Маркварде Мечислав Марианович

Номер патента: U 1782

Опубликовано: 30.03.2005

Авторы: Белодед Леонид Владимирович, Маркварде Мечислав Марианович

МПК: G01J 1/04

Метки: плотности, эталон, денситометрического, определения, материалов, оптической

Текст:

...находится в одинаковых условиях с исследуемым материалом и в одинаковых условиях процесса фотохимической обработки рентгеновской пленки. В данных обстоятельствах достигается объективность сравнительных показателей оптической плотности материала и оптической плотности эталона. Ступенчатая конфигурация предлагаемого эталона обеспечивает во-первых, постоянную оптическую плотность каждой отдельной площадки эталона во-вторых, разделение...