Патенты с меткой «спектрально-фотометрической»
Способ спектрально-фотометрической дефектоскопии поверхности объекта и устройство для его осуществления
Номер патента: 18485
Опубликовано: 30.08.2014
Авторы: Бондарев Олег Юрьевич, Марукович Евгений Игнатьевич, Патук Елена Михайловна, Старовойтов Анатолий Григорьевич, Марков Алексей Петрович
МПК: G01N 21/88
Метки: способ, устройство, объекта, поверхности, спектрально-фотометрической, дефектоскопии, осуществления
Текст:
...по интенсивности отраженного дефектным участком излучения требует продолжительного рассмотрения изображения с регулированием резкости непрерывно освещенного участка поверхности и его восприятия через объектив, что также снижает достоверность и производительность способа визуально-оптической дефектоскопии 2, с. 60-72. Способ ступенчатого регулирования освещенности в визуально-оптической дефектоскопии не решает задачи улучшения...