Устройство для очистки поверхности изделий из ферромагнитных материалов
Номер патента: U 2060
Опубликовано: 30.09.2005
Авторы: Мокринский Сергей Владимирович, Лопес Руслан Мануэль, Мокринский Владимир Валерьевич, Воинов Валерий Васильевич
Текст
(12) НАЦИОНАЛЬНЫЙ ЦЕНТР ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОЧИСТКИ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ(71) Заявитель Учреждение образования Военная академия Республики Беларусь(72) Авторы Воинов Валерий Васильевич Мокринский Владимир Валерьевич Мокринский Сергей Владимирович Лопес Руслан Мануэль(73) Патентообладатель Учреждение образования Военная академия Республики Беларусь(57) Устройство для очистки поверхности изделий из ферромагнитных материалов, содержащее электромагнит, соединенный с выходом усилителя мощности, генератор импульсов, управляемый аттенюатор, первый и второй согласующие блоки, источник опорного напряжения, источник напряжения логической единицы, датчик магнитного поля, первый датчик механических 20602005.09.30 колебаний, первый и второй усилители, амплитудный детектор, первую схемы вычитания, блок дифференцирования, первый и второй компараторы, первую, вторую, третью, четвертую, пятую и шестую схемы И, первую и вторую схемы НЕ, схему ИЛИ, схему И-НЕ, первый и второй счетчики импульсов, цифровой компаратор и схему задержки, в котором выход управляемого аттенюатора подключен к входу усилителя мощности, выход источника напряжения логической единицы подключен к первому входу первой схемы И, выход которой соединен с входом первого согласующего блока, а также с первыми входами второй и третьей схем И, а также с первым входом схемы И-НЕ, выход первого согласующего блока соединен с входом аттенюатора, на управляющий вход которого сигнал подается с выхода второго согласующего блока,датчик магнитного поля посредством первого усилителя и амплитудного детектора соединен с первым входом первой схемы вычитания, второй вход которой соединен с выходом источника опорного напряжения, а выход подключен к входу второго согласующего блока, первый датчик механических колебаний посредством второго усилителя подключен к первому входу первого компаратора и входу блока дифференцирования, выход которого соединен с первым входом второго компаратора, вторые входы первого и второго компараторов соединены с общей шиной устройства, выход первого компаратора соединен со вторым входом третьей схемы И, выход которой подключен к первому входу четвертой схемы И, выход которой соединен с входом первого счетчика импульсов, выход второго компаратора подключен ко второму входу схемы И-НЕ, выход которой соединен с входом первой схемы НЕ и вторым входом пятой схемы И,выход которой соединен с первым входом шестой схемы И, выход которой подключен к входу второго счетчика импульсов, выходы первого и второго счетчиков импульсов соединены соответственно с первым и вторым входами цифрового компаратора, выход которого соединен с входом схемы задержки, а также со вторым входом шестой схемы И и входом схемы НЕ, выход схемы задержки соединен с управляющими входами первого и второго счетчиков импульсов,выход второй схемы НЕ соединен со вторым входом схемы ИЛИ, выход которой подключен ко второму входу первой схемы И, а первый вход соединен с выходом второй схемы И, второй вход которой подключен к выходу первой схемы НЕ, выход генератора импульсов соединен со вторым входом четвертой схемы И и первым входом пятой схемы И, отличающееся тем, что включает второй датчик механических колебаний, первый, второй и третий усилители с регулируемым коэффициентом усиления, вторую схему вычитания, квадратор, интегратор, индикатор, управляемый коммутатор, причем второй датчик механических колебаний через первый регулируемый усилитель подключен к первому входу второй схемы вычитания, ко второму входу второй схемы вычитания и ко второму входу управляемого коммутатора подключен выход второго усилителя, выход второй схемы вычитания подключен к входам второго регулируемого усилителя и квадратора, выход второго регулируемого усилителя подключен к первому входу управляемого коммутатора, выход квадратора подключен к входу интегратора, выход интегратора подключен к входам индикатора и третьего регулируемого усилителя, выход третьего регулируемого усилителя подключен к управляющему входу управляемого коммутатора, выход которого подключен к входам первого компаратора и блока дифференцирования.(56) 1. Патент Российской Федерации 95103920, МПК 664 15/18 // Бюл.34, 10.12.1996. 2. Патент Республики Беларусь 4929, МПК В 08 В 7/02 // Бюл.1, 2003. Полезная модель относится к устройствам для очистки поверхности от налипших веществ и различного рода отложений и может быть использована для очистки поверхностей изделий из ферромагнитных материалов от твердых отложений. Известно устройство 1 для деформации конструкции и окружающей ее среды, содержащее зарядное устройство, накопительный конденсатор, катушки, тиристоры, блок управления, формирователь импульсов напряжения, введенный в цепь между накопитель 2 20602005.09.30 ным конденсатором с зарядным устройством и катушками с тиристорами, управляющий вход которого соединен с дополнительным выходом блока управления, вход соединен с накопительным конденсатором с зарядным устройством, а выход формирователя импульсов напряжения соединен с катушками, соединенными с тиристорами, при этом формирователь импульсов напряжения выполнен из тиристорного ключа, дросселя, двух диодов и выходного конденсатора, катод первого диода и вход тиристорного ключа соединены с входом формирователя импульсов напряжения, анод первого диода, катод второго диода,первый вывод дросселя и первый вывод выходного конденсатора соединены с выходом формирователя импульсов напряжения, второй вывод дросселя соединен с выходом тиристорного ключа, управляющий вход тиристорного ключа соединен с управляющим входом формирователя импульсов напряжения, второй вывод выходного конденсатора и анод второго диода соединены с общей минусовой шиной устройства. Недостатком известного устройства является то, что формируемые импульсы деформации конструкции не согласованы с частотными свойствами самой конструкции и отложений на ее поверхности, из-за чего скорость очистки оказывается низкой. Наиболее близким по совокупности признаков к заявляемой полезной модели является устройство для очистки поверхности изделий из ферромагнитных материалов 2, содержащее электромагнит, соединенный с выходом усилителя мощности, генератор импульсов, управляемый аттенюатор, первый и второй согласующие блоки, источник опорного напряжения, источник напряжения логической единицы, датчик магнитного поля,датчик механических колебаний, первый и второй усилители, амплитудный детектор,схему вычитания, блок дифференцирования, первый и второй компараторы, первую, вторую, третью, четвертую, пятую и шестую схемы И, первую и вторую схемы НЕ, схему ИЛИ, схему И-НЕ, первый и второй счетчики импульсов, цифровой компаратор и схему задержки, в котором выход управляемого аттенюатора подключен к входу усилителя мощности, выход источника напряжения логической единицы подключен к первому входу первой схемы И, выход которой соединен с входом первого согласующего блока, а также с первыми входами второй и третьей схем И, а также в первым входом схемы И-НЕ,выход первого согласующего блока соединен с входом управляемого аттенюатора, на управляющий вход которого сигнал подается с выхода второго согласующего блока, датчик магнитного поля посредством первого усилителя и амплитудного детектора соединен с первым входом схемы вычитания, второй вход которой соединен с выходом источника опорного напряжения, а выход подключен к входу второго согласующего блока, датчик механических колебаний посредством второго усилителя подключен к первому входу первого компаратора и входу блока дифференцирования, выход которого соединен с первым входом второго компаратора, вторые входы первого и второго компаратора соединены с общей шиной устройства, выход первого компаратора соединен со вторым входом третьей схемы И, выход которой подключен к первому входу четвертой схемы И, выход которой соединен с входом первого счетчика импульсов, выход второго компаратора подключен ко второму входу схемы И-НЕ, выход которой соединен с входом первой схемы НЕ и вторым входом пятой схемы И, выход которой соединен с первым входом шестой схемы И, выход которой подключен к входу второго счетчика импульсов, выходы первого и второго счетчиков импульсов соединены соответственно с первым и вторым входами цифрового компаратора, выход которого соединен с входом схемы задержки, а также со вторым входом шестой схемы И и входом второй схемы НЕ, выход схемы задержки соединен с управляющими входами первого и второго счетчиков импульсов, выход второй схемы НЕ соединен со вторым входом схемы ИЛИ, выход которой подключен ко второму входу первой схемы И, а первый вход соединен с выходом второй схемыИ, второй вход которой подключен к выходу первой схемы НЕ, выход генератора импульсов соединен со вторым входом четвертой схемы И и первым входом пятой схемы И. 20602005.09.30 Недостатком известного устройства является то, что из-за несогласованности параметров импульсов с частотными свойствами отложений, изменяющимися в процессе очистки по мере уменьшения их адгезионной прочности, скорость очистки существенно уменьшается. Задачей полезной модели является повышение скорости очистки. Техническим результатом осуществления полезной модели является повышение скорости очистки в 1,21,3 раза. Поставленная задача решается тем, что в устройство для очистки поверхности изделий из ферромагнитных материалов, содержащее электромагнит, соединенный с выходом усилителя мощности, генератор импульсов, управляемый аттенюатор, первый и второй согласующие блоки, источник опорного напряжения, источник напряжения логической единицы, датчик магнитного поля, первый датчик механических колебаний, первый и второй усилители, амплитудный детектор, первую схему вычитания, блок дифференцирования, первый и второй компараторы, первую, вторую, третью, четвертую, пятую и шестую схемы И, первую и вторую схемы НЕ, схему ИЛИ, схему И-НЕ, первый и второй счетчики импульсов, цифровой компаратор и схему задержки, в которой выход управляемого аттенюатора подключен к входу усилителя мощности, выход источника напряжения логической единицы подключен к первому входу первой схемы И, выход которой соединен с входом первого согласующего блока, а также с первыми входами второй и третьей схем И, а также с первым входом схемы И-НЕ, выход первого согласующего блока соединен с входом аттенюатора, на управляющий вход которого сигнал подается с выхода второго согласующего блока, датчик магнитного поля посредством первого усилителя и амплитудного детектора соединен с первым входом первой схемы вычитания, второй вход которой соединен с выходом источника опорного напряжения, а выход подключен к входу второго согласующего блока, первый датчик механических колебаний посредством второго усилителя подключен к первому входу первого компаратора и входу блока дифференцирования, выход которого соединен с первым входом второго компаратора, вторые входы первого и второго компараторов соединены с общей шиной устройства, выход первого компаратора соединен со вторым входом третьей схемы И, выход которой подключен к первому входу четвертой схемы И, выход которой соединен с входом первого счетчика импульсов, выход второго компаратора подключен ко второму входу схемы И-НЕ,выход которой соединен с входом первой схемы НЕ и вторым входом пятой схемы И, выход которой соединен с первым входом шестой схемы И, выход которой подключен к входу второго счетчика импульсов, выходы первого и второго счетчиков импульсов соединены соответственно с первым и вторым входами цифрового компаратора, выход которого соединен с входом схемы задержки, а также со вторым входом шестой схемы И и входом второй схемы НЕ, выход схемы задержки соединен с управляющими входами первого и второго счетчиков импульсов, выход второй схемы НЕ соединен со вторым входом схемы ИЛИ, выход которой подключен ко второму входу первой схемы И, а первый вход соединен с выходом второй схемы И, второй вход которой подключен к выходу первой схемы НЕ, выход генератора импульсов соединен со вторым входом четвертой схемы И и первым входом пятой схемы И, включены второй датчик механических колебаний, первый, второй и третий усилители с регулируемым коэффициентом усиления,вторая схема вычитания, квадратор, интегратор, индикатор, управляемый коммутатор,причем второй датчик механических колебаний через первый регулируемый усилитель подключен к первому входу второй схемы вычитания, ко второму входу второй схемы вычитания и ко второму входу управляемого коммутатора подключен выход второго усилителя, выход второй схемы вычитания подключен к входам второго регулируемого усилителя и квадратора, выход второго регулируемого усилителя подключен к первому входу управляемого коммутатора, выход квадратора подключен к входу интегратора, выход интегратора подключен к входам индикатора и третьего регулируемого усилителя, выход 4 20602005.09.30 третьего регулируемого усилителя подключен к управляющему входу управляемого коммутатора, выход которого подключен к входам первого компаратора и блока дифференцирования. На фиг. 1 приведена схема заявляемой полезной модели, на фиг. 2, 3 - эпюры, поясняющие ее работу. На фиг. 4 представлены зависимости скорости очистки от времени при использовании устройства-прототипа и заявляемой полезной модели. Обозначения на фиг. 1 следующие 1 - электромагнит 2 - усилитель мощности 3 - генератор импульсов, выполненный, например, на микросхеме 555 ЛАЗ 4 - управляемый аттенюатор, выполненный, например, на полевых транзисторах 5, 6 - первый и второй согласующие блоки, например усилители на микросхемах К 140 УД 7 7 - источник опорного напряжения, выполненный, например, на стабилитроне 8 - источник напряжения логической единицы 9 - датчик магнитного поля, например катушка индуктивности 10, 11 - первый и второй, соответственно, датчики механических колебаний, например пьезоэлементы 12, 13 - первый и второй, соответственно, усилители, выполненные, например, на микросхемах 140 УД 8 14 - амплитудный детектор 15, 16 - первая и вторая схемы вычитания, выполненные, например, на микросхемах 140 УД 7 17 - блок дифференцирования, например усилитель с отрицательной обратной связью,параллельно которому включен резистор 18, 19 - соответственно первый и второй компараторы, выполненные, например, на микросхемах 521 САЗ 20, 21, 22, 23, 24, 25 - соответственно первая, вторая, третья, четвертая, пятая и шестая схемы И, в качестве которых используются, например, микросхемы 555 ЛИЗ 26, 27 - соответственно первая и вторая схемы НЕ (инверторы), выполненные, например, на микросхемах 555 ЛН 1 28 - схема ИЛИ, выполненная, например, на микросхеме 555 ЛЛ 1 29 - схема И-НЕ, выполненная, например, на микросхеме 555 ЛАЗ 30, 31 - соответственно первый и второй счетчики импульсов, выполненные, например, на микросхемах 555 ИЕ 5 32 - цифровой компаратор, выполненный, например, на микросхеме 555 СП 1 33 - схема задержки, например последовательно соединенные 4 элемента И-НЕ (микросхемы 555 ЛАЗ) 34 - коммутатор, выполненный, например, на тиристоре в цепи питания реле 35, 36, 37 - соответственно первый, второй и третий усилители с регулируемым коэффициентом усиления, выполненные, например, на микросхемах К 140 УД 8 с переменными сопротивлениями в цепи обратной связи 38 - квадратор, выполненный, например, на микросхеме К 140 УД 8 и диодах Д 814 Д 39 - интегратор, выполненный, например, на микросхеме К 544 УД 1 40 - индикатор, например, стрелочный 41 - слой отложений 42 - очищаемая поверхность. Обозначения на фиг. 2 следующие вых - напряжения на выходе блоков 20, 21, 1, 13(35, 34), 18, 22, 23, 17, 19, 29, 23, 25, 32, изменяющиеся с течением времениза один рабочий цикл в начале очистки, когда форма выходных сигналов датчиков 10 и 11 одинакова. 20602005.09.30 Обозначения на фиг. 3 следующие вых - напряжения на выходе блоков 13, 35, 36(34), 38, 37, 23, 17, 19, 29, 23 (25), 32, изменяющиеся с течением времени , когда формы сигналов датчиков 10 и 11 существенно отличаются. Обозначения на фиг. 4 следующие- скорость очистки 0 - максимальное значение скорости очистки- текущее время 0 - время очистки поверхности изделия. Кривая 1 соответствует работе устройства-прототипа, кривая 2 - работе заявляемого устройства. Принцип работы устройства по фиг. 1 заключается в следующем. Для очистки поверхности изделия от отложений в ограниченном объеме материала изделия создают импульсное магнитное поле, которое, в свою очередь, создает магнитострикционный эффект, то есть упругую деформацию материала изделия. Эта деформация, распространяясь вдоль поверхности, разрушает находящийся на поверхности слой твердых отложений. Периодическое повторение деформации приводит к полному разрушению слоя отложений и его осыпанию с поверхности. Устройство-прототип осуществляет согласование параметров импульсного воздействия магнитного поля на поверхность очищаемого изделия с магнитными и частотными свойствами очищаемой поверхности, но не учитывает частотных свойств твердых отложений. Поэтому в процессе очистки происходит существенное уменьшение скорости очистки, что увеличивает время очистки и повышает энергозатраты. В предлагаемом устройстве путем организации дополнительной обратной связи устраняется этот недостаток. Устройство по фиг. 13 работает следующим образом. На первый вход первой схемы И 20 от источника напряжения 8 подается напряжение логической единицы. В связи с тем, что в это время и на входе схемы И-НЕ 29 также присутствует напряжение логической единицы, которое инвертируется первой логической схемой НЕ 26, на втором входе второй схемы И 21 присутствует напряжение логического нуля. На выходе цифрового компаратора 30 также действует напряжение логического нуля, которое инвертируется второй логической схемой НЕ 27 и через схему ИЛИ 28 подается на второй вход первой схемы И 20. В результате, на ее выходе возникает напряжение логической единицы, которое, по существу, и определяет длительность импульса, воздействующего на очищаемую от отложений 41 поверхность 42. Для этого напряжение с выхода первой схемы И 20 поступает на согласующий блок 5, где усиливается по амплитуде и посредством управляемого аттенюатора 4 подается на вход усилителя мощности 2, с помощью которого в обмотке электромагнита 1 возбуждается импульс тока, вызывая намагничивание материала поверхности 42 и ее деформацию. Эта деформация и производит очистку поверхности 42 от отложений 41. Датчики механических колебаний 10 и 11 воспринимают эту деформацию со стороны очищаемой поверхности 42 и слоя отложений 41 соответственно и превращают ее в электрические сигналы. Сигнал датчика 10 усиливается вторым усилителем 13, а сигнал датчика 11 усиливается первым усилителем с регулируемым коэффициентом усиления 35. Регулировка коэффициента усиления обеспечивает одинаковый уровень сигналов датчиков. С выхода второго усилителя 13 сигнал поступает на вторые входы управляемого коммутатора 34 и второй схемы вычитания 16. С выхода первого регулируемого усилителя 35 сигнал поступает на первый вход второй схемы вычитания 15. С выхода второй схемы вычитания 16 разностный сигнал поступает на вход квадратора 38 и подвергается квадратичному детектированию. С выхода квадратора 38 сигнал поступает на вход интегратора 39. На выходе интегратора 39 сигнал имеет вид постоянного напряжения, регистрируемого индикатором 40 и усиливаемого третьим усилителем с регулируемым коэффициентом усиления 37. Индикатор 40 служит для установки необходимого коэффициента усиления первого, второго и третьего регулируемых усилителей 35, 36, и 37 соответственно. Регулировкой усиления усилителя 36 добиваются сигнала, необходимого для срабатывания управляемого выходным сигналом второго регулируемого усилителя 36 коммутатора 34. В начале очистки адгезионная прочность отложений 41 велика и сигналы датчиков 6 20602005.09.30 механических колебаний 10 и 11 одинаковы. Поэтому на выходе второй схемы вычитания 16 и соответственно второго регулируемого усилителя 36 напряжение равно нулю. На выходе управляемого коммутатора 34 в этом случае действует сигнал, поступающий на второй вход коммутатора, вырабатываемый датчиком механических колебаний 10 и усиливаемый усилителем 13. Этот сигнал поступает с выхода коммутатора 34 на вход первого компаратора 18 и блока дифференцирования 17. По мере очистки адгезионная прочность твердых отложений уменьшается и сигнал датчика 11, отражающий частотные свойства твердых отложений 41, начинает существенно отличаться от частотных свойств очищаемой поверхности 42. Наиболее эффективным для разрушения отложений становится сигнал, соответствующий колебаниям в отложениях. Как только различие сигналов датчиков механических колебаний 10 и 11 становится существенно различным, на выходе второй схемы вычитания 16 появляется напряжение, которое возводится в квадрат квадратором 38, интегрируется интегратором 30 и усиливается до нужного уровня регулируемым усилителем 37. Это напряжение с выхода регулируемого усилителя 37 поступает на управляющий вход коммутатора 34 и переключает его выход на первый вход, на который через первый регулируемый усилитель 35 подается сигнал датчика механических колебаний 11, закрепленного на слое отложений 41. Этот сигнал с выхода коммутатора 34 подается на вход первого компаратора 18 и блока дифференцирования 17. Так как компаратор 18 сравнивает поступающий сигнал с нулевым потенциалом, то на его выходе возникает напряжение логической единицы, которое поступает на второй вход третьей схемы И 22, на первом входе которой присутствует напряжение логической единицы с выхода первой схемы И 20. В результате на первый вход четвертой схемы И 23 поступает сигнал логической единицы, и она начинает пропускать импульсы, вырабатываемые генератором импульсов 3, на вход первого счетчика импульсов 30, который их подсчитывает. Процесс продолжается до достижения сигналом датчика механических колебаний 10 или 11 стационарного значения. С появлением на выходе первого счетчика импульсов 30 цифрового кода на выходе цифрового компаратора 32 вырабатывается напряжение логической единицы, которое инвертируется второй схемой НЕ 27, и на ее выходе образуется сигнал логического нуля. Тем не менее, на втором входе первой логической схемы И 20 продолжает действовать сигнал логической единицы, подаваемый с выхода второй схемы И 21. Это следует из того, что на ее первом входе присутствует сигнал логической единицы с выхода первой схемы И 20, а на втором входе - сигнал логической единицы, вырабатываемый вторым компаратором 19, так как сигнал дифференцирующего блока 17 в это время больше нуля и сравнение происходит по нулевому значению, а сигнал с выхода второго компаратора 19 предварительно поступает на второй вход схемы И-НЕ 29, на первый вход которой поступает сигнал логической единицы от первой схемы И 20. Поэтому на выходе схемы И-НЕ 29 образуется сигнал логического нуля,который, инвертируясь первой схемой НЕ 26, попадает в виде логической единицы на второй вход второй схемы И 21. В момент достижения сигналом датчика механических колебаний 10 стационарного значения производная (то есть сигнал на выходе блока дифференцирования 17) становится равной нулю и на выходе второго компаратора 19 появляется сигнал логического нуля. Поэтому на выходе схемы И-НЕ 29 начинает действовать сигнал логической единицы, который инвертируется первой схемой НЕ 26 и поступает на второй вход второй схемы И 21 в виде логического нуля и посредством схемы ИЛИ 28 передается на второй вход первой схемы И 20, на выходе которой также возникает напряжение логического нуля, прекращая, в конечном итоге,действие импульса тока на электромагнит 1. Сигнал логического нуля с выхода первой схемы И 20 поступает на второй вход третьей схемы И 22 и передается затем на второй вход четвертой схемы И 23, тем самым прекращая счет импульсов первым счетчиком 30. Одновременно напряжение логической единицы с выхода схемы И-НЕ 29 передается на второй вход пятой схемы И 24, которая после этого начинает пропускать импульсы от генератора импульсов 3. 7 20602005.09.30 Эти импульсы поступают на первый вход шестой схемы И 25, на втором входе которой действует напряжение логической единицы по причине превышения показаний первого счетчика импульсов 30 над показаниями второго счетчика 31. Поэтому импульсы проходят и через шестую схему И 25 и подсчитываются вторым счетчиком 31 до тех пор, пока показания обоих счетчиков не сравняются. В этот момент на выходе цифрового компаратора 32 сигнал кратковременно принимает значение логического нуля, которое поступает на второй вход шестой схемы И 25, прекращая тем самым прохождение через нее импульсов генератора 3. Одновременно этот сигнал поступает на схему задержки 33 и спустя время задержки обнуляет показания обоих счетчиков, подготавливая их к следующему циклу работы. Этот же сигнал поступает также на вторую схему НЕ 27, которая его инвертирует и в виде логической единицы посредством схемы ИЛИ 28 подает на второй вход первой схемы И 20. В результате на ее выходе появляется напряжение логической единицы, которое, как и в предыдущем цикле, запускает в конечном итоге новый токовый импульс через электромагнит 1. Далее процесс периодически повторяется. Для поддержания оптимальной амплитуды импульсов через электромагнит 1 напряжение с выхода датчика магнитного поля 9 усиливается первым усилителем 12, детектируется амплитудным детектором 14 и поступает на первый вход схемы вычитания 15, на второй вход которой поступает эталонное напряжение от источника опорного напряжения 7. Разностное напряжение (напряжение ошибки) посредством согласующего блока 6 подается на управляющий вход управляемого аттенюатора 4, изменяя его коэффициент передачи и автоматически поддерживая амплитуду импульсов, приходящих от первой схемы И 20 посредством блоков 5, 4 и 2 к электромагниту 1 на заданном уровне. Очистка прекращается после потери акустического контакта твердых отложений с поверхностью, о чем свидетельствуют нулевые показания индикатора 40 после его включения. Таким образом, за счет введения дополнительной обратной связи параметры вырабатываемых предлагаемым устройством импульсов магнитного поля оказываются согласованными не только с магнитными и частотными свойствами очищаемого изделия, но и с частотными свойствами твердых отложений. В результате среднее значение скорости очистки от твердых отложений возрастает не менее чем в 1,21,3 раза (фиг. 4). Национальный центр интеллектуальной собственности. 220034, г. Минск, ул. Козлова, 20. 9
МПК / Метки
МПК: B08B 7/02
Метки: поверхности, ферромагнитных, материалов, очистки, изделий, устройство
Код ссылки
<a href="https://by.patents.su/9-u2060-ustrojjstvo-dlya-ochistki-poverhnosti-izdelijj-iz-ferromagnitnyh-materialov.html" rel="bookmark" title="База патентов Беларуси">Устройство для очистки поверхности изделий из ферромагнитных материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для образования уширений в скважине
Следующий патент: Упаковка для хранения и транспортировки яиц
Случайный патент: Люминесцирующее кварцевое стекло