Патенты с меткой «параметра»

Способ определения параметра сужения запрещенной зоны полупроводника

Загрузка...

Номер патента: 15271

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Луценко Евгений Викторович, Кононенко Валерий Константинович

МПК: G01R 33/00

Метки: запрещенной, сужения, параметра, полупроводника, способ, зоны, определения

Текст:

...данным , кривая 3 - расчет для постоянных хвостов плотности состояний (ширина хвостов 50 мэВ,5,310-5 мэВсм),на фиг. 4 - кривые зависимости величиныот концентрации носителей 0, кривая 1 построена по экспериментальным данным , кривая 4 - учет изменения ширины хвостовот температуры и уровня возбуждения полупроводника (4,110-5 мэВсм),на фиг. 5 - кривые зависимостиот температуры , кривая 1 построена по экспериментальным данным , кривая 2...

Устройство для измерения электрокинетического параметра дисперсных сред

Загрузка...

Номер патента: 2792

Опубликовано: 30.06.1999

Авторы: ГРИНЮК Дмитрий Анатольевич, ОРОБЕЙ Игорь Олегович, Марцуль Владимир Николаевич, КУЗЬМИЦКИЙ Иосиф Фелицианович

МПК: G01N 27/60, G01N 27/26

Метки: устройство, дисперсных, параметра, измерения, электрокинетического, сред

Текст:

...электронный измерительный блок, содержащий синхронный детектор, причем подвижной элемент установлен на валу с возможностью вращения, а на внутренней поверхности установлены одна или более дополнительных пар электродов. Кроме этого, подвижной элемент выполнен крестообразным. Кроме этого, в устройстве на валу подвижного элемента установлен стробоскопический диск, который связан с синхронным детектором. На фиг. 1 показана конструкция...