
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: магнитооптический, дефектоскоп
Текст:
...Холла) 29 с усилителем, со светодиодом и блоком питания 30. Дефектоскоп работает следующим образом. Свет от источника 1 проходит через поляризатор 2 и магнитооптическую пленку 3,отражается от зеркала 4 и, пройдя через анализатор 7, попадает в объектив 8. Намагничивающее устройство 25, запитанное источником постоянного тока 27, обеспечивает промагничивание материала 5 по всей глубине. В результате действия магнитного поля рассеивания...
Магнитоимпульсный способ контроля электрических и магнитных свойств и наличия дефектов сплошности изделия из электропроводящего магнитного материала, а также его толщины
Номер патента: 12173
Опубликовано: 30.08.2009
Авторы: Сычик Василий Андреевич, Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: магнитных, магнитоимпульсный, сплошности, материала, электрических, наличия, способ, контроля, электропроводящего, изделия, дефектов, магнитного, свойств, также, толщины
Текст:
...поля 1 на поверхности изделия, записывают рассчитанную зависимость 1 на элементы памяти, после чего, используя импульс 1, воздействуют импульсом магнитного поля на изделие и датчик, измеряют интегральным датчиком магнитного поля,состоящим из матрицы локальных датчиков, например датчиков Холла, временную зависимость суммарного для всех датчиков матрицы сигнала от времени 2, нормированную по амплитуде с сигналом 1, сравнивают зависимость...
Способ контроля электрических и магнитных свойств изделия из электропроводящего магнитного материала, а также дефектов сплошности в нем
Номер патента: 12172
Опубликовано: 30.08.2009
Авторы: Сычик Василий Андреевич, Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: магнитного, электрических, материала, нем, электропроводящего, контроля, также, сплошности, изделия, способ, дефектов, магнитных, свойств
Текст:
...всей контролируемой поверхности изделия или на ее части, значительно превышающей плоскостные размеры дефектов сплошности и участков с отличной от остального материала изделия удельной электропроводностью и магнитной проницаемостью, записывают 2 на элементы памяти, сравнивают зависимости 1 и 2 и находят временную зависимость величины разностного сигнала 2-1, корректируют зависимость 1 с учетом найденного разностного сигнала для нахождения...
Способ магнитного контроля дефектности, электрических, магнитных и механических свойств ферромагнитного материала
Номер патента: 11266
Опубликовано: 30.10.2008
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72, G01R 33/02
Метки: магнитного, электрических, ферромагнитного, способ, механических, свойств, материала, магнитных, контроля, дефектности
Текст:
...и глубину его залегания в материале. Воздействуем на материал толщинойодиночными однополярными импульсами магнитного поля со временами нарастания, обеспечивающими эффектную глубину проникновения поля(глубину, на которой амплитуда напряженности магнитного поля(третий импульс), то при воздействии Если дефект начинается на глубине 32 на материал первыми двумя импульсами в поле рассеяния дефекта на поверхности материала не появится, а, начиная с...
Способ магнитного контроля дефектности и электрических свойств изделия из электропроводящего материала
Номер патента: 11265
Опубликовано: 30.10.2008
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01R 33/02, G01N 27/72
Метки: электрических, электропроводящего, свойств, контроля, дефектности, изделия, способ, материала, магнитного
Текст:
...глубина проникновения магнитно 3 11265 1 2008.10.30 го поля . Передний фронт указанного импульса магнитного поля можно представить как синусоидальный, что в действительности и реализуется, т.к. индуктивности цепи первичного источника сглаживают угол перехода линейно нарастающего импульса в импульс с постоянной величиной 0. Таким образом, передний фронт указанного импульса есть четвертьсинусоида (импульс в четверть волны). Следовательно,...
Способ магнитоимпульсного контроля дефектности, электрических и магнитных свойств объекта из магнитного или немагнитного электропроводящего материала
Номер патента: 10464
Опубликовано: 30.04.2008
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/00
Метки: магнитного, объекта, немагнитного, магнитоимпульсного, контроля, материала, дефектности, или, свойств, способ, магнитных, электрических, электропроводящего
Текст:
...импульсовах с обеспечением возможности проникновения в контролируемый материал на различную эффективную глубину, определяемуюах, на поверхности объекта выбирают линию замера и находят распределение максимальной тангенциальной составляющей напряженности магнитного поляпо этой линии для каждого импульса, формируют оптическое изображение распределениядля слоев объекта в виде растра, ширину каждой из полос которого устанавливают прямо...
Способ магнитооптического контроля магнитного электропроводящего материала
Номер патента: 10440
Опубликовано: 30.04.2008
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/00
Метки: контроля, электропроводящего, магнитного, материала, способ, магнитооптического
Текст:
...обеспечением возможности проникновения в контролируемый материал на различную эффективную глубину, определяемую по времениимпульсов, для каждого импульса получают соответствующие изображения распределения доменной структуры магнитооптической пленки в моменты времени, наслаивают эти изображения друг на друга и находят распределение удельной электропроводностиконтролируемого материала и его дефектов по глубине по изменению изображения...
Устройство контроля качества изделий из магнитных или электропроводящих материалов
Номер патента: 9872
Опубликовано: 30.10.2007
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/82, G01N 27/00
Метки: материалов, устройство, электропроводящих, или, качества, изделий, магнитных, контроля
Текст:
...собирающие линзы 2 и 3, компенсатор 4 изображения источника света и его изображения, созданного отражателем, компенсатор 5 фона отражателя с покрытием и распределением интенсивности света 4(,), жестко закрепленный на прозрачной подложке 6, фокусирующую линзу 7, поляризатор 8, магнитооптическую пленку 9, расположенную на зеркале 10 в виде концентрических окружностей с осями оптических систем падающего 11 и отраженного 12 света, анализатор...