Патенты с меткой «дефектности»

Номер патента: 18254

Опубликовано: 30.06.2014

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01N 27/72

Метки: проницаемости, дефектности, электропроводящего, электропроводности, способ, магнитного, контроля, свойств, объекта, магнитных, магнитоимпульсного, толщины, магнитной, частности, удельной, материала, также, электрических

Текст:

...поля, сканируют магнитный носитель считывающим устройством вдоль линии замера, находят распределение указанного электрического напряжения с несколькими его максимумами вдоль координаты , создают визуальную растровую картину этого распределения, а затем определяют искомые свойства контролируемого объекта путем сравнения заданных максимумов указанного распределения или всего распределения в целом в растровой либо цифровой форме с...

Номер патента: 18253

Опубликовано: 30.06.2014

Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич

МПК: G01N 27/72

Метки: объекта, контроля, толщины, электропроводности, магнитоимпульсного, проницаемости, частности, электропроводящего, материала, электрических, магнитной, магнитного, удельной, свойств, магнитных, формы, также, способ, дефектности, сложной

Текст:

...импульсов магнитного поля различной полярности, уменьшая амплитуду магнитного поля от импульса к импульсу, сканируют магнитный носитель считывающим устройством и измеряют величину электрического напряжения на его выходе, пропорциональную величине напряженности записанного носителем остаточного магнитного поля поверхности объекта, подбирают и записывают параметры воздействующего магнитного поля, обеспечивающие максимальную разницу величин...

Номер патента: 17807

Опубликовано: 30.12.2013

Автор: Ярмолович Вячеслав Алексеевич

МПК: G01N 27/82

Метки: контроля, ферромагнитного, изделия, дефектности, устройство

Текст:

...ряд новых элементов,позволяющих реализовать выполнение поставленной задачи по повышению достоверности распознавания размеров дефектов и области их пространственного размещения относительно контролируемой поверхности. Решение поставленной задачи достигается тем,что в устройстве используется не только определение дефектов (приповерхностных) по остаточной намагниченности, но и глубинных, когда они находятся между полюсами магнитов, а исследуемый...

Номер патента: 17626

Опубликовано: 30.10.2013

Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич

МПК: G01N 27/72

Метки: способ, дефектности, свойств, электропроводящего, магнитных, контроля, электрических, объекта, или, материала, немагнитного, магнитного, магнитоимпульсного, также

Текст:

...1,2 и 3 изображены зависимости величины напряжения, снимаемого с индукционной магнитной головки (считывающее устройство), сканирующей дискретный датчик магнитного поля (ДДМП), от времени, с записями отраженных от поверхности контролируемого объекта импульсных магнитных полей. Таким образом, ДДМП располагают на поверхности объекта со стороны первичного источника магнитного поля. ДДМП состоит из чередующихся параллельных магнитных и немагнитных...

Номер патента: 16816

Опубликовано: 28.02.2013

Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич

МПК: G01N 27/72

Метки: способ, магнитных, или, объекта, электропроводящего, немагнитного, материала, электрических, дефектности, магнитного, контроля, свойств, магнитоимпульсного

Текст:

...обратного и прямого направления. В качестве излучателя импульсного магнитного поля использован линейный индуктор (проводник), ось которого располагали параллельно поверхности контролируемой пластины. Координата проекции оси индуктора на поверхность пластины на фигурах 4-7 соответствует времени 500 мкс, а на фиг. 8 - 1150 мкс. Максимальная величина напряженности магнитного поля импульса равна 2,3104 А/м, обратного выброса - 9103 А/м и...

Номер патента: 13905

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01N 27/72

Метки: контроля, дефектности, магнитного, электрических, свойств, изделия, электропроводящего, толщины, материала, формы, способ

Текст:

...или выполнении условий их ограничения. В качестве эталонных изображений используют предварительно созданные изображения распределений нормальной составляющей напряженности магнитного поля для неидеальных объектов с заданной величиной и распределением удельной электропроводности, с разной толщиной и разными распределениями дефектов. Измерение величины нормальной составляющей напряженности магнитного поля осуществляют при различных...

Номер патента: 11266

Опубликовано: 30.10.2008

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01R 33/02, G01N 27/72

Метки: свойств, магнитных, электрических, способ, материала, дефектности, ферромагнитного, механических, контроля, магнитного

Текст:

...и глубину его залегания в материале. Воздействуем на материал толщинойодиночными однополярными импульсами магнитного поля со временами нарастания, обеспечивающими эффектную глубину проникновения поля(глубину, на которой амплитуда напряженности магнитного поля(третий импульс), то при воздействии Если дефект начинается на глубине 32 на материал первыми двумя импульсами в поле рассеяния дефекта на поверхности материала не появится, а, начиная с...

Номер патента: 11265

Опубликовано: 30.10.2008

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01R 33/02, G01N 27/72

Метки: изделия, дефектности, материала, магнитного, электрических, свойств, контроля, способ, электропроводящего

Текст:

...глубина проникновения магнитно 3 11265 1 2008.10.30 го поля . Передний фронт указанного импульса магнитного поля можно представить как синусоидальный, что в действительности и реализуется, т.к. индуктивности цепи первичного источника сглаживают угол перехода линейно нарастающего импульса в импульс с постоянной величиной 0. Таким образом, передний фронт указанного импульса есть четвертьсинусоида (импульс в четверть волны). Следовательно,...

Номер патента: 10464

Опубликовано: 30.04.2008

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01N 27/00

Метки: электрических, материала, электропроводящего, свойств, дефектности, способ, объекта, контроля, магнитных, немагнитного, или, магнитоимпульсного, магнитного

Текст:

...импульсовах с обеспечением возможности проникновения в контролируемый материал на различную эффективную глубину, определяемуюах, на поверхности объекта выбирают линию замера и находят распределение максимальной тангенциальной составляющей напряженности магнитного поляпо этой линии для каждого импульса, формируют оптическое изображение распределениядля слоев объекта в виде растра, ширину каждой из полос которого устанавливают прямо...

Номер патента: 9175

Опубликовано: 30.04.2007

Авторы: Корнелюк Александр Иванович, Аваков Сергей Мирзоевич

МПК: G06K 9/00

Метки: первичных, дефектности, контроля, шаблонов, способ

Текст:

...участка, соответствующего просканированному участку ПШ (операция 3). Формируют параметрическую модель эталонного участка ПШ (операция 4). Количество параметров модели определяется как насыщенностью топологии, так и количеством контролируемых характеристик ПШ. Формируют аналогичную параметрическую модель контролируемого участка (операция 5). Производят сравнение соответствующего параметра одной и другой модели и определяют величину разности...

Номер патента: 8893

Опубликовано: 28.02.2007

Авторы: Корнелюк Александр Иванович, Аваков Сергей Мирзоевич

МПК: G01N 21/00, G06K 9/00

Метки: первичных, шаблонов, способ, контроля, дефектности

Текст:

...и знаку разности определяют тип дефекта и наличие загрязненности на непрозрачных участках первичного ШаблонаИзобретение поясняется чертежом. где представлены эпюры сигналов после операцийСуть способа заключается в следующемСканируют рабочую поверхность ПШ фиг 1 а) и создают первый поток данных(фиг. 1 б). значения которых соответствуют реальному изображению каждого пиксела в проходящем свете. из проектных данных создают второй поток данных...