Пастухов Михаил Иванович

Номер патента: 6158

Опубликовано: 30.06.2004

Авторы: Кондратенко Владимир Иванович, Сытько Владимир Владимирович, Тихова Елена Леонидовна, Пастухов Михаил Иванович

МПК: G01B 11/30

Метки: устройство, определения, шероховатости, поверхности, способ

Текст:

...по которой судят об интегральной интенсивности промодулированного отраженного излучения на заданной пространственной частоте, а о шероховатости поверхности судят по средней квадратической высоте микронеровностей на поверхности,которую определяют по отношению интегральной интенсивности промодулированного отраженного излучения на заданной пространственной частоте к интенсивности отраженного излучения на нулевой пространственной частоте....