Патенты с меткой «электропроводности»
Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости , дефектности, а также толщины объекта из электропроводящего магнитного материала
Номер патента: 18254
Опубликовано: 30.06.2014
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: магнитоимпульсного, магнитных, толщины, электропроводности, частности, удельной, электропроводящего, контроля, электрических, способ, также, объекта, дефектности, проницаемости, свойств, материала, магнитной, магнитного
Текст:
...поля, сканируют магнитный носитель считывающим устройством вдоль линии замера, находят распределение указанного электрического напряжения с несколькими его максимумами вдоль координаты , создают визуальную растровую картину этого распределения, а затем определяют искомые свойства контролируемого объекта путем сравнения заданных максимумов указанного распределения или всего распределения в целом в растровой либо цифровой форме с...
Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости , дефектности, а также толщины объекта сложной формы из электропроводящего магнитного материала
Номер патента: 18253
Опубликовано: 30.06.2014
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: электрических, способ, сложной, удельной, формы, частности, проницаемости, магнитных, магнитной, контроля, свойств, толщины, дефектности, объекта, магнитного, также, электропроводящего, материала, электропроводности, магнитоимпульсного
Текст:
...импульсов магнитного поля различной полярности, уменьшая амплитуду магнитного поля от импульса к импульсу, сканируют магнитный носитель считывающим устройством и измеряют величину электрического напряжения на его выходе, пропорциональную величине напряженности записанного носителем остаточного магнитного поля поверхности объекта, подбирают и записывают параметры воздействующего магнитного поля, обеспечивающие максимальную разницу величин...
Способ магнитного контроля распределения величины удельной электропроводности и/или магнитной проницаемости и/или дефектов по объему изделия из электропроводящего материала
Номер патента: 14960
Опубликовано: 30.10.2011
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: величины, удельной, контроля, объему, проницаемости, магнитной, изделия, распределения, способ, магнитного, электропроводящего, дефектов, материала, электропроводности
Текст:
...с большей , уровень сигнала над ним на поверхности пластины будет уже не 50, а, например,60, начиная с импульса длительность которого, скажем, 5. Значит, этот слой находится на глубине 5 в изделии. Аналогичным способом находят дефекты сплошности. Для них сигнал будет меньше, чем 50. В случае ферромагнитных металлов применяют импульсы снамного большими, чемнеферромагнитных металлов, например в пять раз, для вывода датчиков магнитного поля в...
Способ электромагнитного контроля распределения величины удельной электропроводности в изделии из известного электропроводящего материала, а также его толщины и параметров дефектов в нем
Номер патента: 14145
Опубликовано: 30.04.2011
Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна
МПК: G01N 27/72
Метки: известного, контроля, электромагнитного, изделии, нем, также, электропроводящего, величины, электропроводности, удельной, материала, способ, толщины, дефектов, параметров, распределения
Текст:
...временамслоям изделия толщиной раз. Кроме того, воздействуют импульсом, определяемым соотношением (5) и с наибольшей точностью определяют разнотолщинность изделия по величине напряженности магнитного поляв разных точках поверхности изделия в соответствии с зависимостью (1). Так, если толщина материала данного участка изделия меньше, чем толщина остального изделия, то и величина , соответствующая величинепред, также будет меньше. Принцип...
Устройство для контроля электропроводности и толщины изделия из электропроводящего материала, а также параметров дефектов в нем
Номер патента: 13918
Опубликовано: 30.12.2010
Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич
МПК: G01N 27/72
Метки: материала, дефектов, электропроводящего, изделия, параметров, также, электропроводности, нем, устройство, контроля, толщины
Текст:
...набора линейных токопроводов и кольцевого соленоида с регулируемыми положениями и ориентацией в пространстве. Устройство для контроля электропроводности и толщины изделия из электропроводящего материала, а также параметров дефектов в нем содержит прибор для измерения параметров импульсов тока источника первичного магнитного поля с визуальным экраном с послесвечением. Датчики Холла снабжены светодиодами. Сущность изобретения...
Способ определения электропроводности грунта
Номер патента: 1352
Опубликовано: 16.09.1996
Авторы: Пироговский Константин Николаевич, Кудрявцев Игорь Александрович
МПК: G01V 1/28
Метки: определения, способ, электропроводности, грунта
Текст:
...сопротивления от давления 2, Недостаток данного способа заключается в необходимости четкого нормирования прикладываемого к грунту вертикального давлениудчто ведет к усложнению способа.Технический эффект предлагаемого способа заключается в обеспечении безопасности проведения работ и упрощении измерений и обеспечивается за счет того, что поверхность исследуемого грунта подвергают нагружении) т-тмпульсной динамической нагрузкой. Затем...