Патенты с меткой «поверхностно-упрочненного»

Способ магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия

Загрузка...

Номер патента: 16057

Опубликовано: 30.06.2012

Автор: Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72

Метки: ферромагнитного, слоя, способ, контроля, толщины, изделия, поверхностно-упрочненного, магнитного

Текст:

...и в сравнении с предварительно измеренными значениями максимального магнитного потока Фэ и остаточного магнитного потока Фэ эталонного изделия из числа контролируемых, у которого отсутствует упрочненный слой,обеспечивает высокую чувствительность суммы (Фэ - Ф)/Ф(Ф - Фэ)/Ф относительных изменений максимального и остаточного магнитных потоков к толщине поверхностно-упрочненного слоя контролируемого изделия в широком диапазоне его изменения. На...

Устройство для магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия с большим размагничивающим фактором

Загрузка...

Номер патента: U 7855

Опубликовано: 30.12.2011

Автор: Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72

Метки: слоя, размагничивающим, толщины, изделия, контроля, магнитного, устройство, фактором, большим, поверхностно-упрочненного, ферромагнитного

Текст:

...контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия с большим размагничивающим фактором за счет того, что значительная часть силовых линий магнитного поля намагничивающей катушки вне ее рабочей области замыкается через окружающий ее экран, а внешние электромагнитные поля ослабляются обоими экранами, что уменьшает влияние намагничивающей катушки на величину остаточного магнитного потока контролируемого изделия и...

Устройство для магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия

Загрузка...

Номер патента: U 7129

Опубликовано: 30.04.2011

Автор: Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72

Метки: поверхностно-упрочненного, контроля, ферромагнитного, толщины, изделия, слоя, устройство, магнитного

Текст:

...магнитного потока Ф 0 эталонного изделия из числа контролируемых, у которого отсутствует упрочненный слой, обеспечивает высокую чувствительность информационного параметра, определяемого по алгоритму (Ф - Ф 0)/Ф(Ф 0 - Ф)/Ф, к толщине поверхностно-упрочненного слоя контролируемого изделия в широком диапазоне его изменения. На фиг. 1 представлена функциональная схема полезной модели по заявке. На фиг. 2 представлены зависимости измеряемого...

Способ магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя протяженного ферромагнитного изделия

Загрузка...

Номер патента: 12437

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Сандомирский Сергей Григорьевич, Синякович Эдуард Брониславович

МПК: G01N 27/72

Метки: ферромагнитного, протяженного, толщины, поверхностно-упрочненного, контроля, изделия, магнитного, слоя, способ

Текст:

...от толщиныповерхностного слоя в форме полого цилиндра из материала с Н - 590 А/м (кривые 1/ и 2/) и с Н 1700 А/м (кривые 1 и 2) представлены на фиг. 1. Образцы изготовлены из стали ШХ 15 с различной микроструктурой. Кривыми 1 Р и 2 Р обозначены разности соответственно между зависимостями 1 и 1/ и зависимостями 2 и 2/. 12437 1 2009.10.30 Как показали эксперименты, при постоянстве длины изделий увеличение их диаметра при постоянстве магнитных...

Способ контроля толщины и твердости поверхностно-упрочненного слоя изделия из ферромагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 10698

Опубликовано: 30.06.2008

Авторы: Пинчуков Дмитрий Анатольевич, Мельгуй Михаил Александрович, Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72, G01B 7/02, G01N 27/80...

Метки: толщины, контроля, материала, поверхностно-упрочненного, изделия, способ, твердости, ферромагнитного, слоя

Текст:

...серией, а толщинуупрочненного слоя и твердостьего поверхности определяют по уравнениям множественной корреляции типа(2)01230456 ,где числоимпульсов в четвертой серии и коэффициенты а 0, а 1, а 2, а 3, а 4, 5, 6 и 0, 1, 2,3, 4, 5, 6 установлены предварительно из условия получения минимальных среднеквадратических отклоненийи максимальных коэффициентов корреляции . На фиг. 1 показана последовательность изменения амплитуды импульсов...