Эталон для денситометрического определения оптической плотности материалов

Номер патента: U 1782

Опубликовано: 30.03.2005

Авторы: Белодед Леонид Владимирович, Маркварде Мечислав Марианович

Скачать PDF файл.

Текст

Смотреть все

НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ ЭТАЛОН ДЛЯ ДЕНСИТОМЕТРИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТИ МАТЕРИАЛОВ(71) Заявитель Государственное ведущее высшее учебное учреждение Белорусский государственный медицинский университет(72) Авторы Белодед Леонид Владимирович Маркварде Мечислав Марианович(73) Патентообладатель Государственное ведущее высшее учебное учреждение Белорусский государственный медицинский университет(57) Эталон для определения оптической плотности материалов путем денситометрии, отличающийся тем, что он выполнен в виде ступенчатой пластины из алюминия длиной 30 мм, шириной 5 мм, со ступеньками через каждые 5 мм по его длине с разницей их высоты в 1 мм, при этом толщина эталона в области первой наиболее утолщенной ступеньки составляет 6 мм, а 6-ой - 1 мм. 1782 Полезная модель относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий. В частности, для решения задач прецизионного измерения оптической плотности рентгеновского изображения материала и повышения качества его визуальной расшифровки. Известен эталон (оптический аттенюатор), выполненный в виде пластин из оптически прозрачного бесцветного термостойкого стекла или кварца с шероховатостью (степенью матированности), плавно изменяющейся по длине. Данный эталон обеспечивает различную степень неселективного рассеивания цвета и соответствующее ослабление яркости экрана в устройстве для контроля рентгенограмм 1, позволяет проводить измерения оптической плотности материалов при рентгенологическом исследовании. Однако соблюдение идентичных технических условий в процессе рентгенографии исследуемого материала не всегда представляется возможным (колебание напряжения в сети, неодинаковые технические режимы при экспонировании в процессе фотохимической обработки рентгеновской пленки и др.), что снижает точность измерения показателей оптической плотности материала, изучаемого с помощью известного эталона. Задача, на решения которой направлена предлагаемая полезная модель, - обеспечение объективного контроля измерений оптической плотности исследуемого объекта по рентгеновскому изображению и повышение точности его визуальной расшифровки. Поставленная задача решается при помощи предлагаемого эталона для денситометрического определения оптической плотности исследуемых объектов по рентгеновскому изображению, выполненного в виде ступенчатой пластины длиной 30 мм, шириной 5 мм,ступеньки через каждые 5 мм по его длине с разницей его высоты в 1 мм. Толщина эталона в области первой (наиболее утолщенной) ступеньки составляет 6 мм, а 6-ой - 1 мм. Вместе с тем предлагаемый ступенчатый алюминиевый эталон, предназначенный для исследования оптической плотности отдельных материалов (например, оптической плотности костной ткани), в момент рентгенографии находится в одинаковых условиях с исследуемым материалом и в одинаковых условиях процесса фотохимической обработки рентгеновской пленки. В данных обстоятельствах достигается объективность сравнительных показателей оптической плотности материала и оптической плотности эталона. Ступенчатая конфигурация предлагаемого эталона обеспечивает во-первых, постоянную оптическую плотность каждой отдельной площадки эталона во-вторых, разделение оптической плотности его отдельных ступенек (площадок) оптимизирует выбор исходного параметра оптической плотности определенной площадки эталона для последующих сопоставлений с оптической плотностью исследуемого материала. Схема ступенчатого эталона представлена на фиг. 1 - вид сбоку в виде ступенчатой пластины 1 длиной 30 мм, шириной 5 мм, ступеньки 2 через каждые 5 мм по его длине с разницей его высоты в 1 мм. Толщина эталона в области первой (наиболее утолщенной) ступеньки составляет 6 мм, а 6-ой - 1 мм на фиг-2 - вид спереди на фиг. 3 - внешний вид ступенчатого эталона. Эталон работает следующим образом. Эталон прикрепляют к рентгеновской пленке. Производят рентгеновский снимок изучаемого материала одновременно с эталоном. Проводят проявление рентгеновского снимка. Готовое аналоговое изображение материала и эталона сканируют и трансформируют в цифровое, исследуют с помощью ПЭВМ, находя значение оптической плотности ступеньки эталона, наиболее приближающееся к оптической плотности материала. Предложенный эталон позволяет четко определять изменение оптической плотности материала при его рентгенологическом исследовании и повысить точность визуальной расшифровки участка материала по его изображению на рентгеновском снимке. 1782 Пример. Предложенный эталон был применен в стоматологической практике при определении плотности костной ткани зубов пациента А. Эталон прикрепляли к рентгеновской пленке. Производили рентгеновский снимок изучаемого материала одновременно с эталоном. Рентгеновский снимок проявляли. Готовое аналоговое изображение материала и эталона сканировали и трансформировали в цифровое, которые исследовали с помощью ПЭВМ, находя значение оптической плотности ступеньки эталона, наиболее приближающееся к оптической плотности костного материала. На исходной рентгенограмме нижней челюсти первоначально измеренная оптическая плотность (в условных единицах) шести ступенек эталона, составила 1-я - 205 2-я - 190 3-я - 172 4-я - 150 5-я - 120 и 6-я - 86 ед. Средняя оптическая плотность костной ткани в области 36 зуба составила 189 условных единиц, что оказалось максимально приближенной к оптической плотности 2-ой ступеньки эталона - 190 единиц. Разница оптической плотности исследуемых объектов составила одну условную единицу. Оптическая плотность 2-й ступеньки эталона у данного пациента была принята за основу для последующих сопоставлений с плотностью костной структуры. Таким образом, применение ступенчатого металлического эталона позволило установить следующее идентичность значений оптической плотности исследуемой ступеньки эталона на исходной и повторной рентгенограммах подтверждает наличие постоянных технических условий. Национальный центр интеллектуальной собственности. 220034, г. Минск, ул. Козлова, 20.

МПК / Метки

МПК: G01J 1/04

Метки: определения, материалов, плотности, эталон, денситометрического, оптической

Код ссылки

<a href="https://by.patents.su/3-u1782-etalon-dlya-densitometricheskogo-opredeleniya-opticheskojj-plotnosti-materialov.html" rel="bookmark" title="База патентов Беларуси">Эталон для денситометрического определения оптической плотности материалов</a>

Похожие патенты