Семенов Александр Евгеньевич

Номер патента: 4120

Опубликовано: 30.09.2001

Авторы: Семенов Александр Евгеньевич, Кугейко Михаил Михайлович

МПК: G01N 21/89

Метки: способ, дефектоскопического, объекта, обследования, поверхности

Текст:

...и к необходимости калибровочных испытаний, что, вдобавок, ведет к увеличению трудоемкости процесса контроля. Предлагаемое изобретение направлено на решение задачи исключения методических погрешностей, обусловленных изменениями аппаратурных констант приемно-излучающих блоков, изменениями в окружающей среде при обнаружении поверхностных дефектов объектов. Поставленная задача достигается тем, что излучение в точки-поверхности контролируемого...