Шукевич Анатолий Куприянович
Устройство для раздельного магнитного контроля толщины двухслойных покрытий
Номер патента: U 4635
Опубликовано: 30.08.2008
Авторы: Шукевич Анатолий Куприянович, Лукьянов Андрей Леонтьевич, Булатов Олег Владимирович, Лухвич Александр Александрович
МПК: G01R 33/02
Метки: толщины, магнитного, покрытий, контроля, раздельного, двухслойных, устройство
Текст:
...а две последние практически равны единице. На фиг. 1 показана схема устройства для раздельного магнитного контроля толщины двухслойных покрытий. На фиг. 2 изображена градуировочная зависимость в виде сетки, построенной по результатам расчетов информативных сигналов, соответствующих моделям дисков одинакового диаметра, различающихся по толщине никелевого основания и толщине хромового покрытия. 2 46352008.08.30 Полезная модель (фиг. 1) содержит...
Устройство для измерения толщин ферромагнитных изделий и немагнитных покрытий на этих изделиях
Номер патента: U 1608
Опубликовано: 30.12.2004
Авторы: Лухвич Александр Александрович, Полоневич Александр Антонович, Шарандо Владимир Иванович, Шукевич Анатолий Куприянович
МПК: G01B 7/06
Метки: немагнитных, изделиях, устройство, ферромагнитных, изделий, измерения, толщин, покрытий, этих
Текст:
...Недостатком данного устройства является измерение только одного параметра (толщины ферромагнитного листа или толщины немагнитного покрытия). Значение второго параметра необходимо задавать или измерять независимыми методами. Целью изобретения является обеспечение возможности одновременного определения толщины ферромагнитного основания и поверхностного немагнитного слоя (любое немагнитное покрытие, практически немагнитный коррозионный слой,...