Устройство для юстировки панкратической системы

(51) МПК (2006) НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЮСТИРОВКИ ПАНКРАТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ(71) Заявитель Открытое акционерное общество Пеленг(72) Авторы Неменнок Александр Иванович Тареев Анатолий Михайлович(73) Патентообладатель Открытое акционерное общество Пеленг(57) Устройство для юстировки панкратической системы, содержащее оптически сопряженные и последовательно установленные осветительную систему, включающую источник излучения и первый объектив, в передней фокальной плоскости которого установлена первая диафрагма, интерференционный светофильтр, а также тест-объект, измерительную сетку со штрихами и систему наблюдения, отличающееся тем, что оно включает дополнительно второй объектив и вторую диафрагму, расположенные между первым объективом и тест-объектом, система наблюдения включает третий объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль его оптической оси, по меньшей мере, в два фиксированных положения, и фотоприемное устройство, имеющее выход для подключения к монитору, при этом интерференционный светофильтр установлен между первым и вторым объективами, тест-объект размещен в задней фокальной плоскости второго объектива, а измерительная сетка связана с системой наблюдения и установлена с возможностью юстировочных перемещений вдоль оптической оси третьего объектива и в направлении, перпендикулярном его оптической оси.(56) 1. Прибор для юстировки блока каретки изд. 1 К 13-2. Техническое описание и инструкция по эксплуатации. - Мн. ОАО Пеленг, 1997 (прототип). Полезная модель относится к области оптического приборостроения, более конкретно к устройствам для юстировки оптических систем переменного увеличения. Известно устройство для юстировки панкратической системы, включающее оптически сопряженные и последовательно установленные осветительную систему, включающую источник излучения и первый объектив, в передней фокальной плоскости которого установлена первая диафрагма, интерференционный светофильтр, а также тест-объект, измерительную сетку со штрихами и систему наблюдения. Тест-объект и измерительная сетка сменные. Система наблюдения представляет собой микроскоп с двумя сменными окулярами. Механизм подвижек обеспечивает перемещение микроскопа в 3-х взаимно перпендикулярных направлениях 1. Недостатками известного устройства для юстировки панкратической системы являются сложность его конструкции вследствие наличия дополнительных 3-х сменных частей необходимость смены тест-объекта, измерительной сетки и окуляра системы наблюдения в процессе юстировки панкратической системы низкий контраст изображения при больших увеличениях панкратической системы, обусловленный выбором коллиматорной схемы осветительной системы разная погрешность юстировки для крайних увеличений панкратической системы вследствие невозможности регулировки масштаба изображения системы наблюдения визуальная система наблюдения юстируемых параметров панкратической системы, что вызывает невысокую производительность и надежность контроля,быструю утомляемость наблюдателя. Задачей полезной модели является упрощение конструкции устройства для юстировки панкратической системы за счет исключения необходимости смены тест-объекта, измерительной сетки и окуляра системы наблюдения в процессе юстировки, повышение контраста изображения при больших увеличениях панкратической системы, повышение точности юстировки для крайних увеличений панкратической системы, повышение производительности юстировки и снижение утомляемости наблюдателя. Для решения этой задачи устройство для юстировки панкратической системы, включающее оптически сопряженные и последовательно установленные осветительную систему, включающую источник излучения и первый объектив, в передней фокальной плоскости которого установлена первая диафрагма, интерференционный светофильтр, а также тест-объект, измерительную сетку со штрихами и систему наблюдения, включает дополнительно второй объектив и вторую диафрагму, расположенные между первым объективом и тест-объектом. Система наблюдения включает третий объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль его оптической оси, по меньшей мере, в два фиксированных положения, и фотоприемное устройство, имеющее выход для подключения к монитору. При этом интерференционный светофильтр установлен между первым и вторым объективами, тест-объект размещен в задней фокальной плоскости второго объектива, а измерительная сетка связана с системой наблюдения и установлена с возможностью юстировочных перемещений вдоль оптической оси третьего объектива и в направлении,перпендикулярном его оптической оси. Наличие второго объектива с диафрагмой и расположение тест-объекта в задней фокальной плоскости второго объектива обеспечивают формирование в плоскости тестобъекта пятна подсветки, согласованного по размерам и угловой расходимости с полем зрения и апертурой юстируемой панкратической системы во всем диапазоне ее увеличений, что обеспечивает повышение контраста изображения. Наличие в системе наблюдения третьего объектива, установленного с возможностью перемещения вдоль его оптической оси, по меньшей мере, в два фиксированных положе 2 44522008.06.30 ния, позволяет получение разных масштабов изображения при наблюдении, что обеспечивает повышение точности юстировки для крайних увеличений панкратической системы. Фотоприемное устройство, имеющее выход для подключения к монитору, обеспечивает возможность использования телемониторов, что снижает утомляемость наблюдателей и обеспечивает повышение производительности юстировки. Расположение тест-объекта и измерительной сетки со штрихами исключает необходимость использования сменных частей в процессе юстировки, что обеспечивает упрощение конструкции устройства для юстировки панкратической системы. На фигуре представлена принципиальная схема устройства для юстировки панкратической системы и показан вид поля зрения монитора в момент юстировки панкратической системы при использовании устройства. Устройство для юстировки панкратической системы включает в себя оптически сопряженные и последовательно установленные источник излучения 1, конденсор 2, первую диафрагму 3, первый объектив 4, интерференционный светофильтр 5, второй объектив 6,вторую диафрагму 7, зеркало 8 и зеркало 9, тест-объект 10 и систему наблюдения 11. Система наблюдения 11 включает измерительную сетку 12 со штрихами, третий объектив 13 и фотоприемное устройство 14, имеющее выход для подключения к монитору 15. Первая диафрагма 3 установлена в передней фокальной плоскости первого объектива 4, тест-объект 10 размещен в задней фокальной плоскости второго объектива 6. Третий объектив 13 установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси, по меньшей мере, в два фиксированных положения, а измерительная сетка 12 со штрихами связана с системой наблюдения 11 и установлена с возможностью юстировочных перемещений вдоль оптической оси третьего объектива 13 и в направлении, перпендикулярном его оптической оси. На фигуре показаны также юстируемая панкратическая система 16, изображение 17 тест-объекта 10 и изображение 18 измерительной сетки 12 со штрихами. Работает устройство для юстировки панкратической системы следующим образом. Источник излучения 1 через конденсор 2 освещает первую диафрагму 3, расположенную в фокальной плоскости первого объектива 4. Параллельный пучок лучей из первого объектива 4 проходит через интерференционный светофильтр 5. После второго объектива 6 с диафрагмой 7 и зеркал 8 и 9 пучок излучения фокусируется в плоскости рисунка тестобъекта 10. Юстируемая панкратическая система 16 переносит изображение тест-объекта 10 в плоскость измерительной сетки 12 со штрихами системы наблюдения 11. С помощью третьего объектива 13, установленного с возможностью перемещения вдоль его оптической оси, по меньшей мере, в два фиксированных положения, изображения тест-объекта 10 и измерительной сетки 12 со штрихами проецируются на фотоприемное устройство 14,имеющее выход для подключения к монитору 15. Наблюдатель рассматривает на экране монитора 15 изображение 17 тест-объекта 10 и изображение 18 измерительной сетки 12 со штрихами и выполняет юстировку панкратической системы 16. При необходимости изменения масштаба изображения наблюдатель перемещает третий объектив 13 в другое фиксированное положение. Таким образом, новое устройство для юстировки панкратической системы имеет более простую конструкцию, исключает необходимость использования сменных частей в процессе юстировки и обеспечивает повышение контраста изображения при больших увеличениях панкратической системы, повышение точности юстировки для крайних увеличений панкратической системы, повышение производительности юстировки и снижение утомляемости наблюдателя. Национальный центр интеллектуальной собственности. 220034, г. Минск, ул. Козлова, 20. 3