Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем

(51) МПК (2006) НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ(71) Заявитель Открытое акционерное общество Пеленг(72) Авторы Тареев Анатолий Михайлович Панько Ольга Ильинична Кологривов Виктор Павлович Дятлов Олег Александрович(73) Патентообладатель Открытое акционерное общество Пеленг(57) 1. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем, содержащий последовательно установленные на оптической оси объектив и держатель для размещения тестобъекта, а также систему подсветки, отличающийся тем, что объектив установлен с возможностью перемещения вдоль оптической оси и снабжен отсчетным устройством для измерения величины указанного перемещения, система подсветки содержит по меньшей мере два блока ламп, установленных симметрично относительно оптической оси объектива с возможностью поблочного их включения, при этом по меньшей мере между одной из ламп и держателем для размещения тест-объекта на оси, соединяющей центр держателя для размещения тест-объекта и центр тела свечения лампы, последовательно установлены рассеиватель и первый ослабитель светового излучения, а объектив, держатель для размещения тест-объекта и система подсветки установлены внутри светонепроницаемого корпуса, выполненного с отверстием для вывода указанного держателя за пределы корпуса для замены тест-объекта. 11759 1 2009.04.30 2. Прибор по п. 1, отличающийся тем, что отсчетное устройство содержит закрепленную на корпусе объектива подвижную шкалу, а также неподвижный индекс, закрепленный на светонепроницаемом корпусе над подвижной шкалой. 3. Прибор по п. 1, отличающийся тем, что каждый из блоков ламп содержит по меньшей мере три лампы накаливания. 4. Прибор по п. 1, отличающийся тем, что первый ослабитель светового излучения выполнен в виде нейтрального светофильтра, установленного с возможностью ввода/вывода в соответствующий оптический тракт. 5. Прибор по п. 1, отличающийся тем, что первый ослабитель светового излучения выполнен в виде калиброванной диафрагмы либо набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью поочередного ввода/вывода в соответствующий оптический тракт. 6. Прибор по п. 1, отличающийся тем, что содержит второй ослабитель светового излучения, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт между объективом и контролируемой оптико-электронной системой и выполненный в виде нейтрального светофильтра. 7. Прибор по п. 1, отличающийся тем, что содержит телескопическую систему, установленную с возможностью ввода/вывода в оптический тракт между объективом и контролируемой оптико-электронной системой. Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно - к приборам контроля параметров телевизионных систем. Известен широкоугольный коллиматор 1 для контроля параметров оптико-электронных систем, в частности контроля телескопических систем, включающий расположенные последовательно на одной оси объектив, установленный в его фокальной плоскости тестобъект в виде сетки с измерительными шкалами на ее первой рабочей поверхности, обращенной к объективу, и осветитель. Основным недостатком этого устройства является невозможность контроля параметров телевизионных систем с различными режимами работы. Наиболее близким по технической сущности является устройство для контроля параметров оптико-электронных систем 2, в частности для контроля лазерного дальномера,содержащее расположенные последовательно на оптической оси объектив, держатель для размещения тест-объекта и систему подсветки, включающую оптически связанные отражающее зеркало, конденсор и источник света. При этом источник света создает постоянное значение освещенности в плоскости тест-объекта. В качестве тест-объекта используют фотопленку, на поверхности которой в результате теплового воздействия лазерного излучения образуется прозрачное отверстие в эмульсионном слое. Одним из недостатков этого устройства является невозможность контроля параметров телевизионных систем с различными режимами работы в связи с невозможностью создания широкого диапазона нормированных освещенностей в плоскости тест-объекта. Вторым недостатком этого устройства является невозможность контроля различных параметров телевизионных систем в связи со сложностью изготовления сменных тест-объектов с различными рисунками на фотопленке. Задачей полезной модели является расширение функциональных возможностей прибора путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и замены сменных тест-объектов с различными рисунками. Для решения поставленной задачи в приборе для контроля параметров оптикоэлектронных систем, включающем установленные последовательно на оптической оси объектив и держатель для размещения тест-объекта, а также систему подсветки, новым 2 11759 1 2009.04.30 является то, что объектив установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством, система подсветки включает по меньшей мере два блока ламп, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива с возможностью поблочного включения ламп, при этом хотя бы между одной из ламп системы подсветки и держателем для размещения тест-объекта последовательно установлены рассеиватель и первый ослабитель светового излучения на оси, соединяющей центр держателя для размещения тест-объекта и центр тела свечения лампы, объектив, держатель для размещения тест-объекта и система подсветки размещены внутри светонепроницаемого корпуса, имеющего отверстие для вывода держателя для размещения тест-объекта за пределы корпуса для замены тест-объекта. Отсчетное устройство выполнено в виде подвижной шкалы, закрепленной на корпусе объектива, и неподвижного индекса, закрепленного в корпусе над подвижной шкалой. Каждый из блоков ламп включает по меньшей мере три лампы накаливания. Первый ослабитель светового излучения может быть выполнен в виде нейтрального светофильтра, установленного с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. Первый ослабитель светового излучения может быть выполнен в виде калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью поочередного ввода/вывода в оптический тракт. Между объективом и контролируемой оптико-электронной системой может быть введен второй ослабитель светового излучения, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. Между объективом и контролируемой оптико-электронной системой может быть введена телескопическая система, установленная с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. Выполнение системы подсветки, включающей по меньшей мере два блока ламп, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива с возможностью поблочного включения ламп, а также установка хотя бы между одной из ламп системы подсветки и держателем для размещения тест-объекта последовательно рассеивателя и первого ослабителя светового излучения на оси, соединяющей центр держателя для размещения тест-объекта и центр тела свечения лампы, позволяет расширить функциональные возможности прибора путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта. Использование в каждом из блоков ламп по меньшей мере трех ламп накаливания обеспечивает равномерность освещенности в плоскости тест-объекта. Выполнение тест-объекта, например, в виде миниплаката с рассеивающей поверхностью, обращенной в сторону объектива, на которой выполнен рисунок, и держателя тест-объекта с возможностью его вывода за пределы корпуса для замены тест-объекта позволяет установить сменные тест-объекты с различными рисунками, позволяющими контролировать различные параметры телевизионных систем. Сущность изобретения поясняется чертежом. На фигуре изображена принципиальная схема прибора для контроля параметров оптико-электронных систем. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем содержит оптически связанные объектив 1, держатель 2 для размещения тест-объекта 3 и систему подсветки 4. Объектив 1 установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством 5 для измерения величины перемещения объектива 1. Система подсветки 4 включает два блока ламп 6 по три лампы 7, 8, 9 в каждом блоке ламп 6,симметрично расположенных относительно оптической оси объектива 1. Между лампами 8 устройства подсветки 4 и держателем 2 для размещения тест-объекта 3 последовательно установлены рассеиватель 10 и первый ослабитель 11. Первый ослабитель 11 может быть выполнен в виде нейтрального светофильтра, набора нейтральных светофильтров, калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. Объектив 1, держатель 2 для размещения тестобъекта 3 и система подсветки 4 размещены внутри светонепроницаемого корпуса 12,3 11759 1 2009.04.30 имеющего отверстие для размещения в нем объектива 1. Отсчетное устройство 5 может быть выполнено в виде подвижной шкалы 13, закрепленной на корпусе 14 объектива 1, и неподвижного индекса 15, закрепленного в корпусе 12 над подвижной шкалой 13. Между объективом 1 и контролируемой оптико-электронной системой 16 может быть введен второй ослабитель 17, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. В прибор для контроля параметров оптико-электронных систем может быть введена телескопическая система 18, установленная с возможностью ввода/вывода в оптический тракт на выходе объектива 1. На фигуре также показан видеомонитор 19, на экране которого визуально по изображению тест-объекта контролируют параметры оптико-электронной системы 16. Устройство работает следующим образом. Контролируемую оптико-электронную систему 16 располагают перед прибором таким образом, чтобы ее телевизионный канал оказался напротив выходного зрачка объектива 1. Закрепляют в держателе 2 необходимый тест-объект 3. Устанавливают держатель 2 с закрепленным в нем тест-объектом 3 в корпус 12. Включают блоки ламп 6 системы подсветки 4. Наблюдая на экране видеомонитора 19 изображение тест-объекта 3, поворотами оптико-электронной системы 16 устанавливают центр изображения тест-объекта 3 в центр экрана видеомонитора 19. При необходимости подвижкой объектива 1 добиваются резкого сфокусированного изображения тест-объекта 3 на экране видеомонитора 19. Измерив величину подвижки объектива 1 с помощью отсчетного устройства 5, вычисляют величину несовпадения плоскости фотоприемного устройства оптико-электронной системы 16 с фокальной плоскостью объектива оптико-электронной системы 16. Включая лампы 7, 8, 9 блоков ламп 6 в различных комбинациях и вводя рассеиватель 10 и первый ослабитель 11 перед лампами 8 блоков ламп 6, создают различные освещенности в широком диапазоне в плоскости тест-объекта 3. Визуально по изображению тест-объекта 3 на экране видеомонитора 19 контролируют параметры оптико-электронной системы 16 при различных освещенностях в плоскости тест-объекта 3. Устанавливая в держатель 2 тест-объекты 3 с различными рисунками, контролируют различные параметры оптико-электронной системы 16. При необходимости контроля параметров оптико-электронных систем 16, имеющих различные поля зрения, для того чтобы использовать один и тот же тест-объект 3 без его замены и без дополнительных настроек, в оптический тракт на выходе из объектива 1 вводится телескопическая система 18, позволяющая изменить угловой размер тестобъекта 3 до величины, соответствующей угловому полю зрения контролируемой оптикоэлектронной системы 16. При необходимости дополнительного ослабления светового излучения на выходе из объектива 1 может быть установлен второй ослабитель 17 в виде нейтрального светофильтра. При проведении контроля параметров оптико-электронной системы 16 исключается фоновая засветка, так как объектив 1, держатель 2 с тестобъектом 3 и система подсветки 4 находятся в светонепроницаемом корпусе 12. Таким образом, прибор для контроля оптико-электронных систем обеспечивает расширение функциональных возможностей путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и замены сменных тест-объектов с различными рисунками. Источники информации 1. Патент 363 , 2001. 2. Патент 6407 С 1, 2004 (прототип). Национальный центр интеллектуальной собственности. 220034, г. Минск, ул. Козлова, 20. 4